Abstract:
Optical diffraction tomography microscope (2) comprising an illumination system (4) configured for transmitting a sample beam through a sample observation zone, a detection system (8) comprising at least one image sensor (54), and a wave collection system (6) comprising a lens (16) downstream of the sample observation zone configured for directing the sample beam towards the at least one image sensor.
Abstract:
A dark-field optical system may include a rotational objective lens assembly with a dark-field objective lens to collect light from a sample within a collection numerical aperture, where the dark-field objective lens includes an entrance aperture and an exit aperture at symmetrically-opposed azimuth angles with respect to an optical axis, a rotational bearing to allow rotation of at least a part of the dark-field objective lens including the entrance aperture and the exit aperture around the optical axis, and a rotational driver to control a rotational angle of the entrance aperture. The system may also include a multi-angle illumination sub-system to illuminate the sample with an illumination beam through the entrance aperture at two or more illumination azimuth angles, where an azimuth angle of the illumination beam on the sample is selectable by rotating the objective lens to any of the two or more illumination azimuth angles.
Abstract:
Beschrieben ist eine Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop, insbesondere ein Lichtblatt- oder SPIM-Mikroskop oder ein Schiefeebenemikroskop, wie ein OPM- oder SCAPE-Mikroskop, zur Beleuchtung einer Probe, wobei die Beleuchtungsanordnung einen Beleuchtungseingang zur Einspeisung eines Beleuchtungsstrahlenbündels einer kohärenten Lichtquelle entlang einer optischen Achse der Beleuchtungsanordnung, ein Mittel zur Aufteilung des Beleuchtungsstrahlenbündels in mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel, ein fokussierendes optisches System zur Fokussierung der mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel und einen einer Probenseite zugewandten Beleuchtungsausgang zur Ausgabe der mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel zur Probenseite, aufweist. Das fokussierende optische System fokussiert die mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel und bringt sie in einem Bereich am probenseitigen Beleuchtungsausgang so zur Überlagerung, dass die Teilbeleuchtungsstrahlenbündel ein Interferenzmuster ausbilden.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine EPI Beleuchtung, die eine Durchlicht-Hellfeld oder Durchlicht-Dunkelfeldaufnahme oder eine Phasenkontrastaufnahme einer mikroskopischen Probe ermöglicht. Dabei wird ein gegenüber der Beobachtungsseite angeordneter plattenförmiger Reflektor verwendet, welcher eine Umlenkung des Beleuchtungsstrahlenbündels bewirkt. Dabei weist der plattenförmig ausgebildete Reflektor eine Plattennormale und ein von der Plattennormale abweichendes Ersatzlot auf oder ist als Retroreflektor ausgebildet.
Abstract:
Ein Beleuchtungsmodul (101) für eine optische Vorrichtung umfasst eine Lichtquelleneinheit (102), die eingerichtet ist, um jeweils wahlweise Licht entlang einer Vielzahl von Strahlengängen (112) auszusenden. Das Beleuchtungsmodul (101) umfasst auch eine Vielzahl von lateral versetzt angeordneten optischen Elementen (201-203), wobei jedes optische Element (201-203) aus der Vielzahl von optischen Elementen (201-203) eingerichtet ist, um mindestens einen entsprechenden Strahlengang (112) aus der Vielzahl von Strahlengängen zu transformieren.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur SPIM-Untersuchung einer Probe (6) und eine Vorrichtung zur SPIM-Untersuchung einer Probe (6), aufweisend eine Beleuchtungsvorrichtung zum Erzeugen eines Lichtblattes und eine Detektionsanordnung, die ein Detektionsobjektiv und einen Detektionsstrahlgang umfasst. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass mehrere Probenschichten (8, 9, 10) simultan mit einem einzigen Lichtblatt (4) beleuchtet werden und dass das von den einzelnen Probenschichten (8, 9, 10) ausgehende Detektionslicht (11) zeitlich separat und/oder räumlich separat voneinander detektiert wird.
Abstract:
Das Verfahren dient zum Bestimmen von Partikeln (3), insbesondere Bakterien in Flüssigkeit, und arbeitet unter Verwendung einer bildgebenden optischen Vorrichtung mit einer Lichtquelle (1), mit einem optisehen Sensor (4) mit einem Feld von lichtempfindlichen Pixeln und mit einer zwischen Lichtquelle (1) und Sensor (4) angeordneten zu untersuchenden Flüssigkeitsprobe. Es werden Kennzeichen von mindestens einem bildmäßig erfassten Partikel (3) mit Kennzeichen einer Kennzeichensammlung zur Bestimmung des erfassten Partikels (3) verglichen, wobei die Bilderfassung in Dunkelfeldtechnik erfolgt und ein lichtempfindliches Pixel mehrere Subpixel aufweist, die zur Bilderfassung genutzt werden.
Abstract:
Systems, devices, and methods are described for identifying, classifying, differentiating, etc., objects. For example a hyperspectral imaging system can include a dark-field module operably coupled to at least one of an optical assembly, a dark-field illuminator, and a hyperspectral imaging module. The dark-field module can include circuitry having one or more sensors operable to acquire one or more dark- field micrographs associated with scattered electromagnetic energy from an object interrogated by the dark-field interrogation stimulus. The hyperspectral imaging module can be operably coupled to the dark- field module, and can include circuitry configured to generate an angular-resolved and spectrally resolved scattering matrix based on the one or more dark-field micrographs of the object.