发明授权
CN101271859B 等离子体处理装置内结构体和等离子体处理装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 等离子体处理装置内结构体和等离子体处理装置
- 专利标题(英): Plasma processing apparatus and structure therein
-
申请号: CN200710167432.1申请日: 2007-10-24
-
公开(公告)号: CN101271859B公开(公告)日: 2010-11-24
- 发明人: 樋熊政一 , 武藤慎司
- 申请人: 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- 代理商 龙淳
- 优先权: 2007-070370 2007.03.19 JP
- 主分类号: H01L21/683
- IPC分类号: H01L21/683 ; H01L21/67 ; H01L21/00 ; H01L21/02 ; H01L21/3065 ; H01L21/311 ; H01L21/3213 ; H01L21/205 ; H01L21/285 ; H01L21/31 ; H01L21/3205 ; C23C16/44 ; C23C16/458 ; C23C16/513 ; C23F4/00 ; H01J37/32 ; H05H1/00 ; G02F1/1333
摘要:
本发明提供即使当在高温下进行处理时,也能够抑制喷镀膜产生损伤,从而能够防止由于绝缘不良而产生放电等的等离子体处理装置用结构体和等离子体处理装置。在基材(100)中形成有圆孔(101),该圆孔(101)内设置有由绝缘性的陶瓷等构成的圆筒状的套筒(120)。套筒(120)以其顶部(121)位于圆孔(101)上端部的下侧规定距离的方式设置,使得套筒(120)与喷镀膜(110)不接触。在比顶部(121)更上侧的部分的圆孔(101)的侧壁部分上,形成有绝缘体层(130)。由喷镀膜(110)、套筒(120)、绝缘体层(130)构成覆盖基材(100)的上面(第一面)和圆孔(101)内侧面(第二面)的绝缘面。
公开/授权文献
- CN101271859A 等离子体处理装置内结构体和等离子体处理装置 公开/授权日:2008-09-24