公开(公告)号：US08116141B2

公开(公告)日：2012-02-14

申请号：US12558627

申请日：2009-09-14

申请人： Han Woong Yoo ,  Seung-Hwan Song ,  Junjin Kong ,  Jaehong Kim

发明人： Han Woong Yoo ,  Seung-Hwan Song ,  Junjin Kong ,  Jaehong Kim

IPC分类号： G11C11/34

CPC分类号： G11C16/26 ,  G11C16/3427

摘要： A distribution analyzing method for a nonvolatile memory device having memory cells exhibiting overlapping first and second threshold voltage distributions includes; detecting a degree of overlap between the first and second threshold voltage distributions by reading data stored in the memory cells and determining read index data from the read data, and estimating a distribution characteristic for at least one of the overlapping threshold voltage distributions using the read index data.

摘要翻译： 一种具有显示重叠的第一和第二阈值电压分布的存储单元的非易失性存储器件的分布分析方法包括： 通过读取存储在存储单元中的数据并根据读取的数据确定读取的索引数据来检测第一和第二阈值电压分布之间的重叠程度，并且使用读取的索引来估计至少一个重叠阈值电压分布的分布特性 数据。

公开(公告)号：US08503230B2

公开(公告)日：2013-08-06

申请号：US12588532

申请日：2009-10-19

申请人： Han Woong Yoo ,  KyoungLae Cho ,  Seung-Hwan Song ,  Heeseok Eun ,  Hong Rak Son

发明人： Han Woong Yoo ,  KyoungLae Cho ,  Seung-Hwan Song ,  Heeseok Eun ,  Hong Rak Son

IPC分类号： G11C11/34 ,  G11C16/04

CPC分类号： G11C16/3427 ,  G11C11/5628 ,  G11C11/5642 ,  G11C16/0483 ,  G11C16/3418 ,  G11C16/3454 ,  G11C16/3459 ,  G11C2211/5621 ,  G11C2211/5634

摘要： Disclosed is an access method of a non-volatile memory device which comprises detecting a threshold voltage variation of a first memory cell, the a threshold voltage variation of the first memory cell being capable of physically affecting a second memory cell; and assigning the second memory cell to a selected sub-distribution from among a plurality of sub-distributions according to a distance of the threshold voltage variation of the first memory cell, the plurality of sub-distributions corresponding to a target distribution of the second memory cell.

摘要翻译： 公开了一种非易失性存储器件的存取方法，包括检测第一存储单元的阈值电压变化，第一存储单元的阈值电压变化能够物理地影响第二存储器单元; 以及根据所述第一存储器单元的阈值电压变化的距离，从所述多个子分布中将所述第二存储器单元分配给所选择的子分布，所述多个子分布对应于所述第二存储器的目标分布 细胞。

公开(公告)号：US08417988B2

公开(公告)日：2013-04-09

申请号：US12784683

申请日：2010-05-21

申请人： Yong-June Kim ,  Junjin Kong ,  Jaehong Kim ,  Han Woong Yoo

发明人： Yong-June Kim ,  Junjin Kong ,  Jaehong Kim ,  Han Woong Yoo

IPC分类号： G06F11/26 ,  G06F11/00

CPC分类号： G11C29/82

摘要： Memory systems and related defective block management methods are provided. Methods for managing a defective block in a memory device include allocating a defective block when a memory block satisfies a defective block condition. The allocated defective block is cancelled when the allocated defective block satisfies a defective block cancellation condition.

摘要翻译： 提供了存储器系统和相关的有缺陷的块管理方法。 用于管理存储器件中的缺陷块的方法包括当存储器块满足缺陷块状态时分配缺陷块。 当分配的缺陷块满足缺陷块取消条件时，分配的缺陷块被取消。

公开(公告)号：US08331144B2

公开(公告)日：2012-12-11

申请号：US12575735

申请日：2009-10-08

申请人： Han Woong Yoo ,  Seung-Hwan Song ,  Junjin Kong ,  Heeseok Eun

发明人： Han Woong Yoo ,  Seung-Hwan Song ,  Junjin Kong ,  Heeseok Eun

IPC分类号： G11C11/34

CPC分类号： G11C11/5628 ,  G11C2211/5621

摘要： Disclosed is a program method of a non-volatile memory device which comprises classifying plural memory cells into aggressor cells and victim cells based on program data to be written in the plural memory cells; and programming the aggressor cells by a program manner different from the victim cells.

摘要翻译： 本发明公开了一种非易失性存储器件的程序方法，该方法包括：根据要写入多个存储器单元的程序数据，将多个存储单元分为侵略单元和受害单元; 并且通过与受害细胞不同的程序方式对攻击者细胞进行编程。

公开(公告)号：US20100149868A1

公开(公告)日：2010-06-17

申请号：US12588532

申请日：2009-10-19

申请人： Han Woong Yoo ,  KyoungLae Cho ,  Seung-Hwan Song ,  Heeseok Eun ,  Hong Rak Son

发明人： Han Woong Yoo ,  KyoungLae Cho ,  Seung-Hwan Song ,  Heeseok Eun ,  Hong Rak Son

IPC分类号： G11C16/04

CPC分类号： G11C16/3427 ,  G11C11/5628 ,  G11C11/5642 ,  G11C16/0483 ,  G11C16/3418 ,  G11C16/3454 ,  G11C16/3459 ,  G11C2211/5621 ,  G11C2211/5634

摘要： Disclosed is an access method of a non-volatile memory device which comprises detecting a threshold voltage variation of a first memory cell, the a threshold voltage variation of the first memory cell being capable of physically affecting a second memory cell; and assigning the second memory cell to a selected sub-distribution from among a plurality of sub-distributions according to a distance of the threshold voltage variation of the first memory cell, the plurality of sub-distributions corresponding to a target distribution of the second memory cell.

摘要翻译： 公开了一种非易失性存储器件的存取方法，包括检测第一存储单元的阈值电压变化，第一存储单元的阈值电压变化能够物理地影响第二存储器单元; 以及根据所述第一存储器单元的阈值电压变化的距离，从所述多个子分布中将所述第二存储器单元分配给所选择的子分布，所述多个子分布对应于所述第二存储器的目标分布 细胞。