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    METHOD AND SYSTEM FOR TERAHERTZ RADIATION DETECTION AND CHARACTERIZATION
    1.
    发明申请
    METHOD AND SYSTEM FOR TERAHERTZ RADIATION DETECTION AND CHARACTERIZATION 审中-公开
    TERAHERTZ辐射检测和表征的方法和系统

    公开(公告)号：WO2018014118A1

    公开(公告)日：2018-01-25

    申请号：PCT/CA2017/050852

    申请日：2017-07-14

    申请人： INSTITUT NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE

    发明人： OZAKI, Tsuneyuki ,  CHAI, Xin

    IPC分类号： G01J9/00 ,  G01J4/00

    CPC分类号： G01J3/0224 ,  G01J3/42 ,  G01J4/04 ,  G01J9/02

    摘要： A characterization and detection method and system, the system comprising a terahertz beam source, a probe beam source, a detection crystal receiving a probe beam from the probe beam source and a terahertz beam from the terahertz beam source, the probe beam and the terahertz beam co-propagating collinearly through the detection crystal, and a polarizer analyser receiving the pump beam transmitted from the detection crystal, wherein the polarizer analyser comprises two liquid crystal variable retarders and a linear polarizer, the polarizer analyzer analyzing a phase delay and orientation changes of the principle axes of the probe beam induced by the THz electric field and polarization.

    摘要翻译： 表征和检测方法和系统，该系统包括太赫兹光束源，探测光束源，接收来自探测光束源的探测光束和来自太赫兹光束源的太赫兹光束的探测晶体 探测光束和太赫兹光束共线传播通过检测晶体，偏振器分析仪接收从检测晶体透射的泵浦光束，其中偏振器分析仪包括两个液晶可变延迟器和线性偏振器，偏振器分析器分析 由THz电场和偏振引起的探测光束主轴的相位延迟和取向变化。

    一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪
    2.
    发明申请
    一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪 审中-公开

    公开(公告)号：WO2015123983A1

    公开(公告)日：2015-08-27

    申请号：PCT/CN2014/085536

    申请日：2014-08-29

    申请人： 中国科学院光电研究院

    发明人： 相里斌 ,  杜述松 ,  才啟胜

    IPC分类号： G01J3/45 ,  G01N21/45

    CPC分类号： G01N21/45 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0219

    摘要： 一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪，其中，所述方法包括：复合光经分束器（73）后一部分被反射得到反射光，另一部分被透射得到透射光；反射光经反射镜组（74，75）以及闪耀光栅组（76，77）后再次经分束器（73）反射到达成像镜（78），透射光沿着与反射光相反的光路经反射镜组（74，75）以及闪耀光栅组（76，77）后到达成像镜（78），其中，闪耀光栅组（76，77）包括平行设置的第一闪耀光栅（76）和第二闪耀光栅（77），入射闪耀光栅组（76，77）的复合光被衍射成多束相互平行的出射光，且多束出射光与入射光平行；成像镜（78）上得到具有横向剪切量的干涉光，从而在探测器（79）得到干涉信息。加入一对平行的闪耀光栅实现外差的特性，实现采样点数减少以及信噪比提高。

    SPATIAL-DOMAIN LOW-COHERENCE QUANTITATIVE PHASE MICROSCOPY
    3.
    发明申请
    SPATIAL-DOMAIN LOW-COHERENCE QUANTITATIVE PHASE MICROSCOPY 审中-公开
    空域低相位定量相位显微镜

    公开(公告)号：WO2015085216A1

    公开(公告)日：2015-06-11

    申请号：PCT/US2014/068869

    申请日：2014-12-05

    申请人： UNIVERSITY OF PITTSBURGH - OF THE COMMONWEALTH SYSTEM OF HIGHER EDUCATION ,  LIU, Yang ,  BRAND, Randall E. ,  PHAM, Hoa V. ,  FNU, Shikhar

    发明人： LIU, Yang ,  BRAND, Randall E. ,  PHAM, Hoa V. ,  FNU, Shikhar

    IPC分类号： G02B21/14 ,  G02B26/06 ,  G01N21/17 ,  G01J9/02 ,  G02F1/33

    CPC分类号： G01J9/02 ,  G01J2009/0223 ,  G01J2009/0253 ,  G01J2009/0269 ,  G01N15/1429 ,  G01N15/1434 ,  G01N15/1475 ,  G01N2015/1402 ,  G01N2015/1479 ,  G02B21/14 ,  G02B21/365

    摘要： Systems, methods and other embodiments associated with spatial-domain Low-coherence Quantitative Phase Microscopy (SL-QPM) are described herein. SL-QPM can detect structural alterations within cell nuclei with nanoscale sensitivity (0.9 nm) (or nuclear nano-morphology) for "nano-pathological diagnosis" of cancer. SL-QPM uses original, unmodified cytology and histology specimens prepared with standard clinical protocols and stains. SL-QPM can easily integrate in existing clinical pathology laboratories. Results quantified the spatial distribution of optical path length or refractive index in individual nuclei with nanoscale sensitivity, which could be applied to studying nuclear nano-morphology as cancer progresses. The nuclear nano-morphology derived from SL-QPM offers significant diagnostic value in clinical care and subcellular mechanistic insights for basic and translational research. Techniques that provide for depth selective investigation of nuclear and other cellular features are disclosed.

    摘要翻译： 本文描述了与空间域低相干定量相位显微术（SL-QPM）相关联的系统，方法和其它实施例。 SL-QPM可以检测细胞核内的结构变化，具有纳米级灵敏度（0.9nm）（或核纳米形态）用于癌症的“纳米病理诊断”。 SL-QPM使用原始，未修改的细胞学和组织学标本，用标准临床方案和污渍制备。 SL-QPM可以轻松整合到现有的临床病理实验室。 结果量化了具有纳米级灵敏度的单个核中光程长度或折射率的空间分布，可用于研究核纳米形态作为癌症进展。 来自SL-QPM的核纳米形态为临床护理和亚细胞机械学基础和翻译研究提供了显着的诊断价值。 公开了提供对核和其他蜂窝特征的深度选择性研究的技术。

    偏波分離器、及び光デバイス
    4.
    发明申请
    偏波分離器、及び光デバイス 审中-公开
    偏振光束分离器和光学器件

    公开(公告)号：WO2014125535A1

    公开(公告)日：2014-08-21

    申请号：PCT/JP2013/006763

    申请日：2013-11-19

    申请人： 日本電気株式会社

    发明人： 松本　崇

    IPC分类号： G02B6/122

    CPC分类号： G02B6/126 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0288 ,  G02B6/122 ,  G02B6/1228 ,  G02B6/29352 ,  G02B6/2938 ,  G02B2006/12097 ,  G02B2006/121

    摘要： 生産性の高い偏波分離器、及び光デバイスを提供すること。 本発明の実施の形態にかかる偏波分離器（ＰＢＳ）は、リブ型導波路（５０）によって形成され、入力光を第１の入力光及び第２の入力光に分波する分波器（１１）と、リブ型導波路（５０）によって形成され、分波器（１１）で分波された第１の入力光と第２の入力光を合波する合波器（１４）と、チャネル型導波路（５１）によって形成され、第１の入力光を合波器（１１）に導く第１のアーム導波路（１２）と、チャネル型導波路（５１）によって形成され、第１のアーム導波路を伝搬する第１の入力光に対して位相差を生じさせて、第２の入力光を合波部（１４）に導く第２のアーム導波路（１３）と、を備えている。

    摘要翻译： 提供了高生产率的偏振分束器和光学装置。 根据本发明实施例的偏振分束器（PBS）具有：多路分解器（11），其由肋波导（50）形成，并将输入光解复用为第一输入光和第二输入光; 多路复用器（14），其由所述肋波导（50）形成并且复用由所述解复用器（11）解复用的所述第一输入光和所述第二输入光; 第一臂波导（12），其由通道波导（51）形成并将第一输入光引导到多路复用器（11）; 以及由通道波导（51）形成的第二臂波导（13），并且将第二输入光引导到多路复用器（14），同时相对于通过第一臂波导传播的第一输入光引起相位差。

    METHOD OF VIBRATION MEASUREMENT AND INTERFEROMETER
    5.
    发明申请
    METHOD OF VIBRATION MEASUREMENT AND INTERFEROMETER 审中-公开
    振动测量和干扰仪的方法

    公开(公告)号：WO2014088424A1

    公开(公告)日：2014-06-12

    申请号：PCT/NO2013/050214

    申请日：2013-12-04

    申请人： OPTONOR AS

    发明人： VIKHAGEN, Eiolf

    IPC分类号： G01H9/00 ,  G01B9/02 ,  G01H1/00

    CPC分类号： G01H9/00 ,  G01J9/02

    摘要： Method and system for measuring vibration in two or three directions in objects (12) by using three illumination light beams (11A-C) for measurement of in-plane vibrations in two directions, where one of the three illumination light beams (11A-C) is common for the two in-plane measurements, and where the three illumination light beams (11A-C) are configured to provide free space at one side of the object (12) for easier access to the object. The method and system is further arranged for using two illumination light beams (30A-B) for measuring vibrations in the object (12) in a third direction, which third direction is out-of-plane direction, where one illumination light beam (30A) is illuminating the object (12) through an imaging objective (16) and one illumination light beam (30B) is used as reference beam.

    摘要翻译： 通过使用三个照明光束（11A-C）测量物体（12）中两个或三个方向的振动的方法和系统，用于测量两个方向上的平面内振动，其中三个照明光束（11A-C ）对于两个面内测量是共同的，并且其中三个照明光束（11A-C）被配置为在物体（12）的一侧提供自由空间，以便更容易地接近物体。 所述方法和系统进一步布置成使用两个照明光束（30A-B），用于测量物体（12）中的第三方向（该第三方向是面外方向）的振动，其中一个照明光束（30A ）通过成像物镜（16）照射物体（12），并且使用一个照明光束（30B）作为参考光束。

    測定装置及び測定方法
    8.
    发明申请
    測定装置及び測定方法 审中-公开
    测量装置和测量方法

    公开(公告)号：WO2013077137A1

    公开(公告)日：2013-05-30

    申请号：PCT/JP2012/077469

    申请日：2012-10-24

    申请人： 国立大学法人東京農工大学

    发明人： 岩井　俊昭 ,  渡會　俊晴

    IPC分类号： G01N21/49 ,  G01N21/17

    CPC分类号： G01N15/1429 ,  G01B9/02044 ,  G01J3/4412 ,  G01J9/02 ,  G01J2003/4418 ,  G01N15/0211 ,  G01N21/51 ,  G01N2015/0222

    摘要： 　光カプラ２０によって低コヒーレンス光源１０からの光を分割し、光カプラ２０で分割された一方の光を試料媒質４０に照射し、光カプラ２０で分割された他方の光を参照ミラー５０及び振動素子５２によって位相変調し、位相変調された光（参照光）と試料媒質４０からの散乱光を回折格子６２で波長毎に分解して、光検出部７０で、参照光と散乱光との干渉光の分光スペクトルを検出する。演算処理部８０において、検出された分光スペクトルに基づき試料媒質４０における散乱点の位置毎の強度信号を求め、前記散乱点の位置毎の強度信号の時間変化に基づき前記散乱点の位置毎のパワースペクトルを求め、求めたパワースペクトルに基づき前記散乱点の位置毎の粒子の拡散係数を同時に求める。

    摘要翻译： 在本发明中，来自低相干光源（10）的光被光耦合器（20）分开。 由光耦合器（20）分开的一个光照射样品介质（40）。 由光耦合器（20）分离的其它光被参考反射镜（50）和振荡器元件（52）相位调制。 通过衍射光栅（62）对每个波长分析被相位调制的光（参考光）和被样品介质（40）散射的光，并且检测参考光和散射光的干涉光的光谱 通过光检测单元（70）。 在计算处理单元（80）中，基于检测到的光谱，求出样本介质（40）中的散射点的各位置的强度信号，求出散射点的各位置的功率谱 基于每个位置处的散射点的强度信号的时间变化的点。 基于已经找到的功率谱，对于散射点的每个位置，同时发现粒子散射系数。

    REFERENCE CALIBRATION FOR AN ADAPTIVE OPTICS SYSTEM
    9.
    发明申请
    REFERENCE CALIBRATION FOR AN ADAPTIVE OPTICS SYSTEM 审中-公开
    自适应光学系统的参考校准

    公开(公告)号：WO2013050470A1

    公开(公告)日：2013-04-11

    申请号：PCT/EP2012/069620

    申请日：2012-10-04

    申请人： POPOVIC, Zoran ,  THAUNG, Jörgen ,  KNUTSSON, Per ,  OWNER-PETERSEN, Mette ,  SVENSSON, Bengt

    发明人： KNUTSSON, Per

    IPC分类号： A61B3/10 ,  G01J9/02 ,  H04B10/10 ,  F41H13/00

    CPC分类号： G02B27/0068 ,  A61B3/0025 ,  A61B3/1015 ,  A61B3/14 ,  F41H13/005 ,  G01J9/00 ,  G01J9/02 ,  G02B26/06 ,  G02F1/19 ,  G06T5/10 ,  G06T2207/20048 ,  H04N5/2256

    摘要： A method of determining a reference calibration setting for an adaptive optics system (1) comprising a detecting device (8) for detecting light from an object (5); and at least one controllable wavefront modifying device (9) arranged such that light from the object (5) passes via the wavefront modifying device (9) to the detecting device (8). The method comprises the steps of: arranging (100) a light-source between the object (5) and the wavefront modifying device (9) to provide a reference light beam to the detecting device (8) via the wavefront modifying device; for each of a plurality of orthogonal wavefront modes of the wavefront modifying device: controlling (101) the wavefront modifying device to vary a magnitude of the orthogonal wavefront mode over a predetermined number of magnitude settings; acquiring (102) a series of readings of the detecting device, each reading corresponding to one of the magnitude settings; determining (103) a quality metric value indicative of an information content of the reading for each reading in the series of readings, resulting in a series of quality metric values; and determining (106) a reference parameter set for the wavefront modifying device corresponding to an optimum quality metric value based on the series of quality metric values.

    摘要翻译： 一种确定用于自适应光学系统（1）的参考校准设置的方法，包括用于检测来自对象（5）的光的检测装置（8）; 以及至少一个可控波前修正设备（9），其布置成使得来自对象（5）的光经由波前修改设备（9）经过检测设备（8）。 该方法包括以下步骤：在对象（5）和波前修改设备（9）之间布置（100）光源，以通过波前修改设备向检测设备（8）提供参考光束; 对于波前修改设备的多个正交波阵面模式中的每一个：控制（101）波前修改设备以在预定数量的幅度设置上改变正交波阵面模式的幅度; 获取（102）所述检测装置的一系列读数，每个读数对应于所述幅度设置之一; 确定（103）指示所述阅读系列中每次阅读的阅读的信息内容的质量度量值，得到一系列质量度量值; 以及基于所述一系列质量度量值，确定（106）对应于最佳质量度量值的波前修正设备的参考参数集。