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21.发明公开
公开(公告)号：EP2068134A2
公开(公告)日：2009-06-10
申请号：EP09156127.4
申请日：2001-11-03
Applicant: Gesellschaft zur Förderung angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik und Spektroskopie e.V. , GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER SPEKTROCHEMIE UND ANGEWANDTEN SPEKTROSKOPIE E.V.
Inventor： Florek, Stefan , Okruss, Michael , Becker-Ross, Helmut
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/06 , G01J3/1809 , G01J3/28 , G01J2003/2866
Abstract: Ein Verfahren zur Untergrundbestimmung und- Korrektur von breitbandigem Untergrund, ist gekennzeichnet durch die Schritte: Glätten der aufgenommenen Spektralkurve; Bestimmen aller Werte der ursprünglichen Kurve, deren Wert über dem Wert der geglätteten Kurve liegt, und Reduzierung dieser Werte auf den Wert der geglätteten Kurve; wenigstens zweifaches Wiederholen der Schritte und Subtraktion der auf diese Weise erhaltenen Untergrundkurve von der ursprünglichen Kurve. Das Glätten der Kurve kann mittels Moving Average erfolgen. Die Breite des Moving Average kann das Doppelte einer durchschnittlichen Linienbreite einer Referenzlinie betragen.
Abstract translation: 梯形光谱仪（10）具有用于设置光谱仪的光学部件的位置的设置装置，用于在输出平面（72）内的光谱线的位置调整，其包含具有图像元素的二维阵列的表面检测器 ，例如 CCD检测器，用于梯形图谱的波长校准。 该设置装置可以被计算机控制，并且包括至少一个被提供有调节设定电压的压电元件。 还包括以下独立权利要求：（a）梯级光谱仪中梯形光谱的转换的补偿方法; （b）用于确定电子表格检测器的装箱区域的方法; （c）梯形图谱的波长校准方法; （d）背景检测和宽带背景校正的方法。
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公开(公告)号：EP1783468A3
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：EP07100392.5
申请日：2001-11-03
Applicant: Gesellschaft zur Förderung der Analytischen Wissenschaft e.V. , Gesellschaft zur Förderung angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik und Spektroskopie e.V.
Inventor： Florek, Stefan , Okruss, Michael , Becker-Ross, Helmut
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/06 , G01J3/1809 , G01J3/28 , G01J2003/2866
Abstract: Ein Verfahren zur Wellenlängenkalibrierung von Echellespektren, bei denen sich die Wellenlängen auf eine Mehrzahl von Ordnungen verteilen, ist gekennzeichnet durch die Schritte: Aufnehmen eines linienreichen Referenzspektrums mit bekannten Wellenlängen für eine Vielzahl der Linien, Bestimmen der Lage einer Vielzahl von Peaks des Referenzspektrums in dem aufgenommenen Spektrum, Auswählen von wenigstens zwei ersten Linien mit bekannter Ordnung, Lage und Wellenlänge, Bestimmen einer Wellenlängenskala für die Ordnung, in welcher die bekannten Linien liegen, durch eine Fitfunktion λ m (x), Bestimmen einer vorläufigen Wellenlängenskala λ m±1 (x) für wenigstens eine benachbarte Ordnung m±1 durch Addition/Subtraktion einer Wellenlängendifferenz Δλ FSR , die einem freien Spektralbereich entspricht nach λ m±1 (x) = λ m (x) ± Δλ FSR , mit Δλ FSR =λ m (x)/m, Bestimmen der Wellenlängen von Linien in dieser benachbarten Ordnung m±1 mittels der vorläufigen Wellenlängenskala λ m±1 (x), Ersetzen der vorläufigen Wellenlänge von wenigstens zwei Linien durch die nach Schritt (a) vorgegebene Referenzwellenlänge dieser Linien, und Wiederholen der Schritte (d) bis (g) für wenigstens eine weitere benachbarte Ordnung.
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公开(公告)号：EP1371957B1
公开(公告)日：2008-01-09
申请号：EP02291455.0
申请日：2002-06-11
Applicant: Jobin Yvon S.A.S.
Inventor： Ukon, Juichiro
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/0243 , G01J3/06 , G01J2003/2866
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公开(公告)号：EP1474666B1
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：EP02701275.6
申请日：2002-02-13
Inventor： SCHENK, Harald , GRUEGER, Heinrich
IPC: G01J3/06
CPC classification number: G01J3/06
Abstract: The invention relates to a spectrometer, which comprises a suspension mechanism (3) for its dispersive element (2), said suspension element pretensioning the spectrometer in an idle position, in addition to a deflecting device, which retains the dispersive element (2) in a deflected position, in such a way that a balance of forces occurs between the retaining force and the pretensioning force. This permits the dispersive element (2) to constantly return to the position defined by the retaining force after impacts or vibrations. An inventive spectrometer therefore comprises a dispersive element (2) and a suspension mechanism (3) for bearing the dispersive element (2) and for pretensioning the latter in an idle position using a pretensioning force, if the dispersive element (2) is in a deflected position. A control device (7) controls a retaining device (6a, 6b), to vary the deflected position, so that different spectral components can be recorded by a detector (9) of the spectrometer.
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公开(公告)号：EP1511917A1
公开(公告)日：2005-03-09
申请号：EP03734390.2
申请日：2003-06-04
Applicant: BAKER HUGHES INCORPORATED
Inventor： DIFOGGIO, Rocco , WALKOW, Arnold , BERGREN, Paul
CPC classification number: G01J3/26 , E21B47/102 , E21B49/08 , G01J3/0202 , G01J3/0262 , G01J3/06 , G01J3/433 , G01N21/0317 , G01N21/3504 , G01N21/3577 , G01N21/359 , G01N2021/855
Abstract: The present invention provides a method and apparatus incorporating a spinning, oscillating or stepping optical interference filter (109) to change the angle at which light (102) passes through the filters after passing through a sample (105) under analysis downhole. As each filter is tilted, the color or wavelength of light passed by the filter changes. Black plates are placed between the filters to isolate each filter's photodiode. The spectrometer of the present invention is suitable for use with a wire line formation tester to provide supplemental analysis and monitoring of sample clean up. The present invention is also suitable for deployment in a monitoring while drilling environment. The present invention provides a high resolution spectometer which enables quantification of a crude oil's percentage of aromatics, olefins, and saturates to estimate a sample's gas oil ratio (GOR). Gases such as CO2 are also detectable. The percentage of oil-based mud filtrate contamination in a crude oil sample can be estimated with the present invention by using a suitable training set and chemometrics, a neural network, or other type of correlation method.
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Patent Agency Ranking26.发明公开INTERFERENCE FILTER TRANSMISSION WAVELENGTH SCANNING PHOTOMETER 有权WELLENLÄNGENABTASTENDES光度计传输干扰滤波器
公开(公告)号：EP1184662A4
公开(公告)日：2004-09-08
申请号：EP01906343
申请日：2001-02-27
Applicant: WATANABE ATSUO
Inventor： WATANABE ATSUO
CPC classification number: G01J3/06 , G01J3/12 , G01J3/26 , G01N21/31 , G01N2021/317
Abstract: An interference filter transmission wavelength scanning photometer wherein the angle of inclination of an interference filter (3) is periodically varied, the wavelength of the light to be transmitted is modulated with the periodical variation centered at the maximum absorption wavelength of the component to be measured, the variation of the intensity of the light transmitted through a sample is extracted by an infrared sensor (11) as an electrical signal, the time between the rise and fall zero cross points of the AC component of the electrical signal is determined by a microprocessor (16), the ratio (full period - 2 x half period)/(full period) is calculated from the full and half periods determined from the determined time, and the concentration of the component to be measured is determined from the variation of the result of the calculation of the ratio, thereby quantitatively determining the component without being influenced by the disturbance coexistent components.
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公开(公告)号：EP1430279A1
公开(公告)日：2004-06-23
申请号：EP02757417.7
申请日：2002-08-27
Applicant: Respironics Inc.
Inventor： RUSSELL, James T.
IPC: G01J3/18
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/06 , G01J3/18 , G01N21/3504
Abstract: A robust, compact spectrometer apparatus for determining respective concentrations or partial pressures of multiple gases in a gas sample with single as well as multiple and even overlapping absorption or emission spectra that span a wide spectral range. Embodiments may include at least a scanning mirror or diffraction grating (46) and a beam splitter (44) for dviding and dispersing a collimated input beam (40) into plural bands may include, for example, infrared bands of 3 to 5 micrometers and 7 to 10 micrometers.
Abstract translation: 用于确定气体样品中多种气体的相应浓度或分压的强健紧凑的光谱仪装置，具有跨越宽光谱范围的单一以及多重和甚至重叠的吸收或发射光谱。 实施例可以包括用于将准直输入光束（40）分散和分散到多个带中的至少一个扫描镜或衍射光栅（46）和分束器（44）可以包括例如3至5微米的红外带和7 到10微米。
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公开(公告)号：EP0810424B1
公开(公告)日：2004-03-17
申请号：EP97303718.7
申请日：1997-05-30
Applicant: Jobin Yvon Inc.
Inventor： Zhou, Andy , Aubry, Thierry , Belsky, James , Rebello, Jagdish , Slutter, Steven , Katzenberger, Joseph
CPC classification number: G01J3/06
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公开(公告)号：EP1371957A1
公开(公告)日：2003-12-17
申请号：EP02291455.0
申请日：2002-06-11
Applicant: Jobin Yvon S.A.
Inventor： Ukon, Juichiro
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/0243 , G01J3/06 , G01J2003/2866
Abstract: The present invention concerns a spectrometer comprising means for producing a parallel beam from a light source whose spectrum is to be measured and directing it to an orientable grating (10) which produces a diffracted beam, means for focusing said diffracted beam to a detector (18) which measures the power of a selected line of the spectrum (1), said means comprising a reflector (12), and means for measuring the wavelength of the selected line.
The means for measuring the wavelength comprise a reference light source producing a reference spectrum (3), comparison means for comparing the wavelength of the measured reference spectrum (1) with the stored reference spectrum (3), means for rotating the grating (10) providing a coarse positioning of the diffracted beam relatively to the detector (18) and measuring the grating position, and means for rotating the reflector (12) providing a fine positioning of the diffracted beam relatively to the detector (18) and measuring the reflector (12) position.Abstract translation: 本发明涉及一种光谱仪，包括用于从光源产生平行光束的装置，其光谱将被测量并将其引导到产生衍射光束的可定向光栅（10），用于将所述衍射光束聚焦到检测器（18 ），其测量所述光谱（1）的选定行的功率，所述装置包括反射器（12），以及用于测量所选择的线的波长的装置。 用于测量波长的装置包括产生参考光谱的参考光源（3），用于将测量的参考光谱（1）的波长与存储的参考光谱（3）进行比较的比较装置， 光栅（10）相对于检测器（18）提供衍射光束的粗略定位并测量光栅位置，以及用于旋转反射器（12）的装置，其提供相对于检测器（18）的衍射光束的精细定位，以及 测量反射器（12）的位置。
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