表示装置およびスパッタリングターゲット
    2.
    发明申请
    表示装置およびスパッタリングターゲット 审中-公开
    显示设备和飞溅目标

    公开(公告)号:WO2009001832A1

    公开(公告)日:2008-12-31

    申请号:PCT/JP2008/061488

    申请日:2008-06-24

    Abstract:  本発明は、Al合金膜の上に導電性酸化膜が直接接触する構成を備えた表示装置であって、該Al合金膜が、Niを0.05~2.0原子%と、Inおよび/またはSnを合計で0.05~1.0原子%含有する表示装置に関する。本発明の表示装置は、バリアメタル層の省略を可能にすると共に、工程数を増やすことなく簡略化し、Al合金膜を導電性酸化膜に対し直接且つ確実に接触することだけでなく、Al合金膜に対し、比較的低い熱処理温度を適用した場合でも、電気抵抗率を低減でき、且つ導電性酸化膜と直接接触したときの接触電気抵抗も低減でき、更には優れた耐熱性と耐食性を達成することのできる表示装置である。さらに、本発明は、Al合金膜を形成するためのスパッタリングターゲットであって、Niを0.05~2.0原子%と、Inおよび/またはSnを合計で0.05~1.0原子%含有するスパッタリングターゲットにも関する。

    Abstract translation: 提供一种显示装置,其中通过直接与膜接触而在Al合金膜上布置导电氧化物膜。 Al合金膜含有0.05-2.0atm%的Ni,In和/或Sn总量为0.05-1.0atm%。 显示装置能够消除阻挡金属层,并且在不增加步数的情况下被简化。 Al合金膜不仅直接且可靠地与导电氧化物膜接触,而且即使施加相对低的热处理温度也降低了电阻率,并且当合金膜直接接触时,接触电阻率也降低 与导电氧化膜。 此外,显示装置具有优异的耐热性和耐腐蚀性。 还提供了用于形成Al合金膜的溅射靶。 溅射靶含有0.05-2.0atm%的Ni和总共为0.05-1.0atm%的In和/或Sn。

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