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公开(公告)号：CN104634796A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201410767544.0
申请日：2014-12-11
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC分类号： G01V5/0016 , G01V5/0008 , G21K1/02
摘要： 本发明公开了一种用于集装箱或车辆检查系统的对准系统、检查系统和对准方法。检查系统包括射线源、准直器以及安装在探测器臂上的探测器模块，射线源、准直器以及探测器模块布置成形成检查通道，射线源发射的射线束经过准直器入射到被检查物体，由探测器模块收集被衰减的射线束以完成检查。对准系统包括测量模块，所述测量模块布置成接收从准直器发出的射线束并通过测量射线束确定射线源和准直器的位置和方向。该对准方法可以更加准确地测量射线源中心点、探测器笔端中心线及准直器中心线的对准程度。
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公开(公告)号：CN102565110B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201010624252.3
申请日：2010-12-31
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/203
CPC分类号： G01N23/203 , G01N2223/3301 , G01V5/0025 , G21K1/043
摘要： 本发明公开了一种背散射成像用射线束的扫描装置，包括：辐射源；固定屏蔽板和旋转屏蔽体，固定屏蔽板上设置有允许来自辐射源的射线束穿过固定屏蔽板的射线通过区域，旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线出射区域，固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙，旋转屏蔽体为圆柱体，射线入射区域和射线出射区域分别为沿螺旋线设置的一系列离散小孔，其中：旋转屏蔽体的旋转轴线位于辐射源和固定屏蔽板上的直线缝隙共同限定的平面上，其特征在于：通过控制旋转屏蔽体上的一系列离散小孔的不同位置的形状和大小，可以控制扫描准直孔在不同位置的形状和大小，以控制穿过扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的形状和大小。
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公开(公告)号：CN104360375A
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201410743721.1
申请日：2014-12-08
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明的便携式低温半导体探测器装置具备：探测器晶体；高气压晶体保护室，在内部充满高压超纯惰性气体并容纳有所述探测器晶体；真空室，内部为真空环境并容纳有所述高气压晶体保护室；制冷装置，包括制冷机和与所述制冷机相连的制冷机冷指，用于冷却所述探测器晶体。
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公开(公告)号：CN102313752B
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201010223292.7
申请日：2010-06-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01V5/0016 , G01N23/046 , G01N23/05 , G01N2223/419 , G01V5/0025
摘要： 本发明提供一种物品检测设备，包括：X光机；X光机准直装置；透射探测器阵列和散射探测器阵列，包括排成i行j列的多个相同的探测模块，其中，物品被X射线透射的透射截面被分成i行×j列个大小相同的分块区域，散射探测器阵列的i×j个探测模块与物品的透射截面的i×j个分块区域一一对应，并分别探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子，以便根据探测到的电子对效应湮没光子计数与康普顿散射光子计数的比值以获得物品的各个分块区域处的原子序数来识别物品的各个分块区域处的元素，从而形成表示物品的三维元素分布信息的三维图像，其中X光机产生的X射线的能量大于1.022MeV，i和j均为大于或等于2的正整数。
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公开(公告)号：CN103913763A
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201310004796.3
申请日：2013-01-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01T1/36
摘要： 公开了一种辐射探测器及包括该辐射探测器的辐射探测装置。辐射探测器包括：用于感测辐射的半导体晶体，所述半导体晶体包括顶部表面、底部表面和至少一个侧面；位于半导体晶体的顶部表面的第一阳极；位于半导体晶体的底部表面的第二阳极；以及位于半导体晶体的至少一个侧面的阴极。辐射探测装置包括该辐射探测器和信号处理电路。该辐射探测器利用结构简单的双阳极结构实现了单电荷灵敏特性，从而改善能量分辨率。
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公开(公告)号：CN102116747B
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN200910244502.8
申请日：2009-12-30
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/203
CPC分类号： G01N23/203 , G21K1/043
摘要： 本发明公开了一种背散射成像用射线束的扫描装置，包括：辐射源；分别位于辐射源和被扫描对象之间的固定屏蔽板和旋转屏蔽体，其中所述固定屏蔽板相对于辐射源是固定的，所述旋转屏蔽体相对于固定屏蔽板是可旋转的。所述固定屏蔽板上设置有允许来自所述辐射源的射线束穿过所述固定屏蔽板的射线通过区域，旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线出射区域，在旋转屏蔽体旋转扫描过程中，固定屏蔽板的射线通过区域与旋转屏蔽体的射线入射区域和射线出射区域连续相交以构成扫描准直孔。另外，本发明还公开了一种背散射成像用射线束的扫描方法。
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公开(公告)号：CN103713330A
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201310728272.9
申请日：2008-01-11
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/00
摘要： 本发明公开了一种用于人体安全检查的辐射检查装置，包括：射线发生器；探测器；与射线发生器连接用于升降射线发生器的第一柔性件；与探测器连接用于升降探测器的第二柔性件；第三柔性件；以及柔性件连接件，第一柔性件和第二柔性件通过柔性件连接件与第三柔性件的一端连接；驱动装置，所述驱动装置驱动第三柔性件，以通过第一柔性件和第二柔性件同步升降射线发生器和探测器，同时射线发生器和探测器在水平方向上间隔预定距离。根据本发明的用于人体安全检查的辐射检查装置保证了在整个检测过程中，射线源与探测器要同步运行，由此可以提高辐射成像的质量。此外，根据本发明的用于人体安全检查的辐射检查装置减少了成本并且降低了噪音。
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公开(公告)号：CN103698386A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201310687895.6
申请日：2010-12-31
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： G01N27/622
摘要： 本发明提供了一种用于痕量探测仪的进样装置，该包括：设置在进样装置中的用于使样品从进样件脱附的进样室；以及用于在进样时使进样室与痕量探测仪的迁移管流体连通的阀门组件。本发明通过采用上述结构，例如，可以通过提高样品的透过率，增加检测装置的灵敏度。同时实现了迁移管内部环境与外界环境隔离，避免迁移区被污染，能够保持仪器的灵敏度、物质峰峰位、分辨率等重要参数不变，从而实现仪器的稳定、一致性。
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公开(公告)号：CN103646845A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201310690394.3
申请日：2010-06-30
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 一种用于离子迁移谱仪的迁移管模块，包括：迁移管本体模块；高压电源和门控电路模块；以及前端放大电路模块，其中所述高压电源和门控电路模块和所述前端放大电路模块与所述迁移管本体模块通过电缆形成电连接；所述迁移管模块还包括连接机构，其中高压电源和门控电路模块以及前端放大电路模块通过所述连接机构与迁移管本体模块形成物理以成为一体结构。
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公开(公告)号：CN103529061A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201210231130.7
申请日：2012-07-04
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/10 , G01N23/04 , G01N2223/301 , G01N2223/308 , G01V5/0016 , G01V5/0066
摘要： 本发明公开一种车载式辐射检查系统，包括行走车体、探测臂、辐射源和探测器。所述车载式辐射检查系统还包括与所述探测臂分离的跟随机构，所述跟随机构中包括防辐射材料，并且在检查被检物品时所述跟随机构以非接触的方式跟随所述探测臂一起移动，以防止辐射外泄。本发明不需要在探测臂中灌注铅等大密度防辐射材料，因此，能够有效降低探测臂的重量，从而不需要在搭载该探测臂的行走车体上设置平衡配重，因此，能有效解决车载式辐射检查系统质量过大的问题。同时，本发明还能对跟随机构的行走过程进行精密控制，防止跟随机构与主动机构发生碰撞。
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