摘要:
Das Testen integrierter Schaltungen, insbesondere von Speicherchips des Typs DDR SDRAM, erfolgt in paralleler Weise. Um zu vermeiden, daß die Schaltungen im Testbetrieb gegeneinander treiben, wird ein bereits ohnehin mit einem Kanal eines Testautomaten verbundener Eingangsanschluß (10) mit Schaltmitteln (30) verbunden, durch die die Ausgangstreiber in Abhängigkeit vom am Eingangsanschluß (10) zuführbaren Steuersignal abschaltbar sind. Die Schaltmittel (30) enthalten vorzugsweise einen Demultiplexer (31) sowie einen Multiplexer (32). Der Demultiplexer ist durch ein neben dem Teststeuersignal (TMCOMP) zusätzlich erzeugtes Teststeuer (TMRDIS) ansteuerbar. Der Eingangsanschluß (10) ist im Testbetrieb ohnehin mit einem Testerkanal verbunden, so daß kein zusätzlicher externer Aufwand entsteht.
摘要:
Zur Programmierung der Verzögerungszeit eines Signalpfads (1, 2), insbesondere in DRAMs, umfaßt die Schaltungsanordnung zwei eingangsseitig parallel ansteuerbare Signalstrecken (3, 4) mit unterschiedlicher Verzögerungszeit, die über einen Multiplexer auf den Ausgangsanschluß (2) schaltbar sind. Eine Auswahlschaltung (5) umfaßt zwei zwischen die Versorgungsspannung (VDD, VSS) geschaltete Signalstrecken mit zwei in Reihe geschalteten komplementären Transistoren (511, 512; 521, 522) sowie sourceseitigen programmierbaren Elementen. Die Transistoren sind von komplementären Steuersignalen (HSPEED, bHSPEED) ansteuerbar. Dadurch wird eine flexible Programmierung der Verzögerungszeit bei geringem Schaltungsaufwand ermöglicht.
摘要:
Ein integrierter Speicher weist ein Speicherzellenfeld (5) mit Spaltenleitungen (BL) und Zeilenleitungen (WL) auf. Eine Zeilenzugriffssteuerung (2) dient zur Aktivierung einer der Zeilenleitungen (WL) und zur Steuerung eines Deaktivierungsvorgangs. Ein Eingang (11) einer Steuereinheit (1) ist mit einem Signalanschluß für ein Signal (CLAT) verbunden, das bei einem Lesezugriff auf eine der Speicherzellen (MC). den Beginn einer auf ein Taktsignal (CK) synchronisierten Datenausgabe nach außerhalb des Speicherzellenfeldes (5) festlegt. Das Signal (CLAT) ist dabei abhängig von einer Betriebsfrequenz des Speichers einstellbar. Ein Ausgangssignal (A) der Steuereinheit (1) dient zum Auslösen des Deaktivierungsvorgangs einer der Zeilenleitungen (WL) nach einem Schreibzugriff. Dadurch ist bei einem Schreibzugriff ein vergleichsweise hoher Datendurchsatz auch bei unterschiedlichen Betriebsfrequenzen des integrierten Speichers ermöglicht.
摘要:
Ein integrierter Speicher weist Speicherzellen (MC) auf, die jeweils mit einer Zeilenleitung (WL) zur Auswahl einer der Speicherzellen (MC) und mit einer Spaltenleitung (BL) zum Auslesen oder Schreiben eines Datensignals (DA) verbunden sind. Eine Zeilenzugriffssteuerung (2) dient zur Aktivierung einer der Zeilenleitungen (WL) für die Auswahl einer der Speicherzellen (MC) und zur Steuerung eines Vorladevorgangs zur Vorladung einer der Zeilenleitungen (WL). Ein Vorladebefehl (VB) leitet einen Vorladevorgang ein. Der Vorladevorgang für eine aktivierte Zeilenleitung (WLk) wird durch die Zeilenzugriffssteuerung (2) ausgelöst, wenn das Auslesen oder Schreiben eines Datensignals (DA) beendet ist und wenn eine festgelegte Zeitspanne (tmin), in der die Zeilenleitung (WLk) mindestens zu aktivieren ist, seit der Aktivierung verstrichen ist. Ein Vorladevorgang der aktivierten Zeilenleitung (WLk) wird dadurch in selbstjustierende Weise gesteuert.
摘要:
Ein integrierter Speicher weist Speicherzellen (MC) auf, die jeweils mit einer Zeilenleitung (WL) zur Auswahl einer der Speicherzellen (MC) und mit einer Spaltenleitung (BL) zum Auslesen oder Schreiben eines Datensignals (DA) verbunden sind. Eine Zeilenzugriffssteuerung (2) dient zur Aktivierung einer der Zeilenleitungen (WL) für die Auswahl einer der Speicherzellen (MC) und zur Steuerung eines Vorladevorgangs zur Vorladung einer der Zeilenleitungen (WL). Ein Vorladebefehl (VB) leitet einen Vorladevorgang ein. Der Vorladevorgang für eine aktivierte Zeilenleitung (WLk) wird durch die Zeilenzugriffssteuerung (2) ausgelöst, wenn das Auslesen oder Schreiben eines Datensignals (DA) beendet ist und wenn eine festgelegte Zeitspanne (tmin), in der die Zeilenleitung (WLk) mindestens zu aktivieren ist, seit der Aktivierung verstrichen ist. Ein Vorladevorgang der aktivierten Zeilenleitung (WLk) wird dadurch in selbstjustierende Weise gesteuert.
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Das Testen integrierter Schaltungen, insbesondere von Speicherchips des Typs DDR SDRAM, erfolgt in paralleler Weise. Um zu vermeiden, daß die Schaltungen im Testbetrieb gegeneinander treiben, wird ein bereits ohnehin mit einem Kanal eines Testautomaten verbundener Eingangsanschluß (10) mit Schaltmitteln (30) verbunden, durch die die Ausgangstreiber in Abhängigkeit vom am Eingangsanschluß (10) zuführbaren Steuersignal abschaltbar sind. Die Schaltmittel (30) enthalten vorzugsweise einen Demultiplexer (31) sowie einen Multiplexer (32). Der Demultiplexer ist durch ein neben dem Teststeuersignal (TMCOMP) zusätzlich erzeugtes Teststeuer (TMRDIS) ansteuerbar. Der Eingangsanschluß (10) ist im Testbetrieb ohnehin mit einem Testerkanal verbunden, so daß kein zusätzlicher externer Aufwand entsteht.