公开(公告)号：US07685485B2

公开(公告)日：2010-03-23

申请号：US10698739

申请日：2003-10-30

申请人： Binh Vo ,  Wan-Pin Hung ,  David Huang ,  Peter Boyle ,  Qi Richard Chen ,  Kaiyu Ren ,  Adam J. Wright ,  John DiCosola ,  Laiq Chughtai ,  Seng Yew Lim

发明人： Binh Vo ,  Wan-Pin Hung ,  David Huang ,  Peter Boyle ,  Qi Richard Chen ,  Kaiyu Ren ,  Adam J. Wright ,  John DiCosola ,  Laiq Chughtai ,  Seng Yew Lim

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31935 ,  G01R31/31705 ,  G01R31/318516

摘要： Techniques are provided for isolating failed routing resources on a programmable circuit. Failing test patterns and the test logs are fed to a Statistical Failure Isolation (SFI) tool. The SFI tool extracts failing paths from the test patterns. A statistical analysis is performed on interconnect resources related to failing paths. The resources on the paths are then tallied to create a histogram of resources. These resources are then be fed into an Adaptive Failure Isolation (AFI) tool to auto-generate verification patterns. A tester uses the verification patterns to isolate failed interconnect resources.

摘要翻译： 提供了用于隔离可编程电路上的故障路由资源的技术。 失败的测试模式和测试日志被馈送到统计失效隔离（SFI）工具。 SFI工具提取测试模式的失败路径。 对与故障路径相关的互连资源进行统计分析。 然后对路径上的资源进行计算，以创建资源直方图。 然后将这些资源馈送到自适应故障隔离（AFI）工具中，以自动生成验证模式。 测试人员使用验证模式来隔离故障的互连资源。

公开(公告)号：US07319341B1

公开(公告)日：2008-01-15

申请号：US10653045

申请日：2003-08-28

申请人： Michael Harms ,  Eric C. Chang ,  Paul Tracy ,  John DiCosola ,  Mandrita Brahmachari

发明人： Michael Harms ,  Eric C. Chang ,  Paul Tracy ,  John DiCosola ,  Mandrita Brahmachari

IPC分类号： G01R31/26

CPC分类号： G01R1/06794

摘要： The present invention is a novel method and computer program product which utilizes an interface capacitor formed by the metal of the probe tip, a dielectric layer, such as an oxide, formed by a contaminant on a solder bump and the metal of the solder bump. The interface capacitor forms a capacitive divider with the inherent capacitances of the automatic test equipment and the device under test (DUT). The voltage characteristics of the capacitive divider are used to drive voltage signals across the interface capacitor to test the DUT. In either direction (i.e. from the automatic test equipment to the DUT or vice versa), by altering the voltage output high amplitude of the driver and/or the voltage input high amplitude of the load, the DUT is validly tested through the interface capacitor. Thus, even if all I/O bumps have an oxide layer, the device may still be validly tested.

摘要翻译： 本发明是一种新颖的方法和计算机程序产品，其利用由探针尖端的金属形成的界面电容器，由焊料凸块上的污染物和焊料凸块的金属形成的诸如氧化物的电介质层。 接口电容器形成具有自动测试设备和被测器件（DUT）固有电容的电容分压器。 电容分压器的电压特性用于驱动跨接口电容器的电压信号来测试DUT。 在任一方向（即从自动测试设备到DUT或反之亦然），通过改变驱动器的电压输出高幅度和/或负载的电压输入高幅度，通过接口电容器有效地测试DUT。 因此，即使所有I / O凸块都具有氧化物层，该器件仍然可以被有效地测试。

公开(公告)号：US20050022085A1

公开(公告)日：2005-01-27

申请号：US10698739

申请日：2003-10-30

申请人： Binh Vo ,  Wan-Pin Hung ,  David Huang ,  Peter Boyle ,  Qi Chen ,  Kaiyu Ren ,  Adam Wright ,  John DiCosola ,  Laiq Chughtai ,  Seng Lim

发明人： Binh Vo ,  Wan-Pin Hung ,  David Huang ,  Peter Boyle ,  Qi Chen ,  Kaiyu Ren ,  Adam Wright ,  John DiCosola ,  Laiq Chughtai ,  Seng Lim

IPC分类号： G01R31/317 ,  G01R31/3185 ,  G01R31/3193 ,  G01R31/28 ,  G06F11/00

CPC分类号： G01R31/31935 ,  G01R31/31705 ,  G01R31/318516

摘要： Techniques are provided for isolating failed routing resources on a programmable circuit. Failing test patterns and the test logs are fed to a Statistical Failure Isolation (SFI) tool. The SFI tool extracts failing paths from the test patterns. A statistical analysis is performed on interconnect resources related to failing paths. The resources on the paths are then tallied to create a histogram of resources. These resources are then be fed into an Adaptive Failure Isolation (AFI) tool to auto-generate verification patterns. A tester uses the verification patterns to isolate failed interconnect resources.

摘要翻译： 提供了用于隔离可编程电路上的故障路由资源的技术。 失败的测试模式和测试日志被馈送到统计失效隔离（SFI）工具。 SFI工具提取测试模式的失败路径。 对与故障路径相关的互连资源进行统计分析。 然后对路径上的资源进行计算，以创建资源直方图。 然后将这些资源馈送到自适应故障隔离（AFI）工具中，以自动生成验证模式。 测试人员使用验证模式来隔离故障的互连资源。