碳纳米管互连接触
    124.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101208793A

    公开(公告)日:2008-06-25

    申请号:CN200680020459.1

    申请日:2006-06-06

    申请人: 英特尔公司

    IPC分类号: H01L21/768 H01L23/532

    摘要: 一种用于在半导体基材上形成互连的方法,包括:提供至少一种在沟槽之内的碳纳米管(304),蚀刻所述碳纳米管的至少一部分以产生开口(602),通过所述开口在所述碳纳米管上共形地沉积金属层,并且在所述基本上与所述碳纳米管连接的开口上形成金属化的接触(308)。可以使用原子层沉积工艺或无电镀覆工艺将金属层共形地沉积到所述碳纳米管上。可以沉积多个金属层以基本填充所述碳纳米管中的空隙。所述无电镀覆工艺可以使用超临界液体作为用于镀覆溶液的介质。在所述无电镀覆工艺之前可以对所述碳纳米管的润湿特性进行改性,以提高所述碳纳米管的亲水性。