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公开(公告)号：JP2014032954A
公开(公告)日：2014-02-20
申请号：JP2013123212
申请日：2013-06-11
Inventor： MURAYAMA YOHEI , AOKI NAOFUMI , KYOGAKU MASABUMI , IWASAKI KOTA
CPC classification number: H01J37/261 , H01J49/0004 , H01J49/0468 , H01J49/142 , H01J2237/08 , H01J2237/2448 , H01J2237/2602
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mass spectroscope device with raised controllability of an addition amount of water molecules which can reduce device contamination and avoid enlarging and complicating the device, and moreover, to provide a mass spectroscope device using an irradiation device which can emit both primary ions and particles for water molecule addition.SOLUTION: A mass spectroscope device, which irradiates a sample with primary ions to perform mass spectrometry of secondary ions emitted from the sample, includes a chamber for placing the sample, irradiation means for irradiating the sample with particles, and an extraction electrode for guiding the secondary ions emitted from the sample to mass spectrometry means. The irradiation means is means for switching between a first mode of radiating the primary ions for emitting the secondary ions from the sample and a second mode of emitting particles containing water molecules to be adhered to the sample, thereby irradiating the sample with the particles.
Abstract translation: 要解决的问题：为了提供具有可以减少装置污染并避免装置的扩大和复杂化的水分子的添加量的可控性提高的质谱仪，而且提供使用能够发射的照射装置的质谱仪装置 主要离子和水分子添加颗粒。解决方案：用一次离子照射样品进行从样品发射的二次离子的质谱分析的质谱仪，包括用于放置样品的室，用于照射样品的照射装置 和用于将从样品发射的二次离子引导到质谱装置的引出电极。 照射装置是用于在从样品辐射初级离子以发射次级离子的第一模式和第二模式之间切换的第二模式，该第二模式包含要附着到样品上的含有水分子的颗粒，从而用该颗粒照射样品。
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公开(公告)号：JP2015032463A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：JP2013161331
申请日：2013-08-02
Inventor： OTSUKA YOICHI , KYOGAKU MASABUMI
CPC classification number: H01J49/10 , H01J49/0004 , H01J49/0027 , H01J49/0459 , H01J49/165 , H01J49/24 , H01J49/26
Abstract: 【課題】大気圧環境下で試料表面の微小領域の成分分布を高感度で計測できるイオン化装置を提供する。【解決手段】試料を保持するための保持台と、前記試料のイオン化する部分を決めるためのプローブと、前記試料がイオン化したイオンを引き出す引出電極と、前記試料と前記プローブとの間に液架橋を形成するための液体を供給する液体供給手段と、前記プローブまたは前記保持台を振動させる手段と、前記プローブと前記引出電極との間で電界を発生させる電界発生手段と、前記引出電極によって引き出されたイオンを質量分析する質量分析部と、前記部分のイオンが発生する時間と、前記質量分析部が前記イオンを計測する時間とを同期させるための同期手段と、を有することを特徴とする質量分析装置。【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供能够以高灵敏度测量在大气压环境下的试样表面的微区域中的成分分布的离子化装置。解决方案：质谱仪包括：用于保持试样的保持器; 用于确定样品中要离子化的部分的探针; 用于引出由电离电离产生的离子的引出电极; 液体供给装置，其供给用于在样本和探针之间形成液体交联的液体; 用于振动探头或支架的装置; 电场产生装置，用于在探针和引出电极之间产生电场; 用于对由引出电极引出的离子进行质谱分析的质谱部分; 以及同步装置，用于使该部分的离子产生的时间与质谱部分测量离子的时间同步。
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3.发明专利
公开(公告)号：JP2013109837A
公开(公告)日：2013-06-06
申请号：JP2011251552
申请日：2011-11-17
Inventor： KYOGAKU MASABUMI , IWASAKI KOTA
CPC classification number: H01J49/14 , G01N23/2258 , H01J49/0004 , H01J49/0031 , H01J49/06 , H01J49/142 , H01J49/40
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mass distribution analysis method which can reduce an influence to a mass analysis result due to time variety of irradiation of an ionized beam to a sample and measure a mass distribution having high reliability.SOLUTION: There is provided a mass distribution analysis method which irradiates a sample with a primary ion beam and detects generated secondary ions, in which the primary ion beam has a spread in a direction perpendicular to an advancing direction, and an orbit of the primary ion beam is deflected so as to adjust a path length from a primary ion source of each of primary ions included in the primary ion beam to a sample surface, and then the primary ion beam is injected inclining to the sample surface.
Abstract translation: 解决的问题：提供一种质量分布分析方法，其可以减少由于对样品的离子束的照射的时间不同而对质量分析结果的影响，并测量具有高可靠性的质量分布。 解决方案：提供了一种质量分布分析方法，其用一次离子束照射样品并检测所产生的二次离子，其中一次离子束在垂直于前进方向的方向上具有扩展，并且轨道 主离子束被偏转，以便调整从初级离子束中包括的初级离子的一次离子源到样品表面的路径长度，然后将一次离子束倾斜注入样品表面。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT
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公开(公告)号：JP2015028921A
公开(公告)日：2015-02-12
申请号：JP2014129247
申请日：2014-06-24
Inventor： MURAYAMA YOHEI , KYOGAKU MASABUMI , IWASAKI KOTA , AOKI NAOFUMI
CPC classification number: H01J49/142 , G01N23/2258 , G01N2223/0816 , G01N2223/506
Abstract: 【課題】二次イオン質量スペクトルにおけるピークの識別と、それによる試料分子の特定とをスループットよく行うための、イオン群照射装置を提供する。【解決手段】イオン源より放出されたイオンから、イオン群を構成するイオンの平均質量が異なる2個以上のイオン群を選別するイオン群選別手段と、該イオン群選別手段で選別された2個以上のイオン群を試料に照射する一次イオン照射手段と、を有し、さらに、イオン群選別手段は、1個以上のイオン群を選別し、該選別されたイオン群1個から、更に前記2個以上のイオン群を選別することを特徴とするイオン群照射装置を提供する。【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种离子组照射装置，用于进行二次离子质谱中的峰的鉴定，以及通过具有良好生产能力的峰识别来确定样品分子的规格。解决方案：离子组照射装置包括离子组选择装置 用于从离子源发射的离子中选择多于一个具有不同的构成离子基团的平均离子质量的离子基团，以及用于用多于一个离子基团选择的离子基团照射样品的一次离子照射装置 手段。 此外，离子组选择单元选择多于一个的离子基团，并且从如此选择的一个离子组中进一步选择多于一个的离子基团。
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公开(公告)号：JP2015028917A
公开(公告)日：2015-02-12
申请号：JP2014127907
申请日：2014-06-23
Inventor： MURAYAMA YOHEI , IWASAKI KOTA , KYOGAKU MASABUMI
CPC classification number: H01J49/10 , G01N23/2258 , G01N2223/105 , G01N2223/314 , H01J49/142
Abstract: 【課題】十分な強度の二次イオン質量スペクトルまたは質量分布画像を短時間で取得するためのイオン群照射装置を提供する。【解決手段】イオン群を試料に照射するイオン群照射装置において、イオンを発生させるイオン源と、該イオン源から放出されるイオンから、クラスターイオンを含むイオン群を選別するイオン群選別手段と、を有し、さらに、該イオン源は、クラスターイオンの原料を噴射する圧力を時間的に変化させるための、圧力勾配形成手段を有し、該イオン群選別手段は、開口および閉口により、クラスターイオンを進行方向に通過および遮断させてイオン群に選別するチョッピング動作を行うチョッパーを有し、該チョッパーは、該圧力勾配形成手段による圧力勾配形成動作1回につき、2回以上のチョッピング動作を行う、ことを特徴とする、イオン群照射装置。【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种用于在短时间内获取足够强度的二次质谱或质量分布图像的离子照射装置。解决方案：用于用离子基团照射样品的离子照射装置包括用于产生离子源的离子源 离子和离子基团选择装置，用于从离子源发射的离子中选择含有离子基团。 离子源具有临时改变用于注入簇离子原料的压力的压力梯度形成装置。 离子组选择装置具有进行斩波操作的斩波器，其通过打开和关闭将簇离子屏蔽到离子基团，从而在行进方向上通过和截取簇离子。 斩波器通过压力梯度形成装置进行每次压力梯度形成操作两次或更多次的斩波操作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2015007612A
公开(公告)日：2015-01-15
申请号：JP2014069415
申请日：2014-03-28
Inventor： NAITO JUNPEI , IWASAKI KOTA , KYOGAKU MASABUMI , OTSUKA YOICHI
IPC: G01N21/65
CPC classification number: G01N21/65 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/44 , G02B21/16 , G02B21/365 , H01S3/10
Abstract: 【課題】計測波数の調整が従来よりも容易な光学計測装置を提供すること。【解決手段】光学計計測装置は、光源部31と、計測波数設定手段18と、光源調整手段19とを備える。光源部31は、第1の波長を有するレーザー光を射出する第1のレーザー光源13と、第2の波長を有するレーザー光を射出する第2のレーザー光源14と、を有する。光源調整手段19は、第1の波長に対応する第1の波数と、第2の波長に対応する第2の波数との差もしくは和が、計測波数設定手段18で設定された波数になるように、第1の波長と第2の波長との少なくともいずれか一方を調整する。【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种测量波数的调节比以前更容易的光学测量装置。解决方案：一种光学测量装置，包括：光源单元31; 测量波数设定单元18; 和光源调节装置19.光源单元31具有：发射具有第一波长的激光束的第一激光光源13; 以及发射具有第二波长的激光束的第二激光光源14。 光源调节装置19调节第一波长和第二波长中的至少一个，使得对应于第一波长的第一波数与对应于第二波长的第二波数之间的差值或总和是由测量波数设置设定的波数 意味着18。
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公开(公告)号：JP2015017971A
公开(公告)日：2015-01-29
申请号：JP2014113129
申请日：2014-05-30
Inventor： NAITO JUNPEI , IWASAKI KOTA , OTSUKA YOICHI , KYOGAKU MASABUMI
Abstract: 【課題】本発明は、表示画像を三次元分布のX軸、Y軸、Z軸方向に移動させることが可能で、且つ、画像生成に関わる分光データを容易に変更できる画像処理装置を提供することを目的とする。【解決手段】分光データの三次元分布のうち所定平面における画像を表示画像として表示部に表示させる画像処理装置11であって、ポインティングデバイスから指示を取得する取得部12と、指示に基づいて表示画像を変更する変更部13と、を有し、変更部は、取得部が第1の指示を取得した場合は、所定平面が所定平面と平行に移動するように表示画像を変更し、取得部が第2の指示を取得した場合は、所定平面が所定平面と垂直に移動するように表示画像を変更し、取得部が第3の指示を取得した場合は、分光データを第1の分光データから第1の分光データと異なる第2の分光データに変更することで表示画像を変更することを特徴とする画像処理装置。【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供能够在三维分布的X轴，Y轴和Z轴的方向上移动显示图像的图像处理器，并且容易地改变关于图像生成的光谱数据。解决方案：An 图像处理器11将作为显示图像的光谱数据的三维分布中的预定平面中的图像显示在显示单元上。 图像处理器11包括：获取单元12，用于从指示设备获取指令; 以及改变单元13，用于根据该指令改变显示图像。 当获取单元获取第一指令时，改变单元改变显示图像使得预定平面与预定平面平行移动，当获取单元获取时，改变显示图像使得预定平面垂直于预定平面移动 并且通过将来自第一光谱数据的光谱数据改变为不同于第一光谱数据的第二光谱数据来改变显示图像。
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8.发明专利
公开(公告)号：JP2012181022A
公开(公告)日：2012-09-20
申请号：JP2011042078
申请日：2011-02-28
Inventor： OTSUKA YOICHI , HASHIMOTO HIROYUKI , KOMATSU MANABU , NAITO JUNPEI , KYOGAKU MASABUMI
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sample analysis method for making the intensity distribution information of Raman vibration obtained from Raman spectroscopy accurately associated with the mass information obtained from mass spectroscopy, which has not been known while a method for superimposing a mass distribution image and an image from an optical microscope using a maker is known.SOLUTION: A sample is disposed on a substrate, and a marker having a three-dimensional shape with a height equal to or higher than the surface of the sample is disposed at the periphery of the sample. The sample and the marker are analyzed by Raman spectroscopy and mass spectroscopy. The obtained intensity distribution information of Raman vibration and the mass information are aligned based on the information of the marker.
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种样品分析方法，用于制作从与质谱信息获得的质量信息准确相关的拉曼光谱获得的拉曼振动的强度分布信息，该质谱信息在用于叠加质量的方法时尚未知 已知使用制造商的来自光学显微镜的分布图像和图像。 解决方案：将样品设置在基板上，并且具有高于等于或高于样品表面的三维形状的标记设置在样品的周边。 通过拉曼光谱和质谱分析样品和标记物。 所获得的拉曼振动的强度分布信息和质量信息基于标记的信息进行排列。 版权所有（C）2012，JPO＆INPIT
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公开(公告)号：JP2010073470A
公开(公告)日：2010-04-02
申请号：JP2008239156
申请日：2008-09-18
Inventor： OYAMA KAZUNARI , TAKADA HIROKO , KAWATE SHINICHI , KYOGAKU MASABUMI , HONMA NORIAKI
IPC: H01J31/12
CPC classification number: H01J29/86 , H01J31/127
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent degradation of an electron emission device by suppressing a rise in potential on an insulated face on a substrate without using an antistatic film or the like in an image display apparatus having the electron emission device. SOLUTION: A shortest distance L (μm) from any point on the insulated face exposed on the substrate to a conductive member on the substrate and a surface resistivity Rs (Ω/square) at any point satisfy Rs×L 2 22 (Ω×μm 2 ). COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
Abstract translation: 解决的问题：为了防止在具有电子发射装置的图像显示装置中，通过抑制基板上的绝缘面上的电位上升而不使用抗静电膜等来防止电子发射装置的劣化。 解决方案：从基板上暴露在基板上的绝缘面上的任何点到基板上的导电部件的最短距离L（μm）和任何点处的表面电阻率Rs（Ω/ square）都满足Rs×L
2 <4.2×10 22 （Ω×微米 2 ）。 版权所有（C）2010，JPO＆INPIT -
公开(公告)号：JP2015046381A
公开(公告)日：2015-03-12
申请号：JP2014146622
申请日：2014-07-17
Inventor： KYOGAKU MASABUMI , OTSUKA YOICHI
CPC classification number: G01Q10/065 , H01J49/0004 , H01J49/0459
Abstract: 【課題】大気中で、固体試料面上の異なった微小領域の成分を混濁することなく分離することのできるイオン化装置、並びに、そのイオン化装置を使用する質量分析装置及び画像形成システムを提供する。【解決手段】本発明のイオン化装置は、試料を保持する保持台、前記保持台に保持されている前記試料のイオン化する部分を決めるためのプローブ、前記試料のイオン化したイオンを引き出す引出電極、前記試料の一部領域に液体を供給する液供給手段、及び前記プローブと前記引出電極との間に第一の電圧を印加する手段を有し、前記第一の電圧をパルス変調することを特徴とする。【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种离子化装置，其能够在空气中在无固体样品表面上分离不同细小区域的成分，并提供使用该离子化装置的质谱仪和图像形成系统。解决方案：电离 装置包括：保持样本的保持基座; 用于确定由所述保持基座保持的样本将被离子化的部分的探针; 提取电极，提取通过电离样品获得的离子; 液体供应装置将液体供应到样品的部分区域; 以及将第一电压施加到探针和提取电极之间的装置。 第一个电压被脉冲调制。
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