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公开(公告)号：KR20210034263A
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：KR1020190115966A
申请日：2019-09-20
Applicant: 한국기초과학지원연구원
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/55 , G02B17/0808 , G02B7/003
Abstract: 본 발명에 따른 자외선 현미경용 대물렌즈는 피검체의 표면 검사를 위한 자외선 현미경에 구성될 수 있다. 여기에서, 자외선 현미경용 대물렌즈는 광축을 중심으로 정렬되어 구성된 부경; 및 중앙에 관통공이 형성되는 주경;을 포함하여 구성되되, 상기 부경은, 상기 자외선 현미경에 구성된 자외선 광원으로부터 출력되며 상기 주경의 관통공을 통과하여 입사되는 입사광을 향해 볼록형 반사면이 구성되고, 상기 주경은, 상기 부경으로부터 반사되는 입사광을 향해 오목형의 비구면 반사면이 구성되어, 상기 부경으로부터 반사되는 입사광을 피검체의 표면에 집속시키도록 구성되고, 상기 자외선 광원과 상기 부경의 광경로 사이에 구성되어, 상기 자외선 광원에서 출력되는 출력광의 직경을 변경시켜 상기 입사광을 부경으로 출력하는 콜리메이션부;를 더 포함하여 구성된다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR20210030531A
公开(公告)日：2021-03-18
申请号：KR1020190111397A
申请日：2019-09-09
Applicant: 한국기계연구원 , 한국기초과학지원연구원
Abstract: 본 발명은 진공챔버 외부에 배치되는 홀더의 콤팩트한 구조를 만족하면서도 진공챔버 내부의 진공압이 홀더 측으로 누설되는 것을 차단할 수 있는 전자현미경의 샘플홀더 기밀장치를 제공함에 있다. 이를 위한 본 발명은 진공챔버에 결합되는 가이드컬럼; 및 샘플이 마련되는 팁이 구비되고, 상기 가이드컬럼을 관통하여 상기 팁이 상기 진공챔버의 내측으로 삽입되는 홀더;를 포함하고, 상기 가이드컬럼의 내면에 결합되고, 상기 홀더의 외면을 접촉 지지하며, 상기 진공챔버 내부의 진공압이 상기 가이드컬럼 및 상기 홀더 사이로 누설되는 것을 차단하는 기밀커넥터;를 더 포함하는 특징을 개시한다.
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公开(公告)号：KR20210027671A
公开(公告)日：2021-03-11
申请号：KR1020190107503A
申请日：2019-08-30
Applicant: 전남대학교산학협력단 , 한국기초과학지원연구원
IPC: H01M4/139 , H01M4/04 , H01M4/13 , H01M4/136 , H01M4/1397 , H01M4/38 , H01M4/58 , H01M4/62 , H01M4/66 , H01M10/052
CPC classification number: H01M4/139 , H01M4/0409 , H01M4/0416 , H01M4/13 , H01M4/136 , H01M4/1397 , H01M4/38 , H01M4/5815 , H01M4/62 , H01M4/666 , H01M4/667
Abstract: 본 발명은, a) 글루코즈, 멜라민, 시아누르산 및 용매를 혼합하여 혼합용액을 제조하는 단계; b) 상기 혼합용액으로부터 복합체 전구체를 회수하는 단계; c) 상기 복합체 전구체를 전극 구조체로 가공하는 단계; 및 d) 상기 전극 구조체를 황이 포함된 침지액에 침지시키는 단계; 를 포함하고, 상기 글루코즈는 상기 멜라민 및 시아누르산의 총 중량을 기준으로 0.1 배 내지 100 배로 제공되는 것을 특징으로 하는 리튬-황 이차전지용 양극의 제조방법을 제공한다.
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公开(公告)号：KR20210034952A
公开(公告)日：2021-03-31
申请号：KR1020190116946A
申请日：2019-09-23
Applicant: 한국기초과학지원연구원
CPC classification number: H01J49/26 , H01J49/164 , G01N27/62 , H01J49/0031 , H01J49/0036 , H01J49/0418 , H01J49/40
Abstract: 일 실시예에 따른 질량 분석 시스템은, 진공 챔버 내에 제공되어 시료가 배치되는 시료대, 상기 시료대에 배치되는 시료에 대하여 스퍼터링 또는 이온화를 수행하는 조사부, 상기 조사부에 의하여 상기 시료로부터 발생되는 이온화된 시료를 분석하는 분석부 및 상기 조사부 또는 상기 분석부를 제어하는 제어부를 포함하고, 상기 제어부는 제1 공정 및 제2 공정을 수행하고, 상기 제1 공정은 상기 시료의 일 부분에 대하여 레이저 또는 이온빔을 조사하여 상기 시료를 구성하는 적어도 하나 이상의 물질들에 대한 위치 정보를 파악하며, 상기 제2 공정은 상기 위치 정보에 기반하여 상기 시료의 타 부분에 대하여 상기 시료를 구성하는 물질이 변화되는 구간에서는 제1 출력값의 레이저 또는 이온빔을 조사하고, 그 이외의 구간에서는 제2 출력값의 레이저 또는 이온빔을 조사할 수 있다.
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公开(公告)号：KR102229881B1
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：KR1020190119427A
申请日：2019-09-27
Applicant: 한국기초과학지원연구원
CPC classification number: G01N21/47 , G01N21/1717 , G01N21/39 , G01N21/55 , G02B27/10
Abstract: 광열반사 스펙트럼 측정장치가 개시된다. 일 실시예는 여기 광 신호를 출력하는 파장가변 연속파 광원부; 주파수를 기초로 상기 여기 광 신호를 변조하는 변조부 -상기 변조된 여기 광 신호는 샘플의 나노 구조체의 온도 변화를 야기함-; 프로브 광 신호가 상기 샘플에 조사되도록 상기 프로브 광 신호를 출력하는 프로브 광원부; 상기 조사에 의해 상기 샘플로부터 반사된 프로브 광 신호를 검출하는 제1 검출부 -상기 반사된 프로브 광 신호에는 상기 온도 변화에 의해 발생하는 이벤트가 반영됨-; 조명 광 신호가 상기 샘플로 조사된 경우, 상기 조명 광 신호가 상기 나노 구조체에 의해 산란된 산란 신호를 수집하는 제2 검출부, 및 상기 제2 검출부의 검출 결과를 기초로 상기 나노 구조체를 찾고 상기 제1 검출부의 수집 결과를 기초로 상기 나노 구조체의 광열반사 이미지를 생성하는 제어부를 포함한다.
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6.发明专利
公开(公告)号：KR20210030871A
公开(公告)日：2021-03-18
申请号：KR1020200113301A
申请日：2020-09-04
Applicant: 한국기초과학지원연구원 , 광주과학기술원 , 기초과학연구원
Abstract: 광원에서 방출되는 입사 빔을 반사하여 라게르-가우시안 빔을 생성하기 위한 일 실시 예에 따른 나선형 위상 플레이트는, 가장 단차가 낮은 지점으로부터 가장 단차가 높은 지점까지 일 방향으로 갈수록, 단위 각도당 단차 증가율이 감소하는 제 1 사분 영역과, 상기 일 방향으로 갈수록 단위 각도당 단차 증가율이 증가하는 제 2 사분 영역을 포함할 수 있다.
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