公开(公告)号：US20110168350A1

公开(公告)日：2011-07-14

申请号：US12984128

申请日：2011-01-04

申请人： Kayoko KAWANO

发明人： Kayoko KAWANO

IPC分类号： F28F9/00 ,  B23P11/00

CPC分类号： H01L23/4093 ,  H01L23/40 ,  H01L2924/0002 ,  Y10T24/44017 ,  Y10T29/49826 ,  H01L2924/00

摘要： A heat sink for cooling a device mounted on a mount board, the heat sink having a plurality of grooves at different heights in a surface opposite a surface in contact with the device.

摘要翻译： 一种用于冷却安装在安装板上的装置的散热器，所述散热器具有在与所述装置接触的表面相对的表面中的不同高度处的多个凹槽。

公开(公告)号：US08902592B2

公开(公告)日：2014-12-02

申请号：US12984128

申请日：2011-01-04

申请人： Kayoko Kawano

发明人： Kayoko Kawano

IPC分类号： H01L23/40

CPC分类号： H01L23/4093 ,  H01L23/40 ,  H01L2924/0002 ,  Y10T24/44017 ,  Y10T29/49826 ,  H01L2924/00

摘要： A heat sink for cooling a device mounted on a mount board, the heat sink having a plurality of grooves at different heights in a surface opposite a surface in contact with the device.

摘要翻译： 一种用于冷却安装在安装板上的装置的散热器，所述散热器具有在与所述装置接触的表面相对的表面中的不同高度处的多个凹槽。

公开(公告)号：US5898704A

公开(公告)日：1999-04-27

申请号：US878121

申请日：1997-06-18

申请人： Kayoko Kawano

发明人： Kayoko Kawano

IPC分类号： G11C16/02 ,  G01R31/3185 ,  G06F11/22 ,  G11C29/32 ,  G11C29/48 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318558 ,  G11C29/32 ,  G11C29/48

摘要： A processing system having a testing mechanism that can read out data from a memory such as a ROM without increasing the number of logic circuits to simplify the circuit construction by utilizing the testing mechanism. The processing system includes an address register in the testing mechanism of a chip part connected to the memory in parallel with the other registers, a selector for selecting and sending out either test data from the testing mechanisms or read-out data from the memory. A control unit is further provided so as to set a leading address of the data to be read out from the memory to the address register by the shift operation, to switch the selector to send out the read-out data from the memory, and then, to count up the address of the address register in accordance with a data number to read out, and to read out the data from the memory. This processing system can be applied to a system having the testing mechanism of a JTAG circuit and the like.

摘要翻译： 一种具有测试机构的处理系统，其可以从ROM等存储器读出数据，而不增加逻辑电路的数量，以通过利用测试机构简化电路结构。 处理系统包括与其他寄存器并行连接到存储器的芯片部分的测试机制中的地址寄存器，用于从测试机制中选择和发送测试数据或从存储器读出数据的选择器。 进一步提供控制单元，以通过移位操作将要从存储器读出的数据的引导地址设置到地址寄存器，以切换选择器以从存储器发出读出数据，然后 ，根据要读出的数据号对地址寄存器的地址进行计数，并从存储器中读出数据。 该处理系统可以应用于具有JTAG电路等的测试机构的系统。

公开(公告)号：US5841792A

公开(公告)日：1998-11-24

申请号：US718872

申请日：1996-09-24

申请人： Kayoko Kawano ,  Yasushi Takaki

发明人： Kayoko Kawano ,  Yasushi Takaki

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  G01R31/319 ,  G06F11/22 ,  G06F11/273

CPC分类号： G06F11/2635 ,  G01R31/31908 ,  G06F2201/865

摘要： In a processing system having a testing mechanism for implementing a test on a high density packaging printed circuit board, a data storing unit has an object chip component set unit in which information as to at least one object chip component is set in order to designate the object chip component, a data storage for object chip component for holding therein data that should be written into a register of the object chip component, and a data control unit for writing data held in the data storage for object chip component into the register of the object chip component set in the object chip component set unit in a shifting operation, whereby predetermined data may be written in a register in the testing mechanism without causing an increase of the number of registers for setting data or a storage region used to set data therein so as to simplify a system structure or improve an efficiency of a data setting process.

摘要翻译： 在具有用于对高密度封装印刷电路板进行测试的测试机构的处理系统中，数据存储单元具有目标芯片组件设置单元，其中设置关于至少一个目标芯片组件的信息以指定 对象芯片组件，用于保存应写入对象芯片组件的寄存器的数据的对象芯片组件的数据存储器和用于将保存在对象芯片组件的数据存储器中的数据写入到对象芯片组件的寄存器中的数据控制单元 对象芯片组件设置在移动操作中的目标芯片组件设置单元中，从而可以将预定数据写入测试机构中的寄存器，而不会增加用于设置数据的寄存器数量或用于设置数据的存储区域 以便简化系统结构或提高数据设置过程的效率。

公开(公告)号：US5781560A

公开(公告)日：1998-07-14

申请号：US902950

申请日：1997-07-30

申请人： Kayoko Kawano ,  Yasushi Takaki ,  Shinichi Sutou ,  Kazuhiro Hara

发明人： Kayoko Kawano ,  Yasushi Takaki ,  Shinichi Sutou ,  Kazuhiro Hara

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/3185 ,  G06F11/22 ,  G06F11/273

CPC分类号： G06F11/2736 ,  G01R31/318536

摘要： A method and system testing device for testing a printed circuit board includes a JTAG circuit provided with a JTAG instruction storage unit for storing a command to control a system logic circuit; and a JTAG data storage unit for storing data used to control the system logic circuit. The system testing device tests the system logic circuit in an LSI by selectively inputting/outputting data to a boundary scan register, a bypass register, the JTAG instruction storage unit, and the JTAG data storage unit.

摘要翻译： 一种用于测试印刷电路板的方法和系统测试装置包括一个JTAG电路，该JTAG电路设有用于存储控制系统逻辑电路的命令的JTAG指令存储单元; 以及用于存储用于控制系统逻辑电路的数据的JTAG数据存储单元。 系统测试装置通过选择性地向边界扫描寄存器，旁路寄存器，JTAG指令存储单元和JTAG数据存储单元输入/输出数据来测试LSI中的系统逻辑电路。

公开(公告)号：US5721821A

公开(公告)日：1998-02-24

申请号：US654787

申请日：1996-05-28

申请人： Kayoko Kawano ,  Satoshi Sugiura ,  Yasushi Takaki

发明人： Kayoko Kawano ,  Satoshi Sugiura ,  Yasushi Takaki

IPC分类号： G06F15/16 ,  G06F11/00 ,  G06F11/22 ,  G06F11/273 ,  G06F13/00 ,  G06F13/36 ,  G06F13/38 ,  G06F15/173 ,  H04L12/42

CPC分类号： G06F11/2736 ,  H04L12/42 ,  G06F11/22

摘要： An information processing system has a plurality of information processing units. Each information processing unit has a system console interface control unit (SCI) connected to an information processing unit body (COM) and a service processor (SVP). The plurality of system console interface control units (SCI) are connected each other in a ring fashion. Each system console interface control unit (SCI) has a processing devcice for processing an interface between the self-service processor (SVP0) and the other-information processing unit body (COM1).

摘要翻译： 信息处理系统具有多个信息处理单元。 每个信息处理单元具有连接到信息处理单元主体（COM）和服务处理器（SVP）的系统控制台接口控制单元（SCI）。 多个系统控制台接口控制单元（SCI）以环形方式彼此连接。 每个系统控制台接口控制单元（SCI）具有用于处理自助处理器（SVP0）和其他信息处理单元主体（COM1）之间的接口的处理设备。