用于样品分析的方法及设备

    公开(公告)号:CN1979126B

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN200610128908.6

    申请日:2006-09-01

    发明人: G·K·宾宁

    IPC分类号: G01N13/10 G12B21/08

    CPC分类号: G01Q20/04 G01Q30/04

    摘要: 本发明涉及用于分析样品(1)的方法,包括以下步骤:(i)通过安装在悬臂(5)上的至少一个探针(4)的尖端(3)接近所述样品(1)的区域;(ii)从通过安装在所述悬臂(5)上的所述至少一个探针(4)的所述尖端(3)接近的所述区域除去样品材料;以及(iii)传感与步骤(ii)中所述样品材料的去除相关的参数,其中重复步骤(i)到(iii),以促使除去所述样品(1)的至少一层。

    基于电磁场的碳纳米管AFM探针的制备方法

    公开(公告)号:CN101630536B

    公开(公告)日:2011-08-31

    申请号:CN200810012383.9

    申请日:2008-07-18

    IPC分类号: G12B21/08 B81C1/00

    CPC分类号: G01Q70/12

    摘要: 本发明涉及一种基于电磁场的碳纳米管AFM探针的制备方法,包括以下步骤:建立外加电场下溶液中碳纳米管的介电泳力理论模型;调节常规AFM探针和导电基底之间电压幅值或常规AFM探针和导电基底的间隙,控制常规AFM探针与导电基底间的场强;通过波形信号发生器在常规AFM探针和导电基底间施加交流电场;在光学显微镜监视下,滴加碳纳米管溶液到常规AFM探针和导电基底之间,直至浸没常规AFM探针针尖末端;静置5~50秒后,断开外加交流信号即完成。本发明方法易于控制,制造条件简单,成本低,并具有环保节能等特点。

    基于原子力显微探针为焊枪的纳米锡焊方法

    公开(公告)号:CN101224869B

    公开(公告)日:2011-06-08

    申请号:CN200810032739.5

    申请日:2008-01-17

    摘要: 本发明涉及一种纳米技术领域的基于原子力显微探针为焊枪的纳米锡焊方法,具体为:选择原子力显微探针、焊锡材料和焊接模式;采用原子力显微镜找到要焊接纳米元件,即对拟焊接点准确定位;在探针上蘸取焊锡后,原子力成像扫描找到原位即第二步中选择的纳米器件,并记录高度图像,缩小扫描的范围锁定在纳米元件要焊接的部位,在原子力显微镜探针上施加偏压,使探针接触到纳米元件表面,保持扫描,实施焊接,焊接完成后,去除偏压返回正常的原子力显微镜成像状态,检测焊接结果,并记录焊接结果;重在纳米元件上实施多处纳米焊接,并记录焊接的结果。本发明是对纳米元件实施的一种定位准确的、焊点尺寸可控的、自动化程度高的、普适性强的纳米“锡焊”技术。

    基于电磁场的碳纳米管AFM探针的制备方法

    公开(公告)号:CN101630536A

    公开(公告)日:2010-01-20

    申请号:CN200810012383.9

    申请日:2008-07-18

    IPC分类号: G12B21/08 B81C1/00

    CPC分类号: G01Q70/12

    摘要: 本发明涉及一种基于电磁场的碳纳米管AFM探针的制备方法,包括以下步骤:建立外加电场下溶液中碳纳米管的介电泳力理论模型;调节常规AFM探针和导电基底之间电压幅值或常规AFM探针和导电基底的间隙,控制常规AFM探针与导电基底间的场强;通过波形信号发生器在常规AFM探针和导电基底间施加交流电场;在光学显微镜监视下,滴加碳纳米管溶液到常规AFM探针和导电基底之间,直至浸没常规AFM探针针尖末端;静置5~50秒后,断开外加交流信号即完成。本发明方法易于控制,制造条件简单,成本低,并具有环保节能等特点。

    一种利用原子力显微镜的套刻对准方法及装置

    公开(公告)号:CN100541708C

    公开(公告)日:2009-09-16

    申请号:CN200610164888.8

    申请日:2006-12-07

    发明人: 李晓娜 韩立

    摘要: 一种利用原子力显微镜的套刻对准方法及装置,其方法包括以下步骤:(1)在第一层图形写入的同时写入套刻对准标记;(2)在第二层图形刻写之前对其工作区域扫描成像,根据扫描成像的结果对第二层图形结构的坐标进行修正;(3)以修正后的图形坐标刻写第二层图形结构;(4)多层图形结构的坐标均依据原子力显微镜扫描结果进行修正,从而完成套刻加工。应用上述套刻对准方法的装置,包括以压电陶瓷闭环定位系统作为扫描器的原子力显微镜、光学观测镜、机械调节平台与电压开关电路[8],电压开关电路[8]控制加工电压。本发明利用原子力显微镜自身的成像功能与压电陶瓷闭环定位系统[5]进行测量与定位,在不引进复杂的高精度光学对准设备的条件下可实现高精度的套刻加工。

    原子力显微分析法中用于检测高频力分量的扭转谐波悬臂

    公开(公告)号:CN101010751A

    公开(公告)日:2007-08-01

    申请号:CN200580029863.0

    申请日:2005-07-07

    IPC分类号: G12B21/02 G12B21/08

    CPC分类号: G01Q60/38 G01Q60/34

    摘要: 一种用于原子力显微分析法中的悬臂,包括:伸出臂,该伸出臂具有连接到基部部件的固定端和自由端,其中伸出臂具有第一形状和与第一形状相关的扭转轴;和从伸出臂接近自由端处突出的探针尖端,其中探针尖端位于从扭转轴偏移的位置。可选地,伸出臂具有第一形状,选择第一形状以调节选定扭转模式的扭转共振频率或基本模式的基本弯曲共振频率,使得扭转共振频率和基本弯曲共振频率具有整数比例。在这种方式下,扭转谐波悬臂在谐波频率下的扭转运动将被相应的扭转共振大大增强。

    原子力显微镜针尖清洗方法及装置

    公开(公告)号:CN1978073A

    公开(公告)日:2007-06-13

    申请号:CN200510126221.4

    申请日:2005-11-30

    发明人: 田丰 韩立 初明璋

    IPC分类号: B08B3/12 G12B21/08

    摘要: 一种原子力显微镜针尖清洗方法。其特征在于将探针下半部无针尖一端的背面涂敷少量指甲油,固定于清洗装置内。将放有探针的清洗装置于盛有清洗液的器皿中,将器皿放置于超声波洗涤槽中,低频超声10分钟。应用本发明方法的清洗装置,包括环状底座[1]和环状盖片[4]两部分,底座[1]上开有多个凹槽[2],凹槽[2]比探针基底稍宽,底座[1]和盖片[4]通过螺丝[3和5]固定。本发明所需设备简单,操作方便,并且能够有效的去除附着在探针针尖上的脏物,使污染后的针尖能够被再次利用。

    一种原子力显微镜的扫描探头

    公开(公告)号:CN1913043A

    公开(公告)日:2007-02-14

    申请号:CN200510086211.2

    申请日:2005-08-08

    IPC分类号: G12B21/08 G01N13/16

    摘要: 一种原子力显微镜的扫描探头,包括激光器1,反射镜2,反射镜3,四象限光电位置检测器4,微悬臂5,放大镜组件和CCD10,放大镜组件包括放大镜片和调焦镜筒8;放大镜片包括物镜7和目镜9,放大镜组件安装在带有针尖的微悬臂5正上方,调焦镜筒8固定在扫描探头壳体11的顶部,可调节伸缩,调焦镜筒8的下部和上部通过螺纹口分别连接物镜7和目镜9;目镜9上有C型接口与CCD10相连,CCD10的输出端从扫描探头外部接到电视机盒上,电视机盒再接到电脑上。在电脑监视器上开设观察窗口显示放大了的微悬臂及激光光点。本发明克服了完全依靠肉眼观察微小的激光光点和微悬臂的困难,和外置的体视放大镜相比,可避免移动镜头寻找微小目标的麻烦。