シミュレーション装置及び方法
    8.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2018159994A

    公开(公告)日:2018-10-11

    申请号:JP2017055569

    申请日:2017-03-22

    发明人: 梅田 豊裕

    摘要: 【課題】ロットまとめ処理を行うためにジョブが揃うのを待機している時に、どの時点でジョブに対する処理を開始すべきかをさらに適切に判定する。 【解決手段】シミュレーション装置の最早ロット開始時刻計算部は、最早ロット完成時刻がロット待ち限界時刻より遅くないと判定すると、最早ロット完成時刻を最早ロット開始時刻として算出し、最早ロット完成時刻がロット待ち限界時刻より遅いと判定すると、ロット候補に分類されたジョブであってロット待ち限界時刻より早く到着するジョブのうち最も遅く到着するジョブの最早到着時刻を最早ロット開始時刻として算出する。ロット処理判定部は、シミュレーション時刻が最早ロット開始時刻より早いときには、ロット候補に分類されたジョブの処理を開始しないと判定し、シミュレーション時刻が最早ロット開始時刻以降のときには、ロット候補に分類されたジョブの処理を開始すると判定する。 【選択図】図1

    製品層別装置、製品層別方法及びコンピュータプログラム

    公开(公告)号:JPWO2017119221A1

    公开(公告)日:2018-10-04

    申请号:JP2016085864

    申请日:2016-12-02

    IPC分类号: G06Q50/04 B07C5/38

    摘要: 項目ごとに何度も層別する必要がなく、短時間で製品の特性値バラツキの標準偏差及び測定値バラツキの標準偏差を算出することができる製品層別装置、製品層別方法及びコンピュータプログラムを提供する。 本発明に係る製品層別装置は、測定した複数の特性値に基づき、製品を所定の複数のランクに層別する。測定した複数の特性値の平均値、及び複数の特性値のバラツキの標準偏差を項目ごとのみなし標準偏差として算出する。層別した所定の複数のランクのうち、少なくとも一つのランクに属する製品の複数の特性値を再測定し、再測定した複数の特性値に基づき、製品を項目ごとに所定の複数のランクに再層別し、算出された前記製品の項目ごとの平均値及びみなし標準偏差の確率分布に基づき、少なくとも一度再層別した場合に各ランクに属する製品の推定個数を項目ごとに推定する。推定個数に基づいて、製品の測定値バラツキを項目ごとに算出する。