一种用于铜互联的导电阻挡层材料及其制备方法

    公开(公告)号:CN107768348A

    公开(公告)日:2018-03-06

    申请号:CN201710871387.1

    申请日:2017-09-25

    发明人: 汪洋 平德顺

    摘要: 本发明公开了一种用于铜互联的导电阻挡层材料及其制备方法。该材料包括以下组分:碳酸锂、镍粉、氧化铜、氧化铝、二氧化钛、硬脂酸、油酸、钛酸钠、钙钛矿、氮化硅、异丙醇铝、纳米碳、马来酸酐接枝剂、聚乙二醇。制备过程为,清洗基片;混合碳酸锂、镍粉、氧化铜、氧化铝、二氧化钛、硬脂酸、油酸、钛酸钠、钙钛矿、氮化硅、异丙醇铝、纳米碳、马来酸酐接枝剂、聚乙二醇;再将混合物依次与基片和Cu完成磁控溅射获得导电阻挡层材料。与现有技术相比,本发明所提供的阻挡层材料热稳定高,抗氧化性、方块电阻低,长久防止亦未出现Cu-Si化合物。

    互连结构的形成方法和半导体结构

    公开(公告)号:CN105206561A

    公开(公告)日:2015-12-30

    申请号:CN201410230783.2

    申请日:2014-05-28

    发明人: 肖德元

    IPC分类号: H01L21/768 H01L23/532

    摘要: 一种互连结构的形成方法和一种半导体结构,所述互连结构的形成方法包括:提供衬底;在所述衬底上形成牺牲层;刻蚀所述牺牲层至衬底表面,在所述牺牲层内形成开口,所述开口暴露出部分衬底的表面;在所述开口底部的衬底上以及牺牲层上形成催化层;在所述催化层表面形成垂直于衬底表面的碳纳米管束;去除所述牺牲层、位于牺牲层上的催化层和碳纳米管束,保留位于所述开口内的碳纳米管束;形成覆盖所述衬底表面的第一介质层,所述第一介质层的表面与剩余的碳纳米管束的表面齐平;在所述第一介质层和碳纳米管束上形成第二介质层;在所述第二介质层内形成第二导电层,所述第二导电层与碳纳米管束顶部电连接。所述方法可以提高互连结构的可靠性。