面板的检查装置和检查方法

    公开(公告)号:CN101424665A

    公开(公告)日:2009-05-06

    申请号:CN200810174992.4

    申请日:2008-10-31

    IPC分类号: G01N29/12 G01H13/00 G01H17/00

    摘要: 本发明提供考虑了进行冲压成形前的板材的板厚偏差的面板检查装置和面板检查方法。面板检查装置具有:共振频率提取单元,其提取面板的多个共振频率;共振频率选择单元,其从所提取的多个共振频率中,选择由振动传播路径不同的两个的共振频率(A、B)构成的共振频率的组合;合格品范围生成单元,其针对预先判断为合格品的多个合格品面板,对针对各合格品面板所选择的共振频率(A、B)的集合进行统计处理,在将共振频率(A、B)作为坐标轴的坐标上生成合格品范围(91);以及面板质量判定单元,其针对检查对象的面板,将针对检查对象的面板所选择的共振频率(A、B)和由合格品范围生成单元生成的合格品范围(91)相比较,根据该比较来判定检查对象的面板的质量是否良好。

    撷取动态振动频率的方法
    95.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106855432B

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201610295312.9

    申请日:2016-05-06

    发明人: 詹家铭 吴文杰

    IPC分类号: G01H17/00

    摘要: 本发明公开了一种撷取动态振动频率的方法,包括下列步骤:选用至少五双振动量测元件;决定该第一双至第五双振动量测元件带宽范围;将该第一双至第五双振动量测元件依序在一主轴的几何结构对称的第一侧及第二侧,以对称式布点方式進行振动位移量的量测;校正该第一侧及第二侧的其中一者的该第一至第五振动量测元件所量测的振动位移量,以差动消除产生环境干扰的噪声;计算出位于该第一侧及第二侧的至少一双节点的位置;利用前述步骤的该些振动位移量以推算出一双主谐波的动态振动频率;以及确认该主轴的振动模态。本发明的方法可以快速量测切削过程中的动态振动频率,并可以清楚了解切削动态振动频率、模态、以及节点位置。

    一种基于机床振动的故障检测方法及系统

    公开(公告)号:CN108303465A

    公开(公告)日:2018-07-20

    申请号:CN201711296033.5

    申请日:2017-12-08

    发明人: 卢强 席晨飞

    IPC分类号: G01N29/12

    摘要: 本发明提供一种基于机床振动的故障检测方法,获取特征频率,振动传感器采集机床不同转速下工作时的机床振动的特征频率;获取固有频率,采用主动激励获取机床频响函数,并分析频响函数得到机床结构的固有频率;故障判断,根据所述特征频率与所述固有频率判断故障类型。本发明通过对比振动的频谱分析后的特征频率与频响函数测试的固有频率,如果不一致,说明故障类型主要为装配不良造成的,检测各个装配环节;如果通过频谱分析后的特征频率与频响函数测试的固有频率一致,则说明故障类型主要为结构共振造成的,需要从结构上加以调整。本发明检测过程清晰明确,检测结果准确率高,提高机床故障检测效率,便于数控机床推广应用。

    一种金刚烷胺分子印迹膜压电传感器的制备方法

    公开(公告)号:CN108120652A

    公开(公告)日:2018-06-05

    申请号:CN201611072477.6

    申请日:2016-11-28

    IPC分类号: G01N5/00 G01N29/12 G01G3/13

    摘要: 本发明公开了一种金刚烷胺分子印迹膜压电传感器的制备方法和应用。石英金电极依次经过预处理、氧化石墨烯-金纳米复合材料的修饰、电聚合反应、模板分子洗脱步骤制备得到金刚烷胺分子印迹膜压电传感器。本发明制备的分子印迹传感材料通过氧化石墨烯和金纳米颗粒掺杂,增加印迹位点来提高灵敏度。该分子印迹压电传感器将分子印迹聚合物选择特异性识别与压电传感器微型化,免标记,高灵敏性和快速响应等优点结合起来,对动物源性食品中的金刚烷胺残留提供了一种简单、快速、特异、灵敏的压电传感检测方法,对金刚烷胺的检测线性范围为1.0×10-5~1.0×10-3mmol L-1。

    使用组织的3‑D存储结构的高容量监视器晶体交换器

    公开(公告)号:CN104048590B

    公开(公告)日:2017-09-19

    申请号:CN201410097015.4

    申请日:2014-03-17

    申请人: 英飞康公司

    发明人: C.A.小果戈尔

    IPC分类号: G01B7/06 C23C14/54

    摘要: 公开了使用组织的3‑D存储结构的高容量监视器晶体交换器。一种用于在处理室中的沉积过程期间对沉积到基板上的材料进行监视和检测的装置包括:存储结构,其具有在分别第一和第二端之间延伸的主轴以及在第一和第二端之间的、围绕该主轴延伸的外侧表面。多个监视器晶体在沿所述外侧表面的间隔的位置处由该存储结构支撑,并且在其中,驱动机构使该存储结构相对于主轴旋转和轴向推进,从而使得至少一个监视器晶体相对于至少一个测量位置推进或后退。可以使用电刷接触或其它机构来对推进到测量位置的保持的晶体进行电连接,以便使用谐振电路来激励该晶体。