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    DISPOSITIVO ÓPTICO INTEGRADO EN MINIATURA
    1.
    发明申请
    DISPOSITIVO ÓPTICO INTEGRADO EN MINIATURA 审中-公开
    微型内置光学设备

    公开(公告)号：WO2015036635A1

    公开(公告)日：2015-03-19

    申请号：PCT/ES2014/070611

    申请日：2014-07-28

    Applicant: UNIVERSITAT POLITÈCNICA DE VALÈNCIA

    Inventor： MUÑOZ MUÑOZ, Pascual ,  DOMÉNECH GÓMEZ, José David ,  CAPMANY FRANCOY, José

    IPC: G01J3/28

    CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/451 ,  G02B6/12009 ,  G02B6/2813 ,  G02B6/29352

    Abstract: Dispositivo óptico integrado (1) en miniatura compuesto por un Interferometro Mach- Zehnder (2) que comprende un acoplador óptico multimodo (6), una primera guía de onda (10) de longitud Ι_+ΔΙ_ y una segunda guía de onda (11) de longitud L, estando la primera guía de onda (10) y la segunda guía de onda (11) acopladas a la salida del acoplador óptico multimodo (6), y donde el Interferometro Mach-Zehnder (2) está conectado a su salida a un bloque seleccionado entre: un "Arrayed Waveguide Grating", AWG (3) con una separación determinada entre las guías de onda (10, 11) y un "Interleave-Chirped AWG", IC-AWG (4, 5) con una separación determinada entre las guías de ondas (10, 11). Lo que se consigue con este dispositivo (1 ) es que en cada salida se tenga una pequeña banda del espectro, es decir se tiene un dispositivo (1) de múltiples canales.

    Abstract translation: 本发明涉及由包括多模光耦合器（6）的马赫 - 曾德尔（2）干涉仪（2）组成的微型内置光学装置（1），具有长度为I + 1的第一波导（10） 和具有长度L的第二波导（11），第一波导（10）和第二波导（11）联接到多模光耦合器（6）的出口，其中马赫 - 泽德干涉仪（ 2）在其出口处连接到选自以下的块：阵列波导光栅AWG（3），其在波导（10,11）之间具有限定的间隙和交错啁啾AWG，IC-AWG（4,5） ），在波导（10,11）之间具有限定的间隙。 所述装置（1）用于在每个出口处获得小的频谱带，即具有多个声道的装置（1）。

    INTERFEROMETERY ON A PLANAR SUBSTRATE
    3.
    发明申请
    INTERFEROMETERY ON A PLANAR SUBSTRATE 审中-公开
    平面基板上的干涉仪

    公开(公告)号：WO2012162809A1

    公开(公告)日：2012-12-06

    申请号：PCT/CA2012/000525

    申请日：2012-05-30

    Applicant: TORNADO MEDICAL SYSTEMS, INC. ,  NITKOWSKI, Arthur ,  HAJIAN, Arsen

    Inventor： NITKOWSKI, Arthur ,  HAJIAN, Arsen

    IPC: G01B9/02 ,  G01J3/45

    CPC classification number: G01J9/02 ,  A61B5/0066 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02044 ,  G01B9/02051 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/40 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/4531 ,  G01J3/4532 ,  G01J2003/451

    Abstract: An interferometer comprising a planar substrate is provided. The interferometer has a splitter formed on the planar substrate to split a received optical signal, a sample arm formed on the planar substrate to receive a first portion of the split optical signal and direct the first portion toward a sample, a reference arm formed on the planar substrate to receive a second portion of the split optical signal, and a detector element to receive an interferogram generated by interfering the second portion of the split optical signal with a received sample signal generated by the first portion of the split signal interacting with the sample.

    Abstract translation: 提供了包括平面基板的干涉仪。 所述干涉仪具有形成在所述平面基板上以分割接收到的光信号的分离器，形成在所述平面基板上的样本臂，以接收所述分割光信号的第一部分并将所述第一部分引向样本， 平面基板以接收分离光信号的第二部分，以及检测器元件，用于接收通过将分离光信号的第二部分与由样本相互作用的分离信号的第一部分产生的接收采样信号而产生的干涉图 。

    HETERODYNE SPECTRALL CONTROLLED INTERFEROMETRY
    4.
    发明申请
    HETERODYNE SPECTRALL CONTROLLED INTERFEROMETRY 审中-公开
    异位光谱仪控制干涉仪

    公开(公告)号：WO2017034686A1

    公开(公告)日：2017-03-02

    申请号：PCT/US2016/041497

    申请日：2016-07-08

    Applicant: OLSZAR, Arthur

    Inventor： OLSZAR, Arthur

    IPC: G01N21/47

    CPC classification number: G01N21/47 ,  G01B9/02003 ,  G01B9/0201 ,  G01B9/02057 ,  G01B9/0209 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/433 ,  G01J3/45 ,  G01J2003/1282 ,  G01J2003/451

    Abstract: Heterodyne interferometry is combined with spectrally-controlled interferometry (SCI) to achieve the advantages of both. Phase shifts produced by SCI produce phase-shifted correlograms suitable for heterodyne interferometric analysis, thereby enabling interferometric measurements with conventional common-path apparatus free of coherence noise and scanning-related errors, and with the precision of conventional heterodyne interferometry. A spectrum-modulating light source (10) suitable for the invention is obtained by combining a rotating spiral grating (30) with a multi-slit grating (12) placed in the front focal plane of a collimating lens (14) that propagates the light toward a blazed diffraction grating (18). Another exemplary spectrum-modulating light source (50) is obtained by combining a slit spectrometer with an acousto-optic modulator (40).

    Abstract translation: 外差干涉法与光谱控制干涉测量（SCI）相结合，实现了两者的优点。 由SCI产生的相移产生适合于外差干涉分析的相移相关图，从而可以利用传统的共路径设备进行干涉测量，而不需要相干噪声和扫描相关的误差，并具有常规外差干涉测量的精度。 通过将旋转螺旋光栅（30）与放置在传播光的准直透镜（14）的前焦平面中的多狭缝光栅（12）组合来获得适用于本发明的光谱调制光源（10） 朝向闪耀的衍射光栅（18）。 通过将狭缝光谱仪与声光调制器（40）组合来获得另一示例性的光谱调制光源（50）。

    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR OPTISCHEN ÜBERPRÜFUNG EINER PROBE
    6.
    发明申请
    VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR OPTISCHEN ÜBERPRÜFUNG EINER PROBE 审中-公开
    装置和方法用于对样品进行光学检查

    公开(公告)号：WO2013106876A1

    公开(公告)日：2013-07-25

    申请号：PCT/AT2013/050009

    申请日：2013-01-15

    Applicant: FEMTOLASERS PRODUKTIONS GMBH

    Inventor： TEMPEA, Gabriel-Florin

    IPC: G01N21/41 ,  G01N21/45 ,  G01M11/00 ,  G01J3/453 ,  G02B1/11 ,  G02B5/08

    CPC classification number: G01J3/45 ,  E01H5/045 ,  G01J3/4531 ,  G01J2003/283 ,  G01J2003/451 ,  G01J2003/4538 ,  G01M11/005 ,  G01N21/25 ,  G01N21/45 ,  G01N2021/4126 ,  G01N2201/126 ,  G02B1/115 ,  G02B5/0825

    Abstract: Verfahren und Vorrichtung zur optischen Überprüfung einer Probe mittels spektraler Interferometrie, wobei ein von einer Strahlungsquelle (1) abgegebener Strahl (2'') auf die Probe (5) sowie ein Referenzstrahl (2') auf eine Referenzprobe (4) gerichtet werden und die spektrale Interferenz der beiden Strahlen nach Reflexion an den Proben oder Passieren der Proben mittels eines Spektrographen (6) aufgenommen wird; das so erhaltene Interferogramm I (ω) wird numerisch nach der Kreisfrequenz ω abgeleitet, wonach für die so erhaltene Funktion I `(ω) die Nullstellen ω i numerisch als Lösungen der Gleichung I `(ω) = 0 berechnet werden und danach aus den Nullstellen ω i die frequenzabhängige Gruppenverzögerung τ (ω) entsprechend der Gleichung τ (ω n ) = π/ (ω i+1 -ω i ), mit i = 1,2... und ω n = (ω i+1 + ω i ) /2, berechnet wird.

    Abstract translation: “在样品（5）和参考光束（2）与参照样品（4）的方法和用于通过光谱干涉的手段的检体的光学检查装置，其中辐射源的一（1）发射的光束（2”）”被引导和 在样品上反射之后被接收或通过光谱仪的装置通过将样品的两个光束的光谱干扰（6）; 所得到的干涉图I（欧米加）进行数值由角频率ω-衍生，之后将如此得到的函数I“（ω-）omegai数值作为等式I的解决方案的零点”（ω-）= 0被从零点计算并随后omegai 根据以下等式的tau（Omegan）= PI /（1 + omegai-omegai）依赖于频率的群延迟的tau（欧米加）被计算，其中i = 1,2，...，和Omegan =（omegai + 1 + omegai）/ 2。

    SPATIAL HETERODYNE SPECTROMETER AND METHOD
    7.
    发明申请
    SPATIAL HETERODYNE SPECTROMETER AND METHOD 审中-公开
    空间异质光谱仪和方法

    公开(公告)号：WO1990012294A1

    公开(公告)日：1990-10-18

    申请号：PCT/US1990001813

    申请日：1990-04-04

    Applicant: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION

    Inventor： WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION ,  ROESLER, Fred, L. ,  HARLANDER, John

    IPC: G01J03/45

    CPC classification number: G01J3/453 ,  G01J2003/451 ,  G01J2009/0219

    Abstract: A spatial heterodyne spectrometer has a two beam dispersive interferometer (25) which includes a diffraction grating (45) as a beam splitter/combiner. An incoming beam is collimated and passed to the grating (45) in the interferometer (25) where it is split into two beams (47, 50) which are recombined such that the angle between the wavefronts in the recombined beam at a particular wavelength is directly related to the deviation of that wavelength from a null wavelength at which the wavefronts are parallel. The recombined output beam is focused and imaged to produce Fizeau fringes across the output aperture (31), with these fringes being recorded on an imaging detector (34). The spatially varying intensity output of the imaging detector (34) is Fourier transformed to yield an output indicative of the spectral frequency content of the image which is related to the wavelength content of the incoming beam from the source.

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