矽氧化物薄膜的高溫原子層沉積
    4.
    发明专利
    矽氧化物薄膜的高溫原子層沉積 审中-公开
    硅氧化物薄膜的高温原子层沉积

    公开(公告)号:TW201343952A

    公开(公告)日:2013-11-01

    申请号:TW102112932

    申请日:2013-04-11

    Abstract: 本發明揭示藉由>500℃的溫度形成矽氧化物的原子層沉積(ALD)方法。所用的矽前驅物具有下式:I. R1R2mSi(NR3R4)nXp其中R1、R2及R3係各自獨立地選自氫、線性或分支C1至C10烷基及C6至C10芳基;R4係選自線性或分支C1至C10烷基及C6至C10芳基、C3至C10烷基矽烷基;其中R3及R4係連接以形成一環狀環結構或R3及R4沒連接以形成一環狀環結構;X係選自由Cl、Br及I所組成的群組的鹵基;m係0至3;n係0至2;且p係0至2且m+n+p=3;及II. R1R2mSi(OR3)n(OR4)qXp其中R1及R2係各自獨立地選自氫、線性或分支C1至C10烷基及C6至C10芳基;R3及R4係各自獨立地選自線性或分支C1至C10烷基及C6至C10芳基;其中R3及R4係連接以形成一環狀環結構或R3及R4沒連接以形成一環狀環結構;X係選自由Cl、Br及I所組成的群組的鹵基;m係0至3;n係0至2;q係0至2且p係0至2且m+n+q+p=3。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明揭示借由>500℃的温度形成硅氧化物的原子层沉积(ALD)方法。所用的硅前驱物具有下式:I. R1R2mSi(NR3R4)nXp其中R1、R2及R3系各自独立地选自氢、线性或分支C1至C10烷基及C6至C10芳基;R4系选自线性或分支C1至C10烷基及C6至C10芳基、C3至C10烷基硅烷基;其中R3及R4系连接以形成一环状环结构或R3及R4没连接以形成一环状环结构;X系选自由Cl、Br及I所组成的群组的卤基;m系0至3;n系0至2;且p系0至2且m+n+p=3;及II. R1R2mSi(OR3)n(OR4)qXp其中R1及R2系各自独立地选自氢、线性或分支C1至C10烷基及C6至C10芳基;R3及R4系各自独立地选自线性或分支C1至C10烷基及C6至C10芳基;其中R3及R4系连接以形成一环状环结构或R3及R4没连接以形成一环状环结构;X系选自由Cl、Br及I所组成的群组的卤基;m系0至3;n系0至2;q系0至2且p系0至2且m+n+q+p=3。

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