一种压接型IGBT子模组测试适配器及测试设备

    公开(公告)号:CN115656561A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202110745863.1

    申请日:2021-07-01

    IPC分类号: G01R1/04 G01R31/26

    摘要: 本发明提供一种压接型IGBT子模组测试适配器及测试设备,压接型IGBT子模组测试适配器包括:上夹具与下夹具,下夹具适于与上夹具相对设置;上夹具包括:层叠且间隔设置的负极基板、正极基板和电感连接基板;下夹具包括:下基板,下基板适于设置IGBT子模组和陪测二极管;负极基板适于与IGBT子模组的发射极电学连接,正极基板适于与陪测二极管的阴极电学连接,下基板适于与陪测二极管的阳极、IGBT子模组的集电极以及电感连接基板电学连接。陪测二极管能够设置在适配器内部,缩减了功率回路的有效长度,从而降低了功率寄生电感,减小了开关过程中的过电压和振荡现象,有利于提高测试结果的准确性。

    一种压接型IGBT子模组测试适配器及测试设备

    公开(公告)号:CN115561602A

    公开(公告)日:2023-01-03

    申请号:CN202110745843.4

    申请日:2021-07-01

    发明人: 代安琪 石浩 王亮

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明提供一种压接型IGBT子模组测试适配器及测试设备,压接型IGBT子模组测试适配器包括下夹具;下夹具包括:导电基板,导电基板中具有定位孔阵列,定位孔阵列包括若干个分立的定位孔;定位组件,定位组件包括导电适配件,导电适配件适于放置于定位孔阵列上,导电适配件中设置有第一凹槽,第一凹槽适于放置待测子模组;第一紧固件,第一紧固件适于贯穿第一凹槽侧部的导电适配件并延伸在至少部分个定位孔中。当待测子模组的结构发生变化时无需对整个适配器的结构进行重新设计,提高了适配器的通用性,从而降低了测试成本并缩短了测试时间。

    一种压接型IGBT子模组测试适配器及测试设备

    公开(公告)号:CN115561601A

    公开(公告)日:2023-01-03

    申请号:CN202110744361.7

    申请日:2021-07-01

    IPC分类号: G01R31/26 G01R1/04

    摘要: 本发明提供一种压接型IGBT子模组测试适配器及测试设备,压接型IGBT子模组测试适配器包括:上夹具与下夹具,所述下夹具适于与所述上夹具相对设置;所述上夹具包括负极基板;所述下夹具包括:导电基板;位于所述导电基板上的高度可调的支撑组件,所述支撑组件背离所述导电基板的一端适于与所述上夹具接触;位于所述导电基板上的定位组件,所述定位组件适于容纳IGBT子模组;探针,所述探针适于位于所述负极基板和所述IGBT子模组之间,所述导电基板适于与IGBT子模组的集电极电学连接。所述压接型IGBT子模组测试适配器使IGBT子模组上的压力更加均匀,能够降低测试时IGBT子模组失效的概率。

    压接型IGBT器件芯片电流分时测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN114545184A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210159329.7

    申请日:2022-02-22

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明涉及一种压接型IGBT器件芯片电流分时测量系统及测量方法,属于压接型IGBT器件领域,罗氏线圈阵列板获取压接型IGBT器件内部各芯片的电流微分信号,模拟多路复用器在主控机的控制下接收被测芯片的电流微分信号,通过积分器还原为被测芯片的电流比例信号,模数转换器将被测芯片的电流比例信号转换为被测芯片的数字电流比例信号,从而主控机获得被测芯片的电流数据。本发明只需要1个积分器和1个模数转换器即可实现多芯片电流的测量,减少硬件资源占用,降低系统复杂度。且本发明充分利用电流周期性和电流波形跨周期基本不变的特性,实现了多芯片电流的跨周期分时测量,同时在电流稳态阶段将模数转换器休眠,降低了系统运行成本。

    一种功率器件均流特性评估实验装置

    公开(公告)号:CN113030608B

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202110207863.6

    申请日:2021-02-24

    IPC分类号: G01R31/00 G01R1/04

    摘要: 本发明公开了一种功率器件均流特性评估实验装置,所述实验装置包括:PCB板和功率器件测试电路;PCB板上设置有对称分布的偶数个功率器件插座;功率器件测试电路的功率电路的多个被测功率器件可选择的插在偶数个所述功率器件插座中的多个功率器件插座上,使功率电路可在PCB板上进行对称布局和非对称布局;本发明通过设置对称分布的偶数个功率器件插座,使多个被测功率器件可选择的插在偶数个所述功率器件插座中的多个功率器件插座上,使所述功率电路可在所述PCB板上进行对称布局和非对称布局,进而实现电路排布不对称对于功率器件均流特性影响的研究和在实际工作中不同功率器件的参数的一致性的对比测试。

    一种功率器件均流特性评估实验装置

    公开(公告)号:CN113030608A

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN202110207863.6

    申请日:2021-02-24

    IPC分类号: G01R31/00 G01R1/04

    摘要: 本发明公开了一种功率器件均流特性评估实验装置,所述实验装置包括:PCB板和功率器件测试电路;PCB板上设置有对称分布的偶数个功率器件插座;功率器件测试电路的功率电路的多个被测功率器件可选择的插在偶数个所述功率器件插座中的多个功率器件插座上,使功率电路可在PCB板上进行对称布局和非对称布局;本发明通过设置对称分布的偶数个功率器件插座,使多个被测功率器件可选择的插在偶数个所述功率器件插座中的多个功率器件插座上,使所述功率电路可在所述PCB板上进行对称布局和非对称布局,进而实现电路排布不对称对于功率器件均流特性影响的研究和在实际工作中不同功率器件的参数的一致性的对比测试。