表示装置およびスパッタリングターゲット
    4.
    发明申请
    表示装置およびスパッタリングターゲット 审中-公开
    显示设备和飞溅目标

    公开(公告)号:WO2009001832A1

    公开(公告)日:2008-12-31

    申请号:PCT/JP2008/061488

    申请日:2008-06-24

    Abstract:  本発明は、Al合金膜の上に導電性酸化膜が直接接触する構成を備えた表示装置であって、該Al合金膜が、Niを0.05~2.0原子%と、Inおよび/またはSnを合計で0.05~1.0原子%含有する表示装置に関する。本発明の表示装置は、バリアメタル層の省略を可能にすると共に、工程数を増やすことなく簡略化し、Al合金膜を導電性酸化膜に対し直接且つ確実に接触することだけでなく、Al合金膜に対し、比較的低い熱処理温度を適用した場合でも、電気抵抗率を低減でき、且つ導電性酸化膜と直接接触したときの接触電気抵抗も低減でき、更には優れた耐熱性と耐食性を達成することのできる表示装置である。さらに、本発明は、Al合金膜を形成するためのスパッタリングターゲットであって、Niを0.05~2.0原子%と、Inおよび/またはSnを合計で0.05~1.0原子%含有するスパッタリングターゲットにも関する。

    Abstract translation: 提供一种显示装置,其中通过直接与膜接触而在Al合金膜上布置导电氧化物膜。 Al合金膜含有0.05-2.0atm%的Ni,In和/或Sn总量为0.05-1.0atm%。 显示装置能够消除阻挡金属层,并且在不增加步数的情况下被简化。 Al合金膜不仅直接且可靠地与导电氧化物膜接触,而且即使施加相对低的热处理温度也降低了电阻率,并且当合金膜直接接触时,接触电阻率也降低 与导电氧化膜。 此外,显示装置具有优异的耐热性和耐腐蚀性。 还提供了用于形成Al合金膜的溅射靶。 溅射靶含有0.05-2.0atm%的Ni和总共为0.05-1.0atm%的In和/或Sn。

    薄膜トランジスタ基板および表示デバイス
    5.
    发明申请
    薄膜トランジスタ基板および表示デバイス 审中-公开
    薄膜晶体管基板和显示器件

    公开(公告)号:WO2007063991A1

    公开(公告)日:2007-06-07

    申请号:PCT/JP2006/324106

    申请日:2006-12-01

    CPC classification number: H01L27/124 G02F2001/136295 H01L29/458 H01L29/4908

    Abstract:  ソース・ドレイン配線を構成するアルミニウム合金膜と透明電極が直接接続され、該ソース・ドレイン配線とゲート配線の特性が共に良好なものであって、大幅に簡略化されたプロセスで製造することのできる薄膜トランジスタ基板を提供する。  すなわち、上記薄膜トランジスタ基板は、ゲート配線とこれに直交配置されたソース配線及びドレイン配線を有する。また、上記薄膜トランジスタ基板は、上記ゲート配線を構成する単層アルミニウム合金膜の組成と、上記ソース配線及びドレイン配線を構成する単層アルミニウム合金膜の組成が、同一であることを特徴とする。  さらに、本発明は、上記薄膜トランジスタ基板を備えた表示デバイスを提供する。

    Abstract translation: 提供了具有与透明电极直接连接的构成源极/漏极布线的铝合金膜的薄膜晶体管基板,具有优异的源极/漏极布线特性和优异的栅极布线特性,并且通过显着简化的工艺制造。 薄膜晶体管基板设置有栅极布线,并且源极布线和与栅极布线正交的漏极布线。 薄膜晶体管基板的特征在于,构成栅极布线的单层铝合金膜和构成源极布线和漏极布线的单层铝合金膜的组成相同。 此外,还提供了具有薄膜晶体管基板的显示装置。

    配線膜の形成方法
    6.
    发明申请
    配線膜の形成方法 审中-公开
    形成布线的方法

    公开(公告)号:WO2007063921A1

    公开(公告)日:2007-06-07

    申请号:PCT/JP2006/323856

    申请日:2006-11-29

    Abstract:  純アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる単層の配線膜を形成するに際し、側壁のテーパ角度が規定範囲内のテーパ状に良好にエッチングすることのできる配線膜の形成方法を提供する。  ポストベーク後に、硝酸、リン酸、酢酸および水を含むエッチング液を用いて側壁のテーパ角度が10~70°のテーパ状に純アルミニウム膜またはアルミニウム合金膜をエッチングする。この際、上記ポストベーク温度:x(°C)を110°C以下にすると共に、該ポストベーク温度と上記エッチング液の硝酸濃度:y(質量%)が下記式(1)を満たすように配線膜を形成する。  10≦[(2/3)x-5y]≦70…(1)

    Abstract translation: 提供一种形成布线膜的方法,其中在形成由纯铝或铝合金构成的单层布线膜时,侧壁上的锥形以规定范围内的角度被良好地蚀刻。 在后烘后,通过使用包括硝酸,磷酸,乙酸和水的蚀刻溶液,将纯铝膜或铝合金膜蚀刻成具有10-70°的侧壁锥角的锥形。 在110℃以下的后烘烤温度(x(℃))下形成布线膜,并且通过使蚀刻液中的后烘烤温度和硝酸浓度(y(wt%))满足 以下不等式(1)。 10 = [(2/3)x-5y] = 70(1)

    薄膜トランジスタ基板および表示デバイス
    7.
    发明申请
    薄膜トランジスタ基板および表示デバイス 审中-公开
    薄膜晶体管基板和显示器件

    公开(公告)号:WO2009091004A1

    公开(公告)日:2009-07-23

    申请号:PCT/JP2009/050482

    申请日:2009-01-15

    CPC classification number: H01L29/458

    Abstract:  本発明は、ソース電極とドレイン電極のドライエッチングレートの低下や、エッチング残さを引き起こすことがなく、半導体層と、ソース電極やドレイン電極といった配線金属の間からバリアメタルを省略することができる薄膜トランジスタ基板および表示デバイスを提供する。本発明は、半導体層1、ソース電極2、ドレイン電極3、透明導電膜4を有する薄膜トランジスタ基板において、ソース電極2とドレイン電極3は、ドライエッチング法によるパターニングで形成されたSi及び/又はGe:0.1~1.5 原子%、Ni及び/又はCo:0.1~3.0原子%、La及び/又はNd:0.1~0.5 原子%を含有するAl合金薄膜より成り、半導体層1と直接接続している薄膜トランジスタに関する。

    Abstract translation: 提供一种薄膜晶体管基板,其中不会产生源电极和漏电极的干蚀刻速率的劣化和蚀刻残留物,并且半导体层和诸如源电极和漏电极的布线金属之间的阻挡金属, 可以消除。 还提供了显示装置。 薄膜晶体管基板设置有半导体层(1),源极(2),漏极(3)和透明导电膜(4)。 源电极(2)和漏电极(3)由A​​l合金薄膜构成,其通过图案形成,其中使用干蚀刻并含有0.1-1.5atm%的Si和/或Ge,Ni和 /或Co为0.1-3.0atm%,La和/或Nd为0.1-0.5a​​tm%,薄膜晶体管直接连接到半导体层(1)。

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