SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND CONTROL METHOD OF NONVOLATILE MEMORY
    51.
    发明申请
    SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND CONTROL METHOD OF NONVOLATILE MEMORY 审中-公开
    半导体存储器件和非易失性存储器的控制方法

    公开(公告)号:WO2013171806A1

    公开(公告)日:2013-11-21

    申请号:PCT/JP2012/003281

    申请日:2012-05-18

    CPC classification number: G06F11/1068 G11C2029/0411

    Abstract: It is an object to use the redundant information (ECC1, ECC16) in an efficient way by using a nonvolatile memory with a different bit error occurrence rate for every page. A memory controller adds the redundant information that is used to correct an error for each of data of a predetermined length (DATA1, DATA16) and stores the data into the nonvolatile memory in the case in which data is written to the nonvolatile memory, the memory controller reads data and the redundant information that has been added to the data from the nonvolatile memory in the case in which data is read from the nonvolatile memory, and the memory controller corrects an error based on the redundant information in the case in which the data includes an error. The memory controller stores data that is in a basic unit that is a unit of an error correction and that is configured by the data of a predetermined length and the redundant information that is added to the data of a predetermined length into a plurality of predetermined pages among the plurality of pages in a dispersed manner (CW1,.., CW16) in the case in which the data is written.

    Abstract translation: 通过使用每个页面具有不同的位错误发生率的非易失性存储器,有效地使用冗余信息(ECC1,ECC16)。 存储器控制器添加用于校正每个预定长度的数据(DATA1,DATA16)的错误的冗余信息,并且在将数据写入非易失性存储器的情况下将数据存储到非易失性存储器中,存储器 在从非易失性存储器读取数据的情况下,控制器读取数据和从非易失性存储器添加到数据中的冗余信息,并且存储器控制器在数据的情况下基于冗余信息来校正错误 包含错误。 存储器控制器存储作为纠错单元的基本单元的数据,并且将由预定长度的数据构成的数据和添加到预定长度的数据的冗余信息分配成多个预定页面 在写入数据的情况下以分散方式(CW1,...,CW16)的多个页面中。

    不揮発性論理集積回路と不揮発性レジスタの誤りビットの訂正方法
    52.
    发明申请
    不揮発性論理集積回路と不揮発性レジスタの誤りビットの訂正方法 审中-公开
    非线性逻辑集成电路和非线性寄存器错误位校正方法

    公开(公告)号:WO2013132806A1

    公开(公告)日:2013-09-12

    申请号:PCT/JP2013/001265

    申请日:2013-03-01

    CPC classification number: H03K3/0375 G06F11/1048 G11C2029/0411

    Abstract: [課題]レジスタ毎にECC回路を設けると回路規模が増大し、面積コストだけでなく消費電力も増加する。動作周波数低下を抑制しつつ全てのレジスタに対して誤り訂正が行われるようにすること。 [解決手段] 不揮発性素子を有する不揮発性論理要素回路を複数用いて構成される機能モデュールと、機能モデュールに対応して設けられたECC モデュールと、機能モデュールとECC モデュールを制御するCPU とを有する不揮発性論理集積回路。

    Abstract translation: [问题]如果为各个寄存器提供ECC电路,则电路规模将增加,并且进一步地,不仅区域成本而且功耗也将增加。 本发明的目的是安排对所有寄存器执行错误校正,同时抑制操作频率的降低。 非易失性逻辑集成电路包括:功能模块,其通过使用各自具有非易失性元件的多个非易失性逻辑元件电路来配置; 与所述功能模块相关联的ECC模块; 以及控制功能模块和ECC模块的CPU。

    半導体記憶装置、その制御方法、及び制御プログラムが格納された非一時的なコンピュータ可読媒体
    54.
    发明申请
    半導体記憶装置、その制御方法、及び制御プログラムが格納された非一時的なコンピュータ可読媒体 审中-公开
    半导体存储设备,其控制方法以及控制程序存储的非终端计算机可读介质

    公开(公告)号:WO2012169114A1

    公开(公告)日:2012-12-13

    申请号:PCT/JP2012/003132

    申请日:2012-05-14

    Inventor: 平沢 信良

    Abstract:  半導体記憶装置1は、データビット部及びパリティビット部を備えるメモリアレイ11と、アドレス情報を制御することによりメモリアレイ11のブロック構成を調整し、メモリアレイ11を一重化メモリ又は二重化メモリのいずれかとして動作させるアレイ構成制御部12と、二重化されたメモリブロックから読み出された対応する2つの読み出しデータに対してそれぞれパリティチェックを行うパリティチェック部13と、2つの読み出しデータのうちパリティチェック結果が正常である方の読み出しデータを選択的に外部制御部2に出力する選択部14とを備える。

    Abstract translation: 该半导体存储装置(1)设置有:具有数据位单元和奇偶校验位单元的存储器阵列(11) 阵列配置控制单元(12),其通过控制地址信息来调整存储器阵列(11)的块配置,以便将存储器阵列(11)操作为单路或双工存储器; 奇偶校验单元(13),用于对从双工存储块读出的对应读出数据的两个单元中的每一个进行奇偶校验; 以及选择单元(14),用于选择性地向外部控制单元(2)输出奇偶校验结果正常的两个读出数据单元的读出数据单元。

    COMPOSITE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE WITH ERROR CORRECTION
    57.
    发明申请
    COMPOSITE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE WITH ERROR CORRECTION 审中-公开
    具有错误校正的复合半导体存储器件

    公开(公告)号:WO2011116454A1

    公开(公告)日:2011-09-29

    申请号:PCT/CA2011/000229

    申请日:2011-03-02

    Inventor: KIM, Jin-Ki

    Abstract: A composite semiconductor memory device, comprising: a plurality of nonvolatile memory devices; and an interface device connected to the plurality of nonvolatile memory devices and for connection to a memory controller, the interface device comprising an error correction coding (ECC) engine. Also, a memory system, comprising: a memory controller; and at least one composite semiconductor memory device configured for being written to and read from by the memory controller and comprising a built-in error correction coding (ECC) engine. Also, a memory system, comprising: a composite semiconductor memory device comprising a plurality of nonvolatile memory devices; and a memory controller connected to the at least one composite semiconductor memory device, for issuing read and write commands to the composite semiconductor memory device to cause data to be written to or read from individual ones of the nonvolatile memory devices; the composite semiconductor memory device providing error-free writing and reading of the data.

    Abstract translation: 一种复合半导体存储器件,包括:多个非易失性存储器件; 以及连接到所述多个非易失性存储器件并且用于连接到存储器控制器的接口设备,所述接口设备包括纠错编码(ECC)引擎。 另外,一种存储器系统,包括:存储器控制器; 以及至少一个复合半导体存储器件,被配置为被存储器控制器写入和读出,并且包括内置纠错编码(ECC)引擎。 另外,一种存储系统,包括:复合半导体存储器件,其包括多个非易失性存储器件; 以及存储器控制器,连接到所述至少一个复合半导体存储器件,用于向所述复合半导体存储器件发出读取和写入命令,以使数据被写入或从所述非易失性存储器件中的各个写入; 所述复合半导体存储器件提供无错误的写入和读取数据。

    DATA RESTORATION METHOD FOR A NON-VOLATILE MEMORY
    58.
    发明申请
    DATA RESTORATION METHOD FOR A NON-VOLATILE MEMORY 审中-公开
    非易失性存储器的数据恢复方法

    公开(公告)号:WO2010093440A3

    公开(公告)日:2010-10-21

    申请号:PCT/US2010000375

    申请日:2010-02-10

    CPC classification number: G11C16/3418 G06F11/1068 G11C2029/0411

    Abstract: A method and apparatus for selectively restoring data in a non- volatile memory array based on failure type. Weakened data and erroneous data are identified by performing two readings of a specific memory section. Alternatively, an error correction code is used after a first reading of data to identify erroneous data. The manner in which data is restored will depend on whether the data changed because of an erase failure or a program failure. If only a program failure occurred then the data will be reprogrammed without an intervening erase step. If the data experienced an erase failure, then the data will be erased prior to being programmed with correct data.

    Abstract translation: 一种用于基于故障类型选择性地恢复非易失性存储器阵列中的数据的方法和装置。 通过执行特定存储器部分的两个读数来识别弱数据和错误数据。 或者,在首次读取数据之后使用纠错码来识别错误数据。 数据恢复的方式将取决于数据是否因擦除故障或程序故障而改变。 如果仅发生程序故障,则数据将被重新编程,而无需中间擦除步骤。 如果数据经历擦除故障,则在使用正确的数据编程之前,数据将被擦除。

    DATA ERROR RECOVERY IN NON-VOLATILE MEMORY
    59.
    发明申请
    DATA ERROR RECOVERY IN NON-VOLATILE MEMORY 审中-公开
    数据错误恢复在非易失性存储器中

    公开(公告)号:WO2010080257A3

    公开(公告)日:2010-09-02

    申请号:PCT/US2009066612

    申请日:2009-12-03

    CPC classification number: G11C16/3404 G06F11/1068 G11C29/52 G11C2029/0411

    Abstract: When an error correction code (ECC) unit finds uncorrectable errors in a solid state non-volatile memory device, a process may be used in an attempt to locate and correct the errors. This process may first identify 'low confidence' memory cells that are likely to contain errors, and then determine what data is more likely to be correct in those cells, based on various criteria. The new data may then be checked with the ECC unit to verify that it is sufficiently correct for the ECC unit to correct any remaining errors.

    Abstract translation: 当纠错码(ECC)单元在固态非易失性存储器件中发现不可纠正的错误时,可以使用一个过程来尝试定位和校正错误。 该过程可以首先识别可能包含错误的“低置信度”存储器单元,然后基于各种标准确定哪些数据在这些单元中更可能是正确的。 然后可以用ECC单元检查新数据,以验证ECC单元足够正确以校正任何剩余的错误。

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