摘要:
Memory device comprising an array of resistive memory cells 1, which are arranged in columns and rows, and wherein each resistive memory cell 1 each is connected to a word line 2, to a bit line 3, and to a reference electrode 4. The word lines 2 are assigned to said rows and the bit lines 3 are assigned to said columns. The resistive state of the resistive memory cells 1 corresponds to a logical state thereof, and the memory device further comprises an evaluation device 6, which is coupled to the bit lines 3, for evaluating the resistive state of at least one of the resistive memory cells 1 during a reading operation. The respective resistive memory cell 1 is selected by addressing the word line 2 to which the resistive memory cell 1 is connected. The memory device furthermore comprises a charging device 5, which is coupled to the bit lines 3, and the charging device 5 is capable of charging the bit lines 3 to a pre-determined pre-reading bit line potential before carrying out a reading operation.
摘要:
The present invention refers to a method for writing data in a memory cell of a conductive bridging random access memory (CBRAM), whereby the CBRAM memory comprises a plate line, bit lines and memory cells, each memory cell comprises a programmable metallization cell (PMC), whereby the memory cells are connected with a respective bit line and the plate line, whereby a first, a second and a third bit line is arranged side by side, whereby data is written in a first memory cell by changing the resistance value of a first PMC cell of the first memory cell by applying a writing voltage to the first bit line that is connected with the first memory cell, whereby the adjacent second and third bit line that are connected with a second and a third memory cell are put at the same time to writing voltages corresponding to the data stored in the second and third memory cell, and data are written in the first, second and third memory cell during the same writing cycle.
摘要:
The present invention relates to a method for operating a programmable metallization cell (PMC) of a conductive bridging random access memory, whereby the CBRAM memory circuit comprises plate lines, bit lines and memory cells, each memory cell comprises a programmable metallization cell (PMC) and a switch, whereby a memory cell is arranged between a bit line and a plate line, whereby resistance values of the PMC memory cells are programmable by applying different voltages to the PMC memory cells by changing the voltage value on the bit line, whereby the voltage on the plate line is changed with respect to the voltage of the bit line for increasing a voltage drop on the PMC memory cell to assist the programming of the PMC memory cell. Furthermore, the present invention refers to an electrical circuit, comprising first lines, second lines, and PMC cells, each PMC cell comprising a programmable metallization with a solid electrolyte which is adapted to selectively develop and diminish a conductive path depending on the applied electrical field, whereby a PMC cell is arranged between a first and a second line, whereby multiple PMC cells are connected with the same first line; a writing unit is disposed that is configured to change a state of PMC cells to a programmed state by applying a program voltage to the PMC cells and to change the state of the PMC cell to an erased state by applying an erase voltage to the PMC cells; a voltage unit is disposed which is connected with the first line and configured to apply a first voltage to the first line according a writing or an erasing operation of the PMC cell that is connected with the first line to increase the voltage drop on the PMC cell to assist the writing and/or the erasing operation.
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Speicherbauelement (CBRAM) mit Speicherzellen (1) auf der Basis eines in seinem Widerstandswert änderbaren aktiven Festkörper-Elektroytmaterials (13), das, eingebettet zwischen einer unteren und oberen Elektrode (BE, TE) durch Anlegen eines geeigneten elektrischen Feldes zwischen diesen Elektroden zwischen einem Ein-Zustand mit einem geringen Widerstand und einem Aus-Zustand mit einem dem gegenüber hohen Widerstand schaltbar ist, das dadurch gekennzeichnet ist, dass parallel zum Festkörper-Elektrolytmaterial (13) zwischen den Elektroden (BE, TE) ein Widerstandsmaterial (10) eingebettet ist, und ein vorteilhaftes Herstellungsverfahren dafür.
摘要:
Die Erfindung betrifft eine resistive Speicheranordnung mit einem in Reihen und Spalten gegliederten Zellenfeld (A) aus resistiven Speicherzellen, die zur Ansteuerung mit einem Ansteuerelement (T) verbunden sind, und ist dadurch gekennzeichnet, dass jedes Ansteuerelement (T) gemeinsam mit n eine Speicherzelle (Z) bildenden Zellenwiderständen (Rc) verbunden ist, wobei die Zellenwiderstände insbesondere CBRAM-Widerstandselemente sind, sowie ein Schreib-, Lese- und Löschverfahren für eine mit CBRAM-Widerstandselementen realisierten resistiven Speicheranordnung.
摘要:
Bei einem insbesondere ferroelektrischen Halbleiter-Speicher mit einem differentiellen Schreib-/Leseverstärker (SA), der über Transfertransistoren (T) mit einem aus einer Bitleitung (BLi) und einer entsprechenden Referenzbitleitung (/BLi) bestehenden Bitleitungspaar verbunden ist zum Lesen und Schreiben von Daten aus und in den Speicherkondensator (MC), ist zur Steigerung der Genauigkeit der Bitleitungsreferenzspannung vorgesehen, dass eine Hauptreferenzbitleitung (/BL0) über ein Ladungs-Schaltelement (TL) mit einer Referenzspannung (VREF) verbunden ist, und dass zumindest eine weitere Referenzbitleitung (/BLi) über ein Ausgleichs-Schaltelement (TA) zum Ladungsausgleich zwischen den Referenzbitleitungen mit der Hauptreferenzbitleitung verbunden ist.
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Speicherbauelement (CBRAM) mit Speicherzellen (1) auf der Basis eines in seinem Widerstandswert änderbaren aktiven Festkörper-Elektroytmaterials (13), das, eingebettet zwischen einer unteren und oberen Elektrode (BE, TE) durch Anlegen eines geeigneten elektrischen Feldes zwischen diesen Elektroden zwischen einem Ein-Zustand mit einem geringen Widerstand und einem Aus-Zustand mit einem dem gegenüber hohen Widerstand schaltbar ist, das dadurch gekennzeichnet ist, dass parallel zum Festkörper-Elektrolytmaterial (13) zwischen den Elektroden (BE, TE) ein Widerstandsmaterial (10) eingebettet ist, und ein vorteilhaftes Herstellungsverfahren dafür.
摘要:
Die Erfindung betrifft eine resistive Speicheranordnung mit einem in Reihen und Spalten gegliederten Zellenfeld (A) aus resistiven Speicherzellen, die zur Ansteuerung mit einem Ansteuerelement (T) verbunden sind, und ist dadurch gekennzeichnet, dass jedes Ansteuerelement (T) gemeinsam mit n eine Speicherzelle (Z) bildenden Zellenwiderständen (Rc) verbunden ist, wobei die Zellenwiderstände insbesondere CBRAM-Widerstandselemente sind, sowie ein Schreib-, Lese- und Löschverfahren für eine mit CBRAM-Widerstandselementen realisierten resistiven Speicheranordnung.
摘要:
Bei einem insbesondere ferroelektrischen Halbleiter-Speicher mit einem differentiellen Schreib-/Leseverstärker (SA), der über Transfertransistoren (T) mit einem aus einer Bitleitung (BLi) und einer entsprechenden Referenzbitleitung (/BLi) bestehenden Bitleitungspaar verbunden ist zum Lesen und Schreiben von Daten aus und in den Speicherkondensator (MC), ist zur Steigerung der Genauigkeit der Bitleitungsreferenzspannung vorgesehen, dass eine Hauptreferenzbitleitung (/BL0) über ein Ladungs-Schaltelement (TL) mit einer Referenzspannung (VREF) verbunden ist, und dass zumindest eine weitere Referenzbitleitung (/BLi) über ein Ausgleichs-Schaltelement (TA) zum Ladungsausgleich zwischen den Referenzbitleitungen mit der Hauptreferenzbitleitung verbunden ist.
摘要:
The micro electronic device comprises a substrate 10 with a surface 12 and a plurality of storage elements 34, 38, 36 in serial connection formed at the surface 12 of the substrate 10, a plurality of transistors 18, 26, 28, each transistor 18, 26, 28 being connected parallel to one of the plurality of storage elements 34, 38, 36. Each storage element 34, 38, 36 comprises a storing material 38 between a first electrode 34 and a second electrode 36. A storing material 38 provides at least two different storing states with different electrical properties. The first electrode 34 comprises a first material and the second electrode 36 comprises a second material different from the first material. The plurality of storage elements 34, 38, 36 is oriented parallel to the surface 12 of the substrate 10.