旋光度以及折射率的测定装置

    公开(公告)号:CN105378455A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201580000371.2

    申请日:2015-06-01

    Abstract: 提供一种在同一测定条件下能够同时测定与测定对象物的旋光度和折射率对应的信息,测定操作简便且容易构成为小型设备的旋光度以及折射率的测定装置。具备:试样室(1),其收纳测定对象物;旋光度测定部(2),其测定收纳在试样室(1)内的测定对象物的旋光度;以及折射率测定部(3),其测定与收纳在试样室(1)内的测定对象物的折射率对应的信息。旋光度测定部(2)具有:偏光调制部(11),其使分析对象光(9)进行偏光调制后向试样室(1)入射;强度检测部(12),其检测经过了试样室(1)的分析对象光(5)的光强度;以及旋光度运算部(13),折射率测定部(3)具有:位置检测部(26),其检测向构成试样室(1)的底部的棱镜(8)入射的分析对象光(24)的位置信息;以及折射率(浓度)运算部(13)。

    光学传感器系统
    154.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105264357A

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201480031839.X

    申请日:2014-03-17

    Abstract: 光学传感器系统(21)包括:具有发光器件(2)和检测从发光器件(2)出射的光的检测器(3)的光学传感器头(1);和计算部(51)。发光器件(2)具有包含第一反射面(4)、与第一反射面(4)相对的第二反射面(5)和设置在第一反射面(4)与第二反射面(5)之间的波导(6)的共振器。在第一反射面(4)上形成有至少一个以上的能够激发表面等离子体的金属微粒。计算部(51)根据检测器(3)的检测值计算第一反射面(4)的环境参数。

Patent Agency Ranking