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公开(公告)号：JP2017058180A
公开(公告)日：2017-03-23
申请号：JP2015181644
申请日：2015-09-15
Applicant: 株式会社豊田中央研究所 , 国立大学法人名古屋大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 【課題】非磁性体である計測対象物の誘電率を計測する誘電率計測装置において、計測対象物の誘電率を局所的に容易に計測でき、かつ、分解能を高くできる構成を提供することである。 【解決手段】誘電率計測装置10は、U字形の基板上に沿ってU字形に配置され信号を伝送する信号伝送線路22を有し、信号伝送線路22の頂部が検出部Tであるセンサ部材20と、信号を出力する信号源12と、信号伝送線路22の一端に入力され検出部Tで反射した信号を用いて検出部の信号伝送特性を取得及び記録する特性記録部40と、検出部に計測対象物が接触した状態における検出部の信号伝送特性に基づく特性値と予め設定された誘電率及び特性値の関係とに基づいて、計測対象物において検出部が接触した位置の誘電率を算出する演算部50とを含む。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2015152377A
公开(公告)日：2015-08-24
申请号：JP2014025242
申请日：2014-02-13
Applicant: 株式会社豊田中央研究所 , 国立大学法人名古屋大学
Abstract: 【課題】従来よりも高精度の欠陥検出が可能となる、ミリ波イメージング装置を提供する。 【解決手段】送信器12は、ミリ波帯域内で周波数掃引された電磁波を検査対象21に放射する。演算部44は、検査対象21表面の一点における、周波数別の反射係数の振幅成分の極小値を取る周波数を抽出するとともに、抽出された周波数の、検査対象21表面の2次元座標に沿った2次元画像を生成する。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够实现比以前更高精度的缺陷检测的毫米波成像装置。解决方案：发射机12发射以毫米波频带扫频的电磁波到测试对象21.算术逻辑单元44提取 以测试对象21表面上的一个点处的每个频率的反射系数的振幅分量的最小值的频率，并且生成提取的频率的二维图像，该二维图像沿着 测试对象21表面。
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公开(公告)号：JP2020112474A
公开(公告)日：2020-07-27
申请号：JP2019004334
申请日：2019-01-15
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
IPC: G01N27/83
Abstract: 【課題】磁性体製の被検査体の傷の有無を明確に検出できる傷検査装置を提供することである。 【解決手段】傷検査装置10は、被検査体100を磁化したときに傷の存在によって変化した磁界を検出することで傷の評価を行う。傷検査装置は、被検査体を磁化する磁化器、及び、磁場の変化を検出する磁気センサを有する探傷プローブであって、磁気センサは、所定深さ以上の傷に対し出力電圧が飽和してパルス状の電圧信号を発生する探傷プローブと、被検査体と探傷プローブの一方を他方に対し一定速度で移動させる移動部40と、探傷プローブにより出力されたパルス状の電圧信号の波形を利用して、被検査体における傷の有無を検出する信号処理装置と、を含む。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2020071208A
公开(公告)日：2020-05-07
申请号：JP2018207714
申请日：2018-11-02
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
IPC: G01N25/00
Abstract: 【課題】基材上に膜が形成された計測対象に対し、膜の目付量と厚さとを、簡易な構成で正確に得られるようにする。 【解決手段】膜計測装置12は、基材16の表面の法線NLに対し傾斜した方向から基材のはみ出し部分16Hと塗工膜18(膜)とにレーザLLを照射して加熱するレーザ加熱源22(加熱部材)と、レーザLLが照射された照射領域における温度の二次元分布を計測するサーモグラフィカメラ24(温度計測部材)と、計測された塗工膜18の温度上昇特性から目付量を導出する目付量導出部材と、はみ出し部分16Hと塗工膜18とにおける昇温位置の相対位置から塗工膜18の厚みを導出する膜厚導出部材と、を有する。 【選択図】図3
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公开(公告)号：JP2016057225A
公开(公告)日：2016-04-21
申请号：JP2014185210
申请日：2014-09-11
Applicant: 株式会社豊田中央研究所 , 愛知製鋼株式会社
IPC: G01N27/90
Abstract: 【課題】傷周辺を流れる渦電流は、傷中央部では流れがバランスして傷の検出が困難となる。 【解決手段】渦電流探傷センサ装置10は、検査面46に対して離間されるとともに巻軸C1,C2が検査面46に対してともに平行に向けられた、一対の励磁コイル24A,24Bと、一方に対して他方が逆極性となるように励磁コイル24A,24Bに励磁電流を供給する交流電源12を備える。さらに、励磁コイル24A,24Bの間であって巻軸方向C1,C2中心に配置されるとともに、自身の巻軸C3が検査面46に対して平行かつ励磁コイル24A,24Bの巻軸C1,C2と垂直となるように向けられ、励磁コイル24A,24Bによって検査面46に誘起された渦電流の変化を検出する検出コイル28を備える。 【選択図】図2
Abstract translation: 要解决的问题：为了解决这样一个问题，即流动周围的缺陷的涡流，在缺陷中心部分处的平衡，从而难以检测到缺陷。解决方案：涡流探伤传感器装置10包括： 与检查面46分离的一对励磁线圈24A，24B，其绕线轴线C1，C2朝向与检查面46平行的方向; 以及用于向励磁线圈24A，24B提供励磁电流的交流电源12，使得一个励磁线圈的极性与另一个励磁线圈的极性相反。 涡流探伤传感器装置10还包括检测线圈28，该检测线圈28设置在励磁线圈24A，24B之间，并且在绕线轴线C1，C2方向的中心和绕线轴线C3指向平行于 检查表面46并且垂直于励磁线圈24A，24B的绕组轴线C1，C2，并且其检测由激励线圈24A，24B在检查表面46中感应的涡流的变化。图2
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2018105620A
公开(公告)日：2018-07-05
申请号：JP2016248848
申请日：2016-12-22
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
IPC: G01N27/83
Abstract: 【課題】被検査体の疵に対して信号対雑音比(S/N比)が高い漏洩磁束探傷方法を提供する。 【解決手段】被検査体を磁化する第1磁化器30と、被検査体の磁化を補助する補助磁化を行う第2磁化器32と、第1磁化器30により被検査体が磁化されている期間において被検査体からの漏洩磁束を検出するホールセンサ33と、を備える漏洩磁束探傷装置を用いる。 【選択図】図2
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公开(公告)号：JP2015078942A
公开(公告)日：2015-04-23
申请号：JP2013217063
申请日：2013-10-18
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
IPC: G01N27/83
Abstract: 【課題】漏洩磁束探傷を行うに当たり、磁性材料の検査対象物の表面上に形成された傷の、長手方向の傾き角を、0°から±90°までの範囲に亘って検出可能とする。 【解決手段】 演算部14は、測定器12を検査対象物24表面上に二次元的に走査させる。走査の際に、測定器12の磁気センサ22によって検出された漏洩磁束の振幅成分及び位相成分の少なくとも一方から、漏洩磁束のそれぞれ異なる特性を反映させた複数の二次元分布を求める。さらに、演算部14は、これらの二次元分布に基づいて、検査対象物24表面上に形成された傷34の長手方向の傾き角θを算出する。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：为了检测在磁性材料的被检体的表面上形成的缺陷的长度方向上的倾斜角，在0〜90°的范围内，当漏磁通探伤为 操作部14使测定装置12对被检查体24的表面进行二维扫描。 在扫描期间，从由测量装置12的磁传感器22检测到的泄漏磁通的振幅分量和相位分量中的至少一个获得多个二维分布，其中各个不同的漏磁特性 反射通量。 此外，在操作部14中，基于这些二维分布，倾斜角度＆amp; 计算形成在待检查物体24的表面上的缺陷34的长度方向。
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公开(公告)号：JP2021081347A
公开(公告)日：2021-05-27
申请号：JP2019210123
申请日：2019-11-21
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
Abstract: 【課題】 電極の活物質層の目付量を非破壊かつ高精度で測定することのできる目付量測定装置および電極の製造方法を提供することである。 【解決手段】 目付量測定装置100は、電極N1に超音波を送信する超音波送信部111と、電極N1を透過した超音波を受信する超音波受信部112と、活物質層の膜厚を測定する第1変位計121および第2変位計122と、超音波受信部112が受信した超音波から活物質層の目付量と膜厚との積を算出する目付量膜厚積算出部137と、目付量膜厚積算出部137が算出した目付量と膜厚との積と、第1変位計121および第2変位計122が測定した膜厚と、から活物質層の目付量を算出する目付量算出部139と、を含む。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2020202152A
公开(公告)日：2020-12-17
申请号：JP2019110345
申请日：2019-06-13
Applicant: 株式会社豊田中央研究所
IPC: H01M4/1393
Abstract: 【課題】 電極の活物質層の内部における結着剤の含有比率を非破壊検査する電極の検査方法および電極の製造方法を提供することである。 【解決手段】 この電極の製造方法では、電極N1における炭素材料を含有する活物質層N1bにセミリジッドケーブル100のコイル部110を活物質層N1bに非接触で対面させて配置する。セミリジッドケーブル100のコイル部110に高周波の入力信号を送信する。活物質層N1bに渦電流I2を誘起する。その渦電流I2により発生する反射信号を検出する。入力信号および反射信号から結着剤の成分比を算出する。そして、結着剤の成分比が予め定めた第1閾値以上第2閾値以下の場合に、その電極N1を次の製造工程に送り、結着剤の成分比が予め定めた第1閾値未満または第2閾値より大きい場合に、その電極N1を次の製造工程に送らない。 【選択図】図5
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公开(公告)号：JP2021124309A
公开(公告)日：2021-08-30
申请号：JP2020016130
申请日：2020-02-03
Applicant: 株式会社豊田中央研究所 , トヨタ自動車株式会社
Abstract: 【課題】本発明の目的は、導体の表面に付着した異物を空洞共振器を用いて検出することである。 【解決手段】空洞共振器1は、矩形導波管10と、矩形導波管10の両端に設けられた端壁20と、矩形導波管10の管壁における一部の領域を欠損させた欠損領域123とを有している。検査対象物である薄膜導体50は、欠損領域123を覆った状態で搬送される。空洞共振器1の共振特性の変化に基づいて、薄膜導体50の表面に異物があるか否かが検査される。 【選択図】図2
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