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    Method and apparatus for measuring and evaluating local electrical characteristics of a sample having a nano-scale structure
    1.
    发明授权
    Method and apparatus for measuring and evaluating local electrical characteristics of a sample having a nano-scale structure 有权
    用于测量和评估具有纳米级结构的样品的局部电特性的方法和装置

    公开(公告)号：US07088120B2

    公开(公告)日：2006-08-08

    申请号：US11065025

    申请日：2005-02-25

    申请人： Takuya Matsumoto ,  Yoicho Otsuka ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tomoji Kawai

    发明人： Takuya Matsumoto ,  Yoicho Otsuka ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tomoji Kawai

    IPC分类号： G01R31/02 ,  G01R27/08

    CPC分类号： G01Q60/34

    摘要： A probe device including a cantilever. A probe is attached to the cantilever and is allocated to be opposed to a surface of a sample attached thereto. An apparatus is provided with the probe device, which is capable of carrying out measurement of the sample while switching at a predetermined period two operating modes, a tapping mode for measuring a surface structure of the sample while vibrating the cantilever and a point contact mode for measuring an electrical characteristic of the sample while bringing the probe into contact with the sample.

    摘要翻译： 包括悬臂的探针装置。 将探针连接到悬臂并被分配成与附接到其上的样品的表面相对。 一种装置设置有探针装置，其能够在以预定周期切换两个操作模式的同时进行样品的测量，用于在振动悬臂时测量样品的表面结构的敲击模式和点接触模式 在使探针与样品接触的同时测量样品的电特性。

    Probe device
    2.
    发明授权
    Probe device 失效
    探头设备

    公开(公告)号：US07250602B2

    公开(公告)日：2007-07-31

    申请号：US11065273

    申请日：2005-02-25

    申请人： Takuya Matsumoto ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tomoji Kawai

    发明人： Takuya Matsumoto ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tomoji Kawai

    IPC分类号： G21K27/00 ,  G01N23/00 ,  G01N21/00 ,  G01B5/28

    CPC分类号： G01Q60/34

    摘要： A probe device comprises a cantilever comprising a probe allocated to be opposed to a surface of a sample, means for feeding back a vibration amplitude value of the cantilever, thereby self-exciting and vibrating the cantilever at a predetermined frequency, means for applying a bias to the sample or the probe, and means for measuring a frequency shift caused by a charge-transfer force which acts between the cantilever and the sample.

    摘要翻译： 探针装置包括悬臂，其包括分配为与样品的表面相对的探针，用于反馈悬臂的振幅值的装置，从而以预定频率自激励和振动悬臂，用于施加偏压的装置 到样品或探针，以及用于测量由在悬臂和样品之间作用的电荷转移力引起的频移的装置。

    Probe device
    3.
    发明申请
    Probe device 失效
    探头设备

    公开(公告)号：US20050139770A1

    公开(公告)日：2005-06-30

    申请号：US11065273

    申请日：2005-02-25

    申请人： Takuya Matsumoto ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tomoji Kawai

    发明人： Takuya Matsumoto ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tomoji Kawai

    IPC分类号： G01Q60/34 ,  G21K7/00 ,  G01N23/00

    CPC分类号： G01Q60/34

    摘要： A probe device comprises a cantilever comprising a probe allocated to be opposed to a surface of a sample, means for feeding back a vibration amplitude value of the cantilever, thereby self-exciting and vibrating the cantilever at a predetermined frequency, means for applying a bias to the sample or the probe, and means for measuring a frequency shift caused by a charge-transfer force which acts between the cantilever and the sample.

    摘要翻译： 探针装置包括悬臂，其包括分配为与样品的表面相对的探针，用于反馈悬臂的振幅值的装置，从而以预定频率自激励和振动悬臂，用于施加偏压的装置 到样品或探针，以及用于测量由在悬臂和样品之间作用的电荷转移力引起的频移的装置。

    Probe device and method of controlling the same
    4.
    发明申请
    Probe device and method of controlling the same 有权
    探头装置及其控制方法

    公开(公告)号：US20050140387A1

    公开(公告)日：2005-06-30

    申请号：US11065025

    申请日：2005-02-25

    申请人： Takuya Matsumoto ,  Yoichi Otsuka ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tomoji Kawai

    发明人： Takuya Matsumoto ,  Yoichi Otsuka ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tomoji Kawai

    IPC分类号： G01Q60/00 ,  G01Q60/34 ,  G01Q60/38 ,  G01Q60/40 ,  G01R31/02

    CPC分类号： G01Q60/34

    摘要： A probe device comprises a cantilever comprising a probe allocated to be opposed to a surface of a sample, and means for carrying out measurement of the sample while switching at a predetermined period two operating modes, a tapping mode for measuring a surface structure of the sample while vibrating the cantilever and a point contact mode for measuring an electrical characteristic of the sample while bringing the probe into contact with the sample.

    摘要翻译： 探针装置包括悬臂，其包括被分配为与样品的表面相对的探针，以及用于在以预定周期切换两个操作模式时进行样品的测量的装置，用于测量样品的表面结构的攻丝模式 同时振动悬臂和点接触模式，用于测量样品的电特性，同时使探针与样品接触。

    Switching element
    10.
    发明授权
    Switching element 有权
    开关元件

    公开(公告)号：US08653912B2

    公开(公告)日：2014-02-18

    申请号：US12997316

    申请日：2008-06-13

    申请人： Shigeo Furuta ,  Tsuyoshi Takahashi ,  Masatoshi Ono ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tetsuo Shimizu

    发明人： Shigeo Furuta ,  Tsuyoshi Takahashi ,  Masatoshi Ono ,  Yasuhisa Naitoh ,  Tetsuo Shimizu

    IPC分类号： H01H51/22 ,  H01H57/00

    CPC分类号： H01L45/1233 ,  H01L45/04 ,  H01L45/12 ,  H01L45/124

    摘要： There is provided a switching element which facilitates integration with higher density and lamination in a device, the switching element including: an insulating substrate; a first electrode provided on the insulating substrate; a second electrode provided above the first electrode; and a between-electrode gap section provided between the first electrode and the second electrode and including a nanometer-scale gap for causing a switching phenomenon of a resistor by applying a prescribed voltage between the first electrode and the second electrode.

    摘要翻译： 提供了一种开关元件，其有助于在器件中更高密度和层叠的集成，所述开关元件包括：绝缘基板; 设置在所述绝缘基板上的第一电极; 设置在所述第一电极上方的第二电极; 以及设置在第一电极和第二电极之间的电极间间隙，并且包括通过在第一电极和第二电极之间施加规定电压而引起电阻器的开关现象的纳米级间隙。