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    A measuring probe, an apparatus and a method for label free attenuated reflection infrared spectroscopy
    14.
    发明公开
    A measuring probe, an apparatus and a method for label free attenuated reflection infrared spectroscopy 审中-公开
    Messsonde，Vorrichtung und Verfahren zur markierungsfreienabgeschwächtenReflexions-Infrarotspektroskopie

    公开(公告)号：EP3026426A1

    公开(公告)日：2016-06-01

    申请号：EP14003985.0

    申请日：2014-11-26

    Applicant: Universität Stuttgart

    Inventor： Körner, Klaus ,  Claus, Daniel ,  Herkommer, Alois ,  Osten, Wolfgang

    IPC: G01N21/552 ,  G01N21/85 ,  G01N21/43

    CPC classification number: A61B5/0086 ,  A61B5/0035 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/4836 ,  A61B5/6848 ,  A61B2562/0238 ,  A61N2005/0612 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0213 ,  G01J3/42 ,  G01N21/552 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/434

    Abstract: The present invention relates to a measuring probe for infrared spectroscopy, said measuring probe having an elongated form with a first end for coupling and decoupling infrared light into and out of the measuring probe and a second end. The measuring probe comprises an ATR prism arranged at the second end of the measuring probe. The ATR prism has at least one first surface having at least one measuring portion configured to be brought in optical contact with a measured object, at least one second surface having at least one reflective portion, and a cutting portion (53; 54) for cutting through the measured object, said cutting portion having a cutting tip or cutting blade with a cutting angle of equal to or less than 60°. The ATR prism is configured so that at least a portion of the infrared light entering the measuring probe undergoes an attenuated total reflection at the least one measuring portion of the first surface, at least a portion of the totally reflected light is reflected back towards the first surface by the at least one reflective portion of the second surface, and at least a portion of the light reflected back by the at least one reflective portion of the second surface undergoes an attenuated total reflection at the at least one measuring portion of the first surface and is decoupled from the ATR prism.
    The invention relates further to an apparatus for infrared spectroscopy comprising the measuring probe and a method for infrared spectroscopy.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于红外光谱的测量探针，所述测量探针具有细长形式，其具有第一端，用于将红外光耦合和分离出测量探针和从测量探针中分离出来以及第二端。 测量探头包括布置在测量探头第二端的ATR棱镜。 所述ATR棱镜具有至少一个第一表面，所述至少一个第一表面具有至少一个测量部分，所述至少一个测量部分被配置为与所测量的物体进行光学接触，至少一个第二表面具有至少一个反射部分，以及切割部分（53; 54） 通过测量对象，所述切割部分具有切割角度等于或小于60°的切割尖端或切割刀片。 ATR棱镜被配置为使得进入测量探针的红外光的至少一部分在第一表面的至少一个测量部分处经历衰减的全反射，全反射光的至少一部分被反射回第一 由第二表面的至少一个反射部分表面，并且由第二表面的至少一个反射部分反射回的光的至少一部分在第一表面的至少一个测量部分处经历衰减的全反射 并与ATR棱镜分离。 本发明还涉及一种用于红外光谱的装置，其包括测量探针和用于红外光谱的方法。

    KOMPAKTES SYSTEM MIT HOHER HOMOGENITÄT DES STRAHLUNGSFELDS
    15.
    发明公开
    KOMPAKTES SYSTEM MIT HOHER HOMOGENITÄT DES STRAHLUNGSFELDS 有权
    辐射场的均匀性高紧凑的系统

    公开(公告)号：EP2974747A3

    公开(公告)日：2016-04-13

    申请号：EP15175564.2

    申请日：2013-11-14

    Applicant: SCHOTT AG

    Inventor： Blechschmidt, Jörg ,  Kluge, Michael ,  Plapper, Volker

    IPC: A61L2/10 ,  A61L9/20 ,  C02F1/32 ,  F24D5/08 ,  B01D53/00 ,  G01J3/02

    CPC classification number: A61L2/10 ,  A61L9/20 ,  B01D53/007 ,  B01D2259/804 ,  C02F1/325 ,  C02F2103/026 ,  C02F2103/04 ,  C02F2103/32 ,  C02F2201/3222 ,  C02F2201/3227 ,  C02F2201/3228 ,  C02F2303/04 ,  F24D19/0092 ,  G01J3/0202

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein UV-Desinfektionssystem zur Behandlung von Gasen und/oder Flüssigkeiten mit UV-Strahlung, umfassend zumindest ein optisches System in Form einer UV-Lichtquelle sowie einen Reaktor, wobei der Reaktor die Form eines zylindrischen Hohlkörpers aufweist, der Seitenflächen, ein erstes die Seitenflächen verbindendes Teil oder Abschlussteil, gegebenenfalls ein weiteres die Seitenflächen verbindendes Teil oder Eintrittsteil, sowie einen zur Vorder- und Rückseite offenen Innenraum umfasst, durch den das Medium strömt oder in dem es vorliegt, wobei der Reaktor, der bevorzugt ein Durchflussrektor ist, zumindest teilweise in Form eines Reflektors ausgebildet ist, der vom oder für das optische System ausgesandte Strahlung in den Innenraum des Reaktors reflektiert, wobei der Reaktor in zwei Funktionsbereiche unterteilt ist, einen ersten Funktionsbereich F1, welcher dem mindestens einen optischen System am nächsten liegt, und einen zweiten Funktionsbereich F2, welcher von dem mindestens einen optischen System weiter entfernt angeordnet ist als der erste Funktionsbereich F1, wobei sich im Betriebszustand des Systems Strahlung im ersten Funktionsbereich im Wesentlichen ungehindert ausbreiten kann und im zweiten Funktionsbereich im Wesentlichen Überlagerungen der Strahlung vorliegen und
    a) im ersten Funktionsbereich F1 des Reaktors der Abstand zwischen den sich gegenüberliegenden Seitenflächen des Reaktors sich mit zunehmender Entfernung zu dem mindestens einen optischen System vergrößert, bevorzugt sich kontinuierlich vergrößert und das mindestens eine optische System außerhalb des Reaktors angeordnet ist;
    oder
    b) der Reaktor mindestens zwei zweite Funktionsbereiche aufweist, wobei im zweiten Funktionsbereich F2 jeweils der Abstand zwischen den sich gegenüberliegenden Seitenflächen des Reaktors mit zunehmender Entfernung zu dem mindestens einen optischen System, vorzugsweise kontinuierlich, abnimmt und das mindestens eine optische System innerhalb des Reaktors angeordnet ist.

    ALIGNMENT DEVICE AND TRANSMITTER/RECEIVER SYSTEM WITH TWO ANGULAR DEGREES OF FREEDOM
    16.
    发明公开
    ALIGNMENT DEVICE AND TRANSMITTER/RECEIVER SYSTEM WITH TWO ANGULAR DEGREES OF FREEDOM 审中-公开
    AUSRICHTUNGSVORRICHTUNG UND SENDER /EMPFÄNGER-MIT ZWEI WINKELFREIHEITSGRADEN

    公开(公告)号：EP2982948A2

    公开(公告)日：2016-02-10

    申请号：EP15179852.7

    申请日：2015-08-05

    Applicant: Servomex Group Limited

    Inventor： GASKIN, Ian C ,  HOBBY, James D ,  KOVACICH, Richard P ,  LOPEZ, Martin ,  TERRY, Graham R

    IPC: G01J3/02 ,  G02B7/00

    CPC classification number: G02B7/003 ,  G01B11/272 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/42 ,  G01N21/39 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/068 ,  G02B7/004 ,  G02B7/023 ,  G02B27/0006 ,  G02B27/62

    Abstract: An alignment device having two angular degrees of freedom is provided. The alignment device is adjustable such that it is suitable for aligning a first apparatus with respect to a second apparatus. The first apparatus may emit one or more of electromagnetic waves, acoustic waves and matter towards the second apparatus and for detection by the second apparatus. The first and second apparatuses may be disposed in a harsh environment such as is found in the vicinity of an industrial process stack. In some embodiments the first apparatus is a laser, preferably a tunable diode laser, and the second apparatus is a receiver incorporating a detector. In these embodiments the apparatuses may be used to perform laser absorption spectroscopy on a process gas flowing through an industrial process stack.

    Abstract translation: 提供具有两个角度自由度的对准装置。 对准装置是可调节的，使得其适于相对于第二装置对准第一装置。 第一装置可以向第二装置发射​​一个或多个电磁波，声波和物质，并由第二装置发射​​。 第一和第二装置可以设置在诸如在工业过程堆栈附近发现的恶劣环境中。 在一些实施例中，第一装置是激光器，优选地是可调谐二极管激光器，并且第二装置是包含检测器的接收器。 在这些实施例中，这些装置可用于对流过工业过程堆叠的工艺气体执行激光吸收光谱。

    SPECTROSCOPE
    18.
    发明公开
    SPECTROSCOPE 有权
    分光镜

    公开(公告)号：EP2743656A1

    公开(公告)日：2014-06-18

    申请号：EP12817232.7

    申请日：2012-05-28

    Applicant: Hamamatsu Photonics K.K.

    Inventor： YOKINO, Takafumi ,  SHIBAYAMA, Katsumi ,  HIROSE, Masaki ,  KATO, Katsuhiko

    IPC: G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0291

    Abstract: A spectroscope 1A comprises a package 2 provided with a light entrance part 6, a plurality of lead pins 8 penetrating through a support part 4 opposing the light entrance part 6 in the package 2, and a spectroscopic module 3A supported on the support part 4 within the package 2. The spectroscopic module 3A has a light detection unit 20 provided with a light transmission part 22 for transmitting therethrough light L1 incident thereon from the light entrance part 6 and a spectroscopic unit 30, secured to the light detection unit 20 so as to be arranged on the support part 4 side of the light detection unit 20, including a spectroscopic part 35 for spectrally resolving the light L1 transmitted through the light transmission part 22 while reflecting the light to a light detection part 26. The lead pins 8 are fitted into fitting parts 29 provided with the light detection unit 20 and electrically connected to the light detection part 26.

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