半導体装置及びその製造方法
    2.
    发明申请
    半導体装置及びその製造方法 审中-公开
    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:WO2014123176A1

    公开(公告)日:2014-08-14

    申请号:PCT/JP2014/052723

    申请日:2014-02-06

    Inventor: 幸 和芳

    Abstract:  ワード線10bと10cの間でビット線16で囲まれたコンタクトホール内に第2の導電材料を埋め込み、第2の方向で分離するツインプラグ形成工程において、従来のダミーワード線を形成せずに、ツインプラグ間に露出した半導体基板をさらにエッチングして拡散層分離用溝29を形成し、拡散層分離絶縁膜30を埋め込んで拡散層を分離すると共に、コンタクトプラグ25bと25cとを分離する。

    Abstract translation: 提供一种双插塞形成处理,其中在字线(10b,10c)之间并由位线(16)包围的接触孔填充有第二导电材料并沿第二方向分离,其中不形成 通过进一步蚀刻在两个插塞之间露出的半导体衬底的表面形成扩散层分离沟槽(29),并且沟槽填充有扩散层分离绝缘膜(30)以分离扩散层, 和单独的接触插塞(25b,25c)。

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