公开(公告)号：US08306428B2

公开(公告)日：2012-11-06

申请号：US12833197

申请日：2010-07-09

申请人： Jin-Wei Shi ,  Nan-Wei Chen ,  Feng-Ming Kuo ,  Hsuan-Ju Tsai

发明人： Jin-Wei Shi ,  Nan-Wei Chen ,  Feng-Ming Kuo ,  Hsuan-Ju Tsai

IPC分类号： H04B10/00

CPC分类号： H04B1/40 ,  H04B2210/006

摘要： An optoelectronic switch using millimeter wavelength (MMW) is provided. An r voltage pulse is applied to a device under test (DUT) for switching the photo-generated MMW power The DUT is operated under reverse bias. An optical light source with modulated MMW envelop is injected on to DUT for MMW power generation. Thus, based on change of the reverse bias, speed is violently changed and the MMW optoelectronic switch is thus obtained.

摘要翻译： 提供了使用毫米波长（MMW）的光电开关。 对被测器件（DUT）施加r电压脉冲，用于切换光电产生的MMW功率DUT以反向偏置运行。 将具有调制MMW包络的光学光源注入到用于MMW发电的DUT上。 因此，基于反向偏压的变化，速度剧烈变化，从而获得MMW光电开关。

公开(公告)号：US20110309269A1

公开(公告)日：2011-12-22

申请号：US12949012

申请日：2010-11-18

申请人： Jin-Wei Shi ,  Tzi-hong Chiueh ,  Nan-Wei Chen ,  Feng-Ming Kuo ,  Hsuan-Ju Tsai ,  Hsiao-Feng Teng

发明人： Jin-Wei Shi ,  Tzi-hong Chiueh ,  Nan-Wei Chen ,  Feng-Ming Kuo ,  Hsuan-Ju Tsai ,  Hsiao-Feng Teng

IPC分类号： H01S3/10

CPC分类号： G02F2/002

摘要： A photonic generator is provided. The photonic generator uses ultra-wide band millimeter wave (MMW) for generating a high-power ultra-broad band white noise. Thus, the present disclosure can be used for failure detection of instantaneous all-band device, noise detection of instantaneous all-band amplifier and mixer, wide-band cipher transmission, pseudo-random bit generation, ADC dithering of analog-digital converter, saturation power test of wide-band optical communicator, system noise detection of MMW receiver, and gain and phase detection of MMW interferometer.

摘要翻译： 提供光子发生器。 光子发生器使用超宽带毫米波（MMW）产生大功率超宽带白噪声。 因此，本公开可以用于瞬时全频带设备的故障检测，瞬时全频带放大器和混频器的噪声检测，宽带密码传输，伪随机位产生，模数转换器的ADC抖动，饱和度 宽带光通信器的功率测试，MMW接收机的系统噪声检测，以及MMW干涉仪的增益和相位检测。

公开(公告)号：US20110142451A1

公开(公告)日：2011-06-16

申请号：US12833197

申请日：2010-07-09

申请人： Jin-Wei Shi ,  Nan-Wei Chen ,  Feng-Ming Kuo ,  Hsuan-Ju Tsai

发明人： Jin-Wei Shi ,  Nan-Wei Chen ,  Feng-Ming Kuo ,  Hsuan-Ju Tsai

IPC分类号： H04B10/00

CPC分类号： H04B1/40 ,  H04B2210/006

摘要： An optoelectronic switch using millimeter wavelength (MMW) is provided. An r voltage pulse is applied to a device under test (DUT) for switching the photo-generated MMW power The DUT is operated under reverse bias. An optical light source with modulated MMW envelop is injected on to DUT for MMW power generation. Thus, based on change of the reverse bias, speed is violently changed and the MMW optoelectronic switch is thus obtained.

摘要翻译： 提供了使用毫米波长（MMW）的光电开关。 对被测器件（DUT）施加r电压脉冲，用于切换光电产生的MMW功率DUT以反向偏置运行。 将具有调制MMW包络的光学光源注入到用于MMW发电的DUT上。 因此，基于反向偏压的变化，速度剧烈变化，从而获得MMW光电开关。

公开(公告)号：US08483578B2

公开(公告)日：2013-07-09

申请号：US12949012

申请日：2010-11-18

申请人： Jin-Wei Shi ,  Tzi-hong Chiueh ,  Nan-Wei Chen ,  Feng-Ming Kuo ,  Hsuan-Ju Tsai ,  Hsiao-Feng Teng

发明人： Jin-Wei Shi ,  Tzi-hong Chiueh ,  Nan-Wei Chen ,  Feng-Ming Kuo ,  Hsuan-Ju Tsai ,  Hsiao-Feng Teng

IPC分类号： H04B10/04 ,  H04B10/00

CPC分类号： G02F2/002

摘要： A photonic generator is provided. The photonic generator uses ultra-wide band millimeter wave (MMW) for generating a high-power ultra-broad band white noise. Thus, the present disclosure can be used for failure detection of instantaneous all-band device, noise detection of instantaneous all-band amplifier and mixer, wide-band cipher transmission, pseudo-random bit generation, ADC dithering of analog-digital converter, saturation power test of wide-band optical communicator, system noise detection of MMW receiver, and gain and phase detection of MMW interferometer.

摘要翻译： 提供光子发生器。 光子发生器使用超宽带毫米波（MMW）产生大功率超宽带白噪声。 因此，本公开可以用于瞬时全频带设备的故障检测，瞬时全频带放大器和混频器的噪声检测，宽带密码传输，伪随机位产生，模数转换器的ADC抖动，饱和度 宽带光通信器的功率测试，MMW接收机的系统噪声检测，以及MMW干涉仪的增益和相位检测。

公开(公告)号：US08368162B2

公开(公告)日：2013-02-05

申请号：US13035015

申请日：2011-02-25

申请人： Jin-Wei Shi ,  Feng-Ming Kuo

发明人： Jin-Wei Shi ,  Feng-Ming Kuo

IPC分类号： H01L31/075

CPC分类号： H01L31/105 ,  H01L31/02327

摘要： The present disclosure provides a high-speed laser power converter (LPC). The LPC is able to be cascaded. The LPC has a high-speed photodiode (PD) performance even operated under a forward bias operational voltage. Thus, the present disclosure can generate power (instead of consume power) during high-speed data transmission in an optical interconnect (OI) system using 850 nano-meters (nm) wavelength vertical cavity surface-emitting laser (VCSEL).

摘要翻译： 本公开提供了一种高速激光功率转换器（LPC）。 LPC能够级联。 LPC具有甚至在正向偏置工作电压下工作的高速光电二极管（PD）性能。 因此，本公开可以在使用850纳米（nm）波长的垂直腔表面发射激光器（VCSEL）的光学互连（OI）系统中在高速数据传输期间产生功率（而不是消耗功率）。

公开(公告)号：US08288808B2

公开(公告)日：2012-10-16

申请号：US12957607

申请日：2010-12-01

申请人： Jin-Wei Shi ,  Feng-Ming Kuo

发明人： Jin-Wei Shi ,  Feng-Ming Kuo

IPC分类号： H01L31/062 ,  H01L31/113

CPC分类号： H01L27/1446 ,  G01J1/44 ,  H01L25/042 ,  H01L27/1443 ,  H01L31/02019 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： The present disclosure uses at least two cascaded photodetectors. Device area is increased to provide a bigger current than a single photodetector under the same bandwidth. Hence, bandwidth efficiency (BRP) and saturation current-bandwidth product (SCBP) are improved for a high speed, a high responsivity and a high bandwidth with simple structure and low cost.

摘要翻译： 本公开使用至少两个级联的光电检测器。 在相同带宽下，器件面积增加以提供比单个光电探测器更大的电流。 因此，带宽效率（BRP）和饱和电流带宽乘积（SCBP）在高速度，高响应度和高带宽方面得到改进，结构简单，成本低。

公开(公告)号：US20120153417A1

公开(公告)日：2012-06-21

申请号：US13035015

申请日：2011-02-25

申请人： Jin-Wei Shi ,  Feng-Ming Kuo

发明人： Jin-Wei Shi ,  Feng-Ming Kuo

IPC分类号： H01L31/0232

CPC分类号： H01L31/105 ,  H01L31/02327

摘要： The present disclosure provides a high-speed laser power converter (LPC). The LPC is able to be cascaded. The LPC has a high-speed photodiode (PD) performance even operated under a forward bias operational voltage. Thus, the present disclosure can generate power (instead of consume power) during high-speed data transmission in an optical interconnect (OI) system using 850 nano-meters (nm) wavelength vertical cavity surface-emitting laser (VCSEL).

摘要翻译： 本公开提供了一种高速激光功率转换器（LPC）。 LPC能够级联。 LPC具有甚至在正向偏置工作电压下工作的高速光电二极管（PD）性能。 因此，本公开可以在使用850纳米（nm）波长的垂直腔表面发射激光器（VCSEL）的光学互连（OI）系统中在高速数据传输期间产生功率（而不是消耗功率）。

公开(公告)号：US20110309459A1

公开(公告)日：2011-12-22

申请号：US12957607

申请日：2010-12-01

申请人： Jin-Wei Shi ,  Feng-Ming Kuo

发明人： Jin-Wei Shi ,  Feng-Ming Kuo

IPC分类号： H01L27/144

CPC分类号： H01L27/1446 ,  G01J1/44 ,  H01L25/042 ,  H01L27/1443 ,  H01L31/02019 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： The present disclosure uses at least two cascaded photodetectors. Device area is increased to provide a bigger current than a single photodetector under the same bandwidth. Hence, bandwidth efficiency (BRP) and saturation current-bandwidth product (SCBP) are improved for a high speed, a high responsivity and a high bandwidth with simple structure and low cost.

摘要翻译： 本公开使用至少两个级联的光电检测器。 在相同带宽下，器件面积增加以提供比单个光电探测器更大的电流。 因此，带宽效率（BRP）和饱和电流带宽乘积（SCBP）在高速度，高响应度和高带宽方面得到改进，结构简单，成本低。

公开(公告)号：US20070016879A1

公开(公告)日：2007-01-18

申请号：US11180743

申请日：2005-07-12

申请人： Feng-Ming Kuo

发明人： Feng-Ming Kuo

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5081 ,  G01R31/318342

摘要： A method is disclosed for identifying a physical failure location on an IC without using layout-versus-schematic (LVS) verification tool. In the method, the integrated circuit is tested with one or more test patterns to identify a failure port thereon. Hierarchical information of the failure port is generated through the test patterns. A physical location of the failure port in a layout of the integrated circuit is identified through a relation between the hierarchical information and a floor plan report. Layout information of a routing path associated with the physical location of the failure port is retrieved from a layout database.

摘要翻译： 公开了一种用于识别IC上的物理故障位置的方法，而不使用布局相对于示意图（LVS）验证工具。 在该方法中，利用一个或多个测试模式来测试集成电路以识别其上的故障端口。 故障端口的分层信息通过测试模式生成。 集成电路布局中的故障端口的物理位置通过分层信息和平面图报告之间的关系来识别。 从布局数据库检索与故障端口的物理位置相关联的路由路径的布局信息。

公开(公告)号：US20050177264A1

公开(公告)日：2005-08-11

申请号：US10708059

申请日：2004-02-06

申请人： Long-Hui Lin ,  Feng-Ming Kuo ,  Su-Fen Cheng

发明人： Long-Hui Lin ,  Feng-Ming Kuo ,  Su-Fen Cheng

IPC分类号： G06F19/00

CPC分类号： G01N21/93 ,  Y10S707/99943

摘要： First, a wafer with a plurality of defects generated in a first semiconductor process is provided. A defect inspection is performed to detect the defects on the wafer. Then, an automatic defect classification is performed according to a predetermined defect database having a defect classification recipe generated from a second semiconductor process. After that, a verifying process is further performed by comparing the result of the automatic defect classification with that of a manual defect classification to verify the accuracy of the automatic defect classification.

摘要翻译： 首先，提供在第一半导体工艺中产生的具有多个缺陷的晶片。 执行缺陷检查以检测晶片上的缺陷。 然后，根据具有从第二半导体处理产生的缺陷分类配方的预定缺陷数据库执行自动缺陷分类。 之后，通过将自动缺陷分类的结果与手动缺陷分类的结果进行比较来进一步执行验证处理，以验证自动缺陷分类的准确性。