Radiation-sensitive composition, and a method of forming a photoresist pattern

    公开(公告)号:JP5333227B2

    公开(公告)日:2013-11-06

    申请号:JP2009534394

    申请日:2008-09-26

    CPC classification number: G03F7/0397 G03F7/0045 G03F7/2041

    Abstract: A radiation-sensitive composition includes a polymer (A) which includes a repeating unit (1) shown by the following formula (1) and a repeating unit (2) shown by the following formula (2), and a radiation-sensitive acid generator (B). wherein R1 is a methyl group, R2 is a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, and R3 is a linear or branched alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and n is an integer from 1 to 5. The composition is useful as a chemically-amplified resist having excellent resolution performance and exhibiting low LWR, low PEB temperature dependency, excellent pattern collapse resistance, and low defect-incurring properties.

    Resist pattern for forming a radiation-sensitive resin composition

    公开(公告)号:JP5035466B1

    公开(公告)日:2012-09-26

    申请号:JP2011202133

    申请日:2011-09-15

    CPC classification number: G03F7/20 G03F7/0046 G03F7/0397 G03F7/2041 G03F7/325

    Abstract: 【課題】本発明の目的は、感度を十分に満足し、かつEL、DOF、CDU及びMEEFに優れる感放射線性樹脂組成物を提供することである。
    【解決手段】本発明は、有機溶媒が80質量%以上の現像液を用いるレジストパターン形成用感放射線性樹脂組成物であって、上記感放射線性樹脂組成物が、[A]酸解離性基を有する重合体、及び[B]感放射線性酸発生体を含有し、かつ上記有機溶媒で現像した場合のレジスト感度曲線から算出されるコントラスト値γが、5.0以上30.0以下であることを特徴とするレジストパターン形成用感放射線性樹脂組成物である。 上記有機溶媒は、炭素数3〜7のカルボン酸アルキルエステル及び炭素数3〜10のジアルキルケトンからなる群より選択される少なくとも1種の有機溶媒であることが好ましい。
    【選択図】図1

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