公开(公告)号：US20100315110A1

公开(公告)日：2010-12-16

申请号：US12569474

申请日：2009-09-29

申请人： Andreas Armin Fenner ,  Geoffrey Batchelder ,  Paul F. Gerrish ,  Lary R. Larson ,  Anna J. Malin ,  Trevor D. Marrott ,  Tyler Mueller ,  David A. Ruben

发明人： Andreas Armin Fenner ,  Geoffrey Batchelder ,  Paul F. Gerrish ,  Lary R. Larson ,  Anna J. Malin ,  Trevor D. Marrott ,  Tyler Mueller ,  David A. Ruben

IPC分类号： G01R31/02 ,  G01R1/04

CPC分类号： H05K1/144 ,  H01L23/3107 ,  H01L23/3185 ,  H01L23/564 ,  H01L24/05 ,  H01L24/06 ,  H01L24/80 ,  H01L24/81 ,  H01L24/94 ,  H01L25/0657 ,  H01L2224/0401 ,  H01L2224/05541 ,  H01L2224/0556 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2224/16 ,  H01L2224/818 ,  H01L2224/81894 ,  H01L2224/83894 ,  H01L2225/06513 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/01013 ,  H01L2924/01014 ,  H01L2924/01022 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01032 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/0105 ,  H01L2924/01074 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/014 ,  H01L2924/12042 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/15788 ,  H01L2924/19041 ,  H01L2924/3025 ,  H05K1/0298 ,  H05K1/11 ,  H05K2201/041 ,  Y10T29/49117 ,  Y10T29/49147 ,  H01L2224/05552 ,  H01L2924/00

摘要： Electrical circuit apparatus and methods including hermeticity testing structures for testing the hermeticity of the electrical circuit apparatus.

摘要翻译： 包括用于测试电路装置的气密性的气密性测试结构的电路装置和方法。

公开(公告)号：US20100314149A1

公开(公告)日：2010-12-16

申请号：US12569431

申请日：2009-09-29

申请人： Paul F. Gerrish ,  Geoffrey Batchelder ,  Andreas Armin Fenner ,  Lary R. Larson ,  Anna J. Malin ,  Michael F. Mattes ,  Tyler Mueller ,  David A. Ruben ,  Larry E. Tyler

发明人： Paul F. Gerrish ,  Geoffrey Batchelder ,  Andreas Armin Fenner ,  Lary R. Larson ,  Anna J. Malin ,  Michael F. Mattes ,  Tyler Mueller ,  David A. Ruben ,  Larry E. Tyler

IPC分类号： H05K5/06

CPC分类号： H05K1/144 ,  H01L23/3107 ,  H01L23/3185 ,  H01L23/564 ,  H01L24/05 ,  H01L24/06 ,  H01L24/80 ,  H01L24/81 ,  H01L24/94 ,  H01L25/0657 ,  H01L2224/0401 ,  H01L2224/05541 ,  H01L2224/0556 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2224/16 ,  H01L2224/80895 ,  H01L2224/80896 ,  H01L2224/80986 ,  H01L2224/818 ,  H01L2224/81894 ,  H01L2224/83894 ,  H01L2225/06513 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/01013 ,  H01L2924/01014 ,  H01L2924/01022 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01032 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/0105 ,  H01L2924/01074 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/014 ,  H01L2924/12042 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/15788 ,  H01L2924/19041 ,  H01L2924/3025 ,  H05K1/0298 ,  H05K1/11 ,  H05K2201/041 ,  Y10T29/49117 ,  Y10T29/49147 ,  H01L2224/05552 ,  H01L2924/00

摘要： Hermetically-sealed electrical circuit apparatus and methods for constructing such apparatus using one or more seal portions.

摘要翻译： 气密密封电路装置和使用一个或多个密封部分构造这种装置的方法。

公开(公告)号：US07902851B2

公开(公告)日：2011-03-08

申请号：US12569474

申请日：2009-09-29

申请人： Andreas Armin Fenner ,  Geoffrey Batchelder ,  Paul F. Gerrish ,  Lary R. Larson ,  Anna J. Malin ,  Trevor D. Marrott ,  Tyler Mueller ,  David A. Ruben

发明人： Andreas Armin Fenner ,  Geoffrey Batchelder ,  Paul F. Gerrish ,  Lary R. Larson ,  Anna J. Malin ,  Trevor D. Marrott ,  Tyler Mueller ,  David A. Ruben

IPC分类号： G01R31/02 ,  G01R31/26

CPC分类号： H05K1/144 ,  H01L23/3107 ,  H01L23/3185 ,  H01L23/564 ,  H01L24/05 ,  H01L24/06 ,  H01L24/80 ,  H01L24/81 ,  H01L24/94 ,  H01L25/0657 ,  H01L2224/0401 ,  H01L2224/05541 ,  H01L2224/0556 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2224/16 ,  H01L2224/818 ,  H01L2224/81894 ,  H01L2224/83894 ,  H01L2225/06513 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/01013 ,  H01L2924/01014 ,  H01L2924/01022 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01032 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/0105 ,  H01L2924/01074 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/014 ,  H01L2924/12042 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/15788 ,  H01L2924/19041 ,  H01L2924/3025 ,  H05K1/0298 ,  H05K1/11 ,  H05K2201/041 ,  Y10T29/49117 ,  Y10T29/49147 ,  H01L2224/05552 ,  H01L2924/00

摘要： Electrical circuit apparatus and methods including hermeticity testing structures for testing the hermeticity of the electrical circuit apparatus.

摘要翻译： 包括用于测试电路装置的气密性的气密性测试结构的电路装置和方法。