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公开(公告)号：KR102231784B1
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：KR1020150119044A
申请日：2015-08-24
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 엄근선
IPC: G01N21/3563 , A61B5/00
CPC classification number: G01J3/42 , G01N21/3563 , A61B5/0075 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J2003/2873 , G01J2003/425 , G01N2201/127 , G01N2201/12707 , G01N2201/12715 , G01N2201/12769
Abstract: 시료 측정에 유리하도록 분광기의 파라미터를 조정하고, 레퍼런스 물질의 반사도를 조절하여 낮은 반사도의 스펙트럼을 측정한 후 100% 반사도의 스펙트럼으로 변환함으로써 시료 스펙트럼의 신호대 잡음비(Signal to Noise Ratio: SNR)을 높일 수 있는 시료 분석을 위한 레퍼런스 스펙트럼 측정 장치 및 방법, 시료 분석 장치 및 방법이 개시된다.
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公开(公告)号：JP2018517131A
公开(公告)日：2018-06-28
申请号：JP2017557997
申请日：2016-05-12
Applicant: サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー
Inventor： ソーンズ,ジョシュア,ジョン
CPC classification number: G01J3/26 , G01J3/027 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J9/00
Abstract: 計測システムは、パルス光ビームの経路内にあり、パルス光ビームと相互作用するように、且つ、パルス光ビームのスペクトル成分に対応する複数の空間成分を出力するように、構成された光周波数分離装置と、出力空間成分を受け取るとともに感知する複数の感知領域と、各感知領域の出力に接続される制御システムと、を含む。制御システムは、1つ以上のパルスについての光周波数分離装置からの出力空間成分のプロパティを各感知領域出力について測定するように、パルス光ビームのスペクトルフィーチャの推定を計算するために測定されたプロパティを平均化することを含む、測定されたプロパティを分析するように、及び、パルス光ビームの推定スペクトルフィーチャがスペクトルフィーチャの値の許容レンジ内にあるかどうかを判別するように、構成される。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2018100830A
公开(公告)日：2018-06-28
申请号：JP2016244990
申请日：2016-12-19
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/0235 , G01J3/027 , G01J3/0286 , G01J3/0297 , G01J3/04 , G01J3/2803 , G01J3/453
Abstract: 【課題】測定品質の低下を招くことなく、広い測定帯域を有する光スペクトル測定装置を提供する。 【解決手段】入射光を分光し、スリットから出射する回折格子分光器と、受光特性の異なる複数個のフォトダイオードセンサを前記スリットからの出射光の進行方向に直交する平面上に並べた移動台と、いずれかのフォトダイオードセンサに出射光が入射する状態に移動台を移動させる駆動機構と、を備える光スペクトル測定装置。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP6291897B2
公开(公告)日：2018-03-14
申请号：JP2014031414
申请日：2014-02-21
Applicant: セイコーエプソン株式会社
Inventor： 金井 政史
CPC classification number: G01J3/0218 , B41J2/125 , B41J11/009 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/506 , G01J3/51 , G09G5/02 , G09G2320/0626 , G09G2320/0666 , G09G2320/0693 , G09G2320/08 , G09G2360/145
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公开(公告)号：JP6255992B2
公开(公告)日：2018-01-10
申请号：JP2013270763
申请日：2013-12-27
Applicant: セイコーエプソン株式会社
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0202 , G01J3/0235 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01J3/26 , G01J3/28 , G01J3/32
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP6239667B2
公开(公告)日：2017-11-29
申请号：JP2016059091
申请日：2016-03-23
Applicant: ヴェリティー インストルメンツ,インコーポレイテッド
Inventor： ラリー アーロス ブロック , ジョン ディー.コーレス , マーク アンソニー メローニ , マイク ウェラン
IPC: H01L21/26
CPC classification number: H05B41/30 , G01J3/0205 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01N21/84 , G01J2003/1278 , G01N2201/061 , G01N2201/0696
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公开(公告)号：JP6237953B2
公开(公告)日：2017-11-29
申请号：JP2017505886
申请日：2015-03-13
Applicant: 株式会社島津製作所
Inventor： 上掛 惟史
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/4535 , G01J3/0202 , G01J3/027 , G01J3/0275 , G01J3/0289 , G01J3/06 , G01N21/27 , G01N21/3563 , G01J2003/064
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公开(公告)号：JP6184305B2
公开(公告)日：2017-08-23
申请号：JP2013246522
申请日：2013-11-28
Applicant: オリンパス株式会社
Inventor： 岡部 将志
IPC: G02B21/36
CPC classification number: G02B21/365 , G01J3/00 , G01J3/027 , G06T5/009 , H04N5/205 , G01J2003/2826 , G06T2207/10024 , G06T2207/10056
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公开(公告)号：JP2016176910A
公开(公告)日：2016-10-06
申请号：JP2015059382
申请日：2015-03-23
Applicant: セイコーエプソン株式会社
CPC classification number: G01J3/28 , G01J1/4204 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/50 , G01J3/524 , H04N1/6086 , H05B37/0218 , G01J2003/2879
Abstract: 【課題】外光光量による測定精度の低下を抑制し、かつ迅速な分光測定が実施可能な分光測定装置、画像形成装置、及び分光測定方法を提供する。 【解決手段】分光測定装置を内蔵するプリンターは、媒体Aに対して照明光を出射する光源、及び媒体からの入射光を分光する波長可変干渉フィルターを含む分光器17と、媒体Aに入射する外光の光量を検出する外光センサー18と、照明光及び外光の光量比が第一値となるように光源から出射される照明光の光量を制御する光量制御手段として機能するCPU154と、を備えた。 【選択図】図2
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够抑制由外部光量引起的测量精度降低的光谱测定装置，图像形成装置以及光谱测定方法，能够进行快速光谱测定。解决方案：含有分光装置的打印机包括： 用于向介质A发射照明光的光源; 具有用于分散来自介质的入射光的波长可变干涉滤光器的分光镜17; 用于检测进入介质A的外部光量的外部光传感器18; 以及用作控制从光源发射的照明光量的光量控制装置的CPU154，使得照明光和外部光的光量的比率将成为第一值。图示：图 2
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