具有背景电流自补偿的红外读出电路及其控制方法

    公开(公告)号:CN107990988A

    公开(公告)日:2018-05-04

    申请号:CN201810034579.1

    申请日:2018-01-15

    Abstract: 本发明公开了一种具有背景电流自补偿的红外读出电路及其控制方法,包括电流源补偿模块、自补偿控制模块、接口模块和外围电路。接口模块包括比较器和DAC,电流源补偿模块由接口模块的DAC控制,提供与焦平面阵列背景电流大小相同的补偿电流;自补偿控制模块对背景电流进行计算,并按照最优控制值驱动DAC模块输出控制电压;自补偿控制模块读取储存在ROM内的符合比较器评判标准的补偿值,对背景补偿电流进行反馈调节。该电路及其控制方法,借助单元电路积分器对误差电流进行积分,保证了补偿电流与背景电流补偿的一致性,降低了不同像元的补偿非均匀性。同时还可以针对不同背景电流的大小进行自补偿校正,对不同材料的非制冷焦平面阵列具有兼容性。

    非制冷红外与激光复合周向扫描探测装置

    公开(公告)号:CN107656540A

    公开(公告)日:2018-02-02

    申请号:CN201710764411.1

    申请日:2017-08-30

    Abstract: 本发明公开了一种非制冷红外与激光复合周向扫描探测装置,包括第一固定座、第二固定座、第三固定座、激光发射系统、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、旋转电机、半透镜、激光接收系统、红外探测器;第一固定座、第二固定座、第三固定座中间设有同轴的通孔;激光发射光路和激光接收光路相互平行;激光发射系统设置在第一固定座一端,第一反射镜设置在第一固定座一端的通孔内;旋转电机固定在第二固定座的通孔内;第二反射镜、第三反射镜与旋转电机固连,且第二反射镜位于激光发射光路处,第三反射镜位于激光接收光路处;半透镜固定在第三固定座另一端;激光接收系统和红外探测器均固定在第三固定座上;本发明探测装置提高了目标捕获率,提高了空间利用率。

    基于全内反射及光学相干层析的亚表面测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105092585B

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201410185995.3

    申请日:2014-05-05

    Abstract: 本发明公开了一种基于全内反射及光学相干层析的亚表面测量装置及方法。该装置包括依次设置的光源系统、待测台和显微分析系统,其中光源系统包括顺次设置的激光器、偏振片、诺马斯基棱镜、准直透镜、第一反射镜和第二反射镜,待测台包括直角棱镜、折射率液和待测件,显微分析系统包括高倍物镜、第三反射镜、诺马斯基干涉仪成像系统、第四反射镜、第五反射镜和光学相干层析系统,多维精密电控调整系统包括支撑台、显微系统支架、三维微位移部件、驱动电机和计算机。所述诺马斯基干涉仪显微成像系统和光学相干层析系统均置于显微系统支架上,分别进行全内反射粗定位过程和光学相干层析过程,即将两者相结合对元件检测,检测速度快、可靠性强、精度高。

    一种采用环形光栅的焦距检测装置及方法

    公开(公告)号:CN107515103A

    公开(公告)日:2017-12-26

    申请号:CN201610436011.3

    申请日:2016-06-17

    CPC classification number: G01M11/02

    Abstract: 本发明公开了一种采用环形光栅的焦距检测装置及方法,该装置包括共光轴顺次设置的激光器、准直扩束物镜、待测系统、第一光栅、第二光栅、接收屏、成像物镜、CCD;方法为:由激光器发出的激光由光纤导出,经过准直扩束物镜,得到一束均匀的平行光,此时未放入待测系统;平行光入射时,观察接收屏上形成的干涉条纹,使用CCD采集该干涉条纹,调整第二光栅的对准线与第一光栅的栅线平行,此时采集到的干涉条纹记为干涉条纹L1;放入待测系统,通过CCD再次采集干涉条纹,记为干涉条纹L2;通过频域亚像素迭代法求出干涉条纹L1和干涉条纹L2的夹角,即可得被测系统的焦距。本发明结构简单、精度高、易于实现,可以用于中等焦距系统的精确测量。

    一种活塞环表面镍铝基自润滑耐磨涂层及制备方法

    公开(公告)号:CN107475655A

    公开(公告)日:2017-12-15

    申请号:CN201610385372.X

    申请日:2016-06-03

    CPC classification number: C23C4/06 C22C19/03

    Abstract: 本发明公开了一种活塞环表面镍铝基自润滑耐磨涂层及制备方法,所述涂层包括如下组分组成:75wt%-78wt% Ni、4wt%-4.5wt% Mo、4wt%-4.5wt% Al、10wt%-12wt% Ag、3wt%-5wt% h-BN;其制备步骤为:将Ni,Mo,Al,Ag,h-BN粉末机械球磨,干燥后制得复合粉末,采用等离子喷涂法,将复合粉末喷涂在活塞环外圆表面,获得所述涂层。本发明获得的涂层具有较低的摩擦系数,良好的润滑性能,满足发动机的高效率高、高载荷、高寿命等要求;所述涂层在高温下能够形成新润滑相,能够有效降低摩擦磨损,提高活塞环公况。

    一种微测辐射热计热学参数测试装置及方法

    公开(公告)号:CN106768386A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611149971.8

    申请日:2016-12-14

    CPC classification number: G01J5/20 G01J2005/0048

    Abstract: 本发明公开了一种微测辐射热计热学参数测试装置,包括电源、测试电路、数据采集卡、PC机、抽真空装置;测试电路包括两个运算放大器、限流电阻、四线测量端、标准电阻、电容和多路开关;恒压电源分别接两个运算放大器的输入端;第一运算放大器输出端和负输出端相连后接限流电阻,限流电阻接四线测量端第一高端,四线测量端第二高端接第一开关,第二低端、第一低端分别接第二开关、第三开关;第二运算放大器负输入端和输出端之间并联接标准电阻和电容,标准电阻和电容的一端均接第一低端,另一端均接第四开关;四个开关并联接入数据采集卡,经USB接PC机;热学参数的测试方法包括设定相应电压、电阻,抽真空,采样输出电压值至PC机,结合热响应曲线计算热响应参数。

    非制冷红外探测阵列用自掺杂硅锗/硅多量子阱热敏材料

    公开(公告)号:CN103630247B

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201210306642.5

    申请日:2012-08-27

    Abstract: 本发明公开了一种非制冷红外探测阵列用自掺杂硅锗/硅多量子阱结构并具有较高温度电阻系数的热敏材料。材料包括底部接触层、底部隔离层、硅锗/硅多量子阱结构、顶部隔离层和顶部接触层。当隔离层厚度为35~100 nm,硼粒子由接触层自扩散至硅锗/硅多量子阱结构中,并形成载流子。该种设计简化了工艺过程,有利于制备晶格质量较高的硅锗/硅多量子阱结构。另外,本发明公开了该种材料所应用的一种非制冷红外探测阵列的像元结构。双支撑层的厚度均为200 nm~250 nm,在满足光学条件的情况下使得像元结构更为稳定。本发明还公开了该种材料的一种基于低压化学气相沉积技术的外延生长工艺过程。

    应用硅锗薄膜的非制冷红外焦平面阵列像元制造方法

    公开(公告)号:CN103730535B

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201210388581.1

    申请日:2012-10-12

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种应用硅锗薄膜的非制冷红外焦平面阵列像元制造方法,包括将硅锗薄膜由SOI晶圆转移至CMOS晶圆,对薄膜刻蚀形成沟道,用lift-off法形成金属顶电极,对薄膜刻蚀形成敏感区块,PECVD法沉积氮化硅支撑薄膜,电镀生长出金属电极柱,溅射TiW形成电路,溅射红外吸收层,刻蚀氮化硅层、TiW层等形成L形悬臂梁等步骤。本发明在微测辐射热计领域成功的应用了硅锗/硅量子阱材料,拓展了非制冷红外焦平面可使用的敏感材料范围;考虑到硅锗/硅量子阱材料是一种“立体”导电材料,通过刻蚀沟道的方式形成U字形回路,增大了敏感区域的电阻;通过引入氮化硅薄膜,将λ/4共振红外吸收腔置于敏感区域内,更精确的控制了红外吸收腔尺寸,有效的增大了红外吸收率。

    共光路型多重倾斜波面补偿非零位干涉测量装置

    公开(公告)号:CN103575229B

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201210263270.2

    申请日:2012-07-27

    Abstract: 本发明公开了一种共光路型多重倾斜波面补偿非零位干涉测量装置,包括菲索干涉仪、标准平晶、自由曲面梯度补偿模块和待测自由曲面,自由曲面梯度补偿模块的主光轴与干涉测试装置主光轴重合,菲索干涉仪的发出的平行光束经过标准平晶后分成两束光,一束光从标准平晶表面反射回菲索干涉仪形成参考光,另一束光进入自由曲面梯度补偿模块,并从自由曲面梯度补偿模块出射,形成不同倾斜角度的测试光束入射到待测自由曲面,经过待测自由曲面反射回到自由曲面梯度补偿模块,最终从自由曲面梯度补偿模块出射,返回菲索干涉仪形成测试光。本装置同时实现了局部梯度较大的光学自由曲面的高精度测量和测试装置的可移植性模块化。

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