渦電流探傷センサ装置
    1.
    发明专利
    渦電流探傷センサ装置 审中-公开
    EDDY电流检测传感器器件

    公开(公告)号:JP2016057225A

    公开(公告)日:2016-04-21

    申请号:JP2014185210

    申请日:2014-09-11

    Abstract: 【課題】傷周辺を流れる渦電流は、傷中央部では流れがバランスして傷の検出が困難となる。 【解決手段】渦電流探傷センサ装置10は、検査面46に対して離間されるとともに巻軸C1,C2が検査面46に対してともに平行に向けられた、一対の励磁コイル24A,24Bと、一方に対して他方が逆極性となるように励磁コイル24A,24Bに励磁電流を供給する交流電源12を備える。さらに、励磁コイル24A,24Bの間であって巻軸方向C1,C2中心に配置されるとともに、自身の巻軸C3が検査面46に対して平行かつ励磁コイル24A,24Bの巻軸C1,C2と垂直となるように向けられ、励磁コイル24A,24Bによって検査面46に誘起された渦電流の変化を検出する検出コイル28を備える。 【選択図】図2

    Abstract translation: 要解决的问题:为了解决这样一个问题,即流动周围的缺陷的涡流,在缺陷中心部分处的平衡,从而难以检测到缺陷。解决方案:涡流探伤传感器装置10包括: 与检查面46分离的一对励磁线圈24A,24B,其绕线轴线C1,C2朝向与检查面46平行的方向; 以及用于向励磁线圈24A,24B提供励磁电流的交流电源12,使得一个励磁线圈的极性与另一个励磁线圈的极性相反。 涡流探伤传感器装置10还包括检测线圈28,该检测线圈28设置在励磁线圈24A,24B之间,并且在绕线轴线C1,C2方向的中心和绕线轴线C3指向平行于 检查表面46并且垂直于励磁线圈24A,24B的绕组轴线C1,C2,并且其检测由激励线圈24A,24B在检查表面46中感应的涡流的变化。图2

    モールドパウダー層厚さ計測装置及び厚さ計測方法

    公开(公告)号:JP2019051550A

    公开(公告)日:2019-04-04

    申请号:JP2017178853

    申请日:2017-09-19

    Abstract: 【課題】モールドパウダー層の厚さ計測装置において、小型の装置により高い精度で、粉末層及び溶融層の一方または両方の厚さを計測可能とすることである。 【解決手段】厚さ計測装置10は、鋳型50内の溶鋼56上におけるモールドパウダーの粉末層52の表面52aにマイクロ波を発信し、マイクロ波の反射波の振幅及び位相を複数の周波数のそれぞれについて計測し、計測した結果を逆フーリエ変換によって時間軸情報に変換し、時間軸情報に基づく距離情報から得た、モールドパウダーの粉末層52の表面52a、及び、粉末層52とモールドパウダーの溶融層54との界面52bの位置と、溶鋼の湯面57の位置とに基づいて、モールドパウダーの粉末層52及び溶融層54の厚さの一方または両方を計測する。 【選択図】図1

    膜計測装置及び膜計測方法
    3.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2020071208A

    公开(公告)日:2020-05-07

    申请号:JP2018207714

    申请日:2018-11-02

    Abstract: 【課題】基材上に膜が形成された計測対象に対し、膜の目付量と厚さとを、簡易な構成で正確に得られるようにする。 【解決手段】膜計測装置12は、基材16の表面の法線NLに対し傾斜した方向から基材のはみ出し部分16Hと塗工膜18(膜)とにレーザLLを照射して加熱するレーザ加熱源22(加熱部材)と、レーザLLが照射された照射領域における温度の二次元分布を計測するサーモグラフィカメラ24(温度計測部材)と、計測された塗工膜18の温度上昇特性から目付量を導出する目付量導出部材と、はみ出し部分16Hと塗工膜18とにおける昇温位置の相対位置から塗工膜18の厚みを導出する膜厚導出部材と、を有する。 【選択図】図3

    目付量測定装置および電極の製造方法

    公开(公告)号:JP2021081347A

    公开(公告)日:2021-05-27

    申请号:JP2019210123

    申请日:2019-11-21

    Abstract: 【課題】 電極の活物質層の目付量を非破壊かつ高精度で測定することのできる目付量測定装置および電極の製造方法を提供することである。 【解決手段】 目付量測定装置100は、電極N1に超音波を送信する超音波送信部111と、電極N1を透過した超音波を受信する超音波受信部112と、活物質層の膜厚を測定する第1変位計121および第2変位計122と、超音波受信部112が受信した超音波から活物質層の目付量と膜厚との積を算出する目付量膜厚積算出部137と、目付量膜厚積算出部137が算出した目付量と膜厚との積と、第1変位計121および第2変位計122が測定した膜厚と、から活物質層の目付量を算出する目付量算出部139と、を含む。 【選択図】図1

    電極の製造方法および電極の検査方法

    公开(公告)号:JP2020202152A

    公开(公告)日:2020-12-17

    申请号:JP2019110345

    申请日:2019-06-13

    Abstract: 【課題】 電極の活物質層の内部における結着剤の含有比率を非破壊検査する電極の検査方法および電極の製造方法を提供することである。 【解決手段】 この電極の製造方法では、電極N1における炭素材料を含有する活物質層N1bにセミリジッドケーブル100のコイル部110を活物質層N1bに非接触で対面させて配置する。セミリジッドケーブル100のコイル部110に高周波の入力信号を送信する。活物質層N1bに渦電流I2を誘起する。その渦電流I2により発生する反射信号を検出する。入力信号および反射信号から結着剤の成分比を算出する。そして、結着剤の成分比が予め定めた第1閾値以上第2閾値以下の場合に、その電極N1を次の製造工程に送り、結着剤の成分比が予め定めた第1閾値未満または第2閾値より大きい場合に、その電極N1を次の製造工程に送らない。 【選択図】図5

    誘電率計測装置
    6.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2017058180A

    公开(公告)日:2017-03-23

    申请号:JP2015181644

    申请日:2015-09-15

    Abstract: 【課題】非磁性体である計測対象物の誘電率を計測する誘電率計測装置において、計測対象物の誘電率を局所的に容易に計測でき、かつ、分解能を高くできる構成を提供することである。 【解決手段】誘電率計測装置10は、U字形の基板上に沿ってU字形に配置され信号を伝送する信号伝送線路22を有し、信号伝送線路22の頂部が検出部Tであるセンサ部材20と、信号を出力する信号源12と、信号伝送線路22の一端に入力され検出部Tで反射した信号を用いて検出部の信号伝送特性を取得及び記録する特性記録部40と、検出部に計測対象物が接触した状態における検出部の信号伝送特性に基づく特性値と予め設定された誘電率及び特性値の関係とに基づいて、計測対象物において検出部が接触した位置の誘電率を算出する演算部50とを含む。 【選択図】図1

    疲労余寿命特定装置および疲労余寿命特定方法

    公开(公告)号:JP2021196270A

    公开(公告)日:2021-12-27

    申请号:JP2020102955

    申请日:2020-06-15

    Abstract: 【課題】繰返し荷重の振幅が変更される場合の余寿命を特定する。 【解決手段】ある期間において、対象物の温度上昇量ΔT st1、 ΔT st2 を測定し、この期間における繰返し荷重が加えられた回数(負荷繰返し数)を計数する。測定された温度上昇量ΔT st1 、ΔT st2 を、あらかじめ求められている関係に適用して、この期間の破断負荷繰返し数を求める。負荷繰返し数を破断負荷繰返し数で除して、この期間における疲労損傷度を算出する。ある時点において、それまでの疲労損傷度を積算し、積算疲労損傷度を算出する。ある時点の温度上昇量から破断負荷繰返し数を求め、求めた破断負荷繰返し数と積算疲労損傷度とから疲労余寿命を算出する。 【選択図】図5

    傷検査装置及び傷検査方法
    8.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2020112474A

    公开(公告)日:2020-07-27

    申请号:JP2019004334

    申请日:2019-01-15

    Abstract: 【課題】磁性体製の被検査体の傷の有無を明確に検出できる傷検査装置を提供することである。 【解決手段】傷検査装置10は、被検査体100を磁化したときに傷の存在によって変化した磁界を検出することで傷の評価を行う。傷検査装置は、被検査体を磁化する磁化器、及び、磁場の変化を検出する磁気センサを有する探傷プローブであって、磁気センサは、所定深さ以上の傷に対し出力電圧が飽和してパルス状の電圧信号を発生する探傷プローブと、被検査体と探傷プローブの一方を他方に対し一定速度で移動させる移動部40と、探傷プローブにより出力されたパルス状の電圧信号の波形を利用して、被検査体における傷の有無を検出する信号処理装置と、を含む。 【選択図】図1

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