検出用装置
    82.
    发明申请
    検出用装置 审中-公开

    公开(公告)号:WO2023281583A1

    公开(公告)日:2023-01-12

    申请号:PCT/JP2021/025319

    申请日:2021-07-05

    Inventor: 奥田 龍

    Abstract: 検出用装置(32)は、レール(33)、支持装置(34)、ガイド部材(35)、及び保持部材(37)を備える。支持装置(34)は、レール(33)に案内されることによってX軸に沿うように移動する。ガイド面(35a)がチェーンの内プレート(22a)に側方から当たるようにガイド部材(35)が配置されると、保持部材(37)によって保持された変位計(30)からの光がチェーンの内プレート(22b)の端面に照射される。

    VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG EINES LASERSCHWEISSPROZESSES, ÜBERWACHUNGSVORRICHTUNG UND LASERSCHWEISSVORRICHTUNG

    公开(公告)号:WO2023280559A1

    公开(公告)日:2023-01-12

    申请号:PCT/EP2022/066793

    申请日:2022-06-21

    Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung eines Laserschweißprozesses zum Verschweißen zweier Werkstücke (102, 104) mittels eines Schweißlaserstrahls (108), welcher zur Ausbildung einer Schweißnaht mit den Werkstücken (102, 104) in einem Wechselwirkungsbereich (114) wechselwirkt, wobei zur Überwachung des Laserschweißprozesses - während des Laserschweißprozesses ein Messstrahl (128) eines optischen Kohärenztomographen (126) zur Erfassung von Messwerten auf den Wechselwirkungsbereich (114) gerichtet wird, wobei der Messstrahl (128) im Fall einer Durchschweißung der Werkstücke (102, 104) die Werkstücke (102, 104) in dem Wechselwirkungsbereich (114) zumindest teilweise durchdringt und der die Werkstücke (102, 104) durchdringende Messstrahl (128) auf ein zu den Werkstücken (102, 104) beabstandetes Referenzelement (134) trifft, - ein erster Messwertebereich (138) definiert wird, welcher einer Detektion eines Materials der Werkstücke (102, 104) durch den Messstrahl (128) in dem Wechselwirkungsbereich (114) zugeordnet ist, - ein zweiter Messwertebereich (140) definiert wird, welcher einer Detektion des Referenzelements (134) durch den Messstrahl (128) zugeordnet ist, und - während dem Laserschweißprozess erfasste Messwerte ausgewertet werden, wobei ein Verhältnis einer Anzahl von in dem ersten Messwertebereich (138) liegenden Messwerten und in dem zweiten Messwertebereich (140) liegenden Messwerten gebildet wird und/oder wobei eine jeweilige Varianz von in dem ersten Messwertebereich (138) liegenden Messwerten und in dem zweiten Messwertebereich (140) liegenden Messwerten ermittelt wird.

    CALIBRATION OF SENSOR POSITION OFFSETS BASED ON ROTATION AND TRANSLATION VECTORS FOR MATCHED TRAJECTORIES

    公开(公告)号:WO2023278868A1

    公开(公告)日:2023-01-05

    申请号:PCT/US2022/036006

    申请日:2022-07-01

    Abstract: Embodiments are directed to calibrating multi-view triangulation systems that perceive surfaces and objects based on reflections of one or more scanned laser beams that are continuously sensed by two or more sensors. In addition to sampling and triangulating points from a spline formed by an unbroken line trajectory of a laser beam, the calibration system samples and triangulates a corresponding velocity vector. Iterative reduction is performed on velocity vectors instead of points or splines. The velocity vector includes directions and magnitudes along a trajectory of a scanning laser beam which are used to determine the actual velocities. Translation and rotation vectors are based on the velocity vectors for matching trajectories determined for two or more sensors having offset physical positions, which are used to calibrate sensor offset errors associated with the matching trajectories provided to a modeling engine.

    TRIANGULATION DEVICE
    88.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2023278856A1

    公开(公告)日:2023-01-05

    申请号:PCT/US2022/035987

    申请日:2022-07-01

    Abstract: The current technology relates to a device for performing location triangulation on an object of interest. The device can include an elongate frame defining a sensor plane. The device can further include distance sensors equally spaced and fixed to the elongate frame. A distance sensor can sense an object distance outwardly from the sensor plane. The device can further include a processor coupled to the distance sensors and configured to triangulate a location of a first object outwardly from the sensor plane based on the object distance sensed by the plurality of distance sensors. Other example systems and methods are also described.

    전지셀의 벤트 발생시점 예측 시스템 및 예측방법

    公开(公告)号:WO2023277561A1

    公开(公告)日:2023-01-05

    申请号:PCT/KR2022/009293

    申请日:2022-06-29

    Inventor: 고동완

    Abstract: 본 발명은 파우치형 전지 케이스의 적어도 일측에 실링부를 포함하는 테라스부가 형성되고, 테라스부의 끝단에 전극 리드가 인출된 전지셀의 벤트 발생시점 예측 시스템에 관한 것으로, 잔여 실링부의 폭에 따른 벤트 발생시점에 대한 데이터를 수집하는 저장부; 측정 대상 전지셀의 잔여 실링부의 폭을 주기적으로 측정하는 측정부; 및 측정된 잔여 실링부의 폭과 상기 수집된 데이터를 비교하여 측정 대상 전지셀의 벤트 발생시점을 예측하는 판정부; 를 포함한다.

Patent Agency Ranking