Abstract:
An embodiment of the invention relates to a memory comprising a strained double-heterostructure (110) having an inner semiconductor layer (115) which is sandwiched between two outer semiconductor layers, (120, 125) wherein the lattice constant of the inner semiconductor layer differs from the lattice constants of the outer semiconductor layers, the resulting lattice strain in the double-heterostructure inducing the formation of at least one quantum dot inside the inner semiconductor layer, said at least one quantum dot being capable of storing charge carriers therein, and wherein, due to the lattice strain, the at least one quantum dot has an emission barrier (Eb) of 1,15 eV or higher, and provides an energy state density of at least three energy states per 1000 nm3, all said at least three energy states (186) being located in an energy band (DeltaWb) of 50 meV or less.
Abstract:
The invention relates to a memory cell (10) comprising at least one binary memory area for storing an item of bit information and to a method for storing an item of bit information. According to the invention, it is provided that the memory area (SB), e.g. a quantum dot layer of In(Ga)As quantum dots, can optionally store holes or electrons and allows a recombination of holes and electrons, the charge carrier type of the charge carriers stored in the memory area defines the bit information of the memory area and a charge carrier injection device (PN) is present, by means of which optionally holes or electrons can be injected into the memory area (SB) and the bit information can thus be changed. The holes and electrons come from a hole reservoir (LR) or electron reservoir (ER) which consist e.g. of p-doped or n-doped GaAs. The readout layer (AS) is a two-dimensional hole or electron gas layer.
Abstract:
Die Erfindung bezieht sich u. a. auf eine Speicherzelle (10) zum Speichern mindestens einer Bitinformation, wobei die Speicherzelle eine Halbleiterstruktur (11) mit einem zumindest einen Potentialtopf (200) aufweisenden Bandverlauf (EL) und zumindest zwei elektrische Anschlüsse (40, 130) umfasst, wobei sich durch Anlegen einer elektrischen Einspeisespannung (Us=Uspeis) an die zwei Anschlüsse der Beladungszustand des Potentialtopfes mit Ladungsträgern vergrößern, durch Anlegen einer Entladespannung (Us=Usperr) verkleinern und durch Anlegen einer Beibehaltespannung (Us=Ubei) beibehalten lässt und wobei der jeweilige Beladungszustand des Potentialtopfes die Bitinformation der Speicherzelle festlegt. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass die Halbleiterstruktur eine Raumladungszone (Wn) aufweist und der Potentialtopf durch eine Halbleiterheterostruktur (80) gebildet ist, wobei die Halbleiterheterostruktur und die Raumladungszone relativ zueinander räumlich derart angeordnet sind, dass sich die Halbleiterheterostruktur bei Anliegen der Beibehaltespannung innerhalb der Raumladungszone, bei Anliegen der Einspeisespannung am Rand oder außerhalb der Raumladungszone und bei Anliegen der Entladespannung innerhalb der Raumladungszone befindet.
Abstract:
Die Erfindung bezieht sich u. a. auf eine Speicherzelle (10) mit mindestens einem binären Speicherbereich zum Speichern einer Bitinformation. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass der Speicherbereich (SB) wahlweise Löcher oder Elektronen speichern kann und eine Rekombination von Löchern und Elektronen erlaubt, die Ladungsträgerart der in dem Speicherbereich gespeicherten Ladungsträger die Bitinformation des Speicherbereichs festlegt und eine Ladungsträgerinjektionsvorrichtung (PN) vorhanden ist, mit der wahlweise Löcher oder Elektronen in den Speicherbereich (SB) injiziert werden können und somit die Bitinformation geändert werden kann.
Abstract:
The invention relates, among other things, to a memory cell (10) for storing at least one piece of bit data. Said memory cell comprises at least two electrical terminals (40, 130) and a semiconductor structure (11) with a band curve (EL) that has at least one potential well (200). The charged state of the potential well with charge carries can be increased by applying a supply voltage (Us=Uspeis) to the two terminals, can be reduced by applying a discharge voltage (Us=Usperr), and can be maintained by applying a maintaining voltage (Us=Ubei), the respective charged state of the potential well defining the piece of bit data of the memory cell. According to the invention, the semiconductor structure has a space charge region (Wn) while the potential well is formed by a semiconductor heterostructure (80). The semiconductor heterostructure and the space charge region are spatially arranged relative to one another in such a way that the semiconductor heterostructure is located within the space charge region when the maintaining voltage is applied, at the edge of or outside the space charge region when the supply voltage is applied, and within the space charge region when the discharge voltage is applied.