Patent search ap:("日本電子材料株式会社" OR "独立行政法人物質・材料研究機構") AND inv:"一道町田" Page 1

1.

发明专利
probe 有权

公开(公告)号：JP4201739B2

公开(公告)日：2008-12-24

申请号：JP2004161844

申请日：2004-05-31

Applicant: 日本電子材料株式会社 , 独立行政法人物質・材料研究機構

Inventor： 武志今野 , 幹彦小林 , 満江頭 , 敦夫浦田 , 一道町田 , 章石田

IPC: G01R1/067 , H01L21/66

CPC classification number: G01R1/06755 , G01R1/06733

2.

发明专利
Probe card 有权

公开(公告)号：JP3791689B2

公开(公告)日：2006-06-28

申请号：JP2004003626

申请日：2004-01-09

Applicant: 日本電子材料株式会社

Inventor： 哲平木村 , 敦夫浦田 , 一道町田

IPC: G01R1/073 , H01L21/66

CPC classification number: G01R1/07371

3.

发明专利
Probe card 有权

公开(公告)号：JP4087378B2

公开(公告)日：2008-05-21

申请号：JP2004372614

申请日：2004-12-24

Applicant: 日本電子材料株式会社

Inventor： 輝久坂田 , 哲也岡山 , 一道町田

IPC: G01R1/073 , G01R31/28 , H01L21/66

4.

发明专利
コンタクトプローブ有权
Title translation: 接触探头

公开(公告)号：JP5643477B2

公开(公告)日：2014-12-17

申请号：JP2008158631

申请日：2008-06-18

Applicant: 日本電子材料株式会社

Inventor： 木村　哲平 , 哲平木村 , 一道町田 , 一道町田

IPC: G01R1/067 , G01R31/26 , H01L21/66

5.

发明专利
Probe exchange methods and probe card of 有权

公开(公告)号：JP5016420B2

公开(公告)日：2012-09-05

申请号：JP2007231033

申请日：2007-09-06

Applicant: 日本電子材料株式会社

Inventor： 一道町田

IPC: G01R1/073 , H01L21/66

6.

发明专利
Method of manufacturing a probe card 有权

公开(公告)号：JP4859572B2

公开(公告)日：2012-01-25

申请号：JP2006195899

申请日：2006-07-18

Applicant: 日本電子材料株式会社

Inventor： 一道町田

IPC: G01R1/073 , G01R31/26 , H01L21/66

7.

发明专利
Electrical signal measurement jig 有权

公开(公告)号：JP4703456B2

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：JP2006087173

申请日：2006-03-28

Applicant: 大日本印刷株式会社 , 日本電子材料株式会社

Inventor： 茂樹中條 , 悟倉持 , 光明坪井 , 一道町田 , 友弘石田

IPC: G01R1/073 , G01R31/26

8.

发明专利
二重弾性機構プローブカード有权
Title translation: 双弹性机制探针卡

公开(公告)号：JP5643476B2

公开(公告)日：2014-12-17

申请号：JP2008106832

申请日：2008-04-16

Applicant: 日本電子材料株式会社

Inventor： 新一郎古崎 , 新一郎古崎 , 永田　一志 , 一志永田 , 隆一郎森 , 隆一郎森 , 輝久坂田 , 輝久坂田 , 友弘石田 , 友弘石田 , 一道町田 , 一道町田

IPC: G01R1/073 , G01R31/26 , H01L21/66

9.

发明专利
Method of manufacturing a probe card 有权

公开(公告)号：JP4384724B2

公开(公告)日：2009-12-16

申请号：JP2005278087

申请日：2005-09-26

Applicant: 日本電子材料株式会社

Inventor： 一道町田

IPC: G01R1/073

CPC classification number: G01R3/00 , G01R1/07342 , G01R31/2863 , Y10T29/49169

10.

发明专利
Probe card 有权

公开(公告)号：JP4008408B2

公开(公告)日：2007-11-14

申请号：JP2003378522

申请日：2003-11-07

Applicant: 日本電子材料株式会社

Inventor： 敦三根 , 虎之助古庄 , 輝久坂田 , 哲平木村 , 敦夫浦田 , 一道町田

IPC: G01R1/067 , G01R1/073 , H01L21/66

CPC classification number: G01R1/06733 , G01R1/0735 , G01R1/07357

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