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公开(公告)号:CN109948276B
公开(公告)日:2023-08-04
申请号:CN201910243451.0
申请日:2019-03-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质,计算机设备获取待测失效器件的至少一个测试数据;然后将测试数据输入到深度学习模型中进行失效分析处理,获取与每个测试数据关联的失效节点信息;失效节点信息包括测试数据关联的上级失效事件节点和下级失效事件节点,下级失效事件节点为上级失效事件节点的备选失效机理;最后根据每个测试数据关联的失效节点信息,构建各个失效事件节点之间的父子关系,并根据父子关系确定最底层的失效事件节点为待测失效器件的目标失效机理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和准确率。
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公开(公告)号:CN116524387A
公开(公告)日:2023-08-01
申请号:CN202211575398.2
申请日:2022-12-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 西安电子科技大学
IPC: G06V20/40 , G06N3/08 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/0464
Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习网络的超高清视频压缩损伤等级评估方法,包括以下步骤;步骤1,建立多分辨率压缩损伤训练集,验证集,测试集:步骤2,构建时频域结合的压缩损伤等级评估网络:步骤3,训练时频域结合的压缩损伤等级评估网络:步骤4,测试多分辨率压缩损伤测试集的准确率;步骤5,评估时频域结合的压缩损伤等级评估网络。本发明针对超高清视频压缩损伤来进行评估,解决了压缩损伤数据集制作成本高,不易扩充、视频压缩损伤评估网络未采用端对端的设计,泛化能力不足以及超高清视频评估耗时长的问题。
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公开(公告)号:CN114255904B
公开(公告)日:2023-07-14
申请号:CN202111425588.1
申请日:2021-11-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及电子元器件技术领域,特别涉及镍电极浆料、电阻器和电阻器的制备方法。所述镍电极浆料组分包括:混合型镍粉25份‑60份;包覆型镍粉30份‑50份;无机粉体5份‑15份;有机载体1份‑5份;添加剂3份‑15份;所述混合型镍粉包括第一镍粉、第二镍粉和第三镍粉;所述第一镍粉的粒径为0.1μm~1μm;所述第二镍粉的粒径为1μm~3μm;所述第三镍粉的粒径为3μm~10μm;所述包覆型镍粉为被有机物包覆的镍粉。本发明的镍电极浆料,可以在空气气氛中烧结,具有较好的导电性,适用于现有的电阻器的工艺生产线,降低生产成本。
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公开(公告)号:CN112542102B
公开(公告)日:2023-07-14
申请号:CN202011525236.9
申请日:2020-12-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种背光模组,包括:驱动背板;多个发光单元,所述发光单元间隔设置在所述驱动背板上表面;扩散层,位于所述发光单元上,所述扩散层包括交替排布凹结构及凸结构;所述凹结构的中心与所述发光单元的中心相对应;所述凸结构的中心与相邻所述发光单元之间的间隙的中心相对应。上述背光模组,通过在扩散层上设置凸结构和凹结构,并将凹结构的中心与发光单元的中心相对应,凸结构的中心与发光单元之间的间隙的中心相对应,可将距离发光单元较近的、强度较强的光通过凹结构发散后发出,将距离发光单元较远的、强度较弱的光通过凸结构汇聚后发出,使得发光单元发出的光经过扩散层之后更加均匀地发射出去,提高背光模组发光亮度的均匀性。
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公开(公告)号:CN116405660A
公开(公告)日:2023-07-07
申请号:CN202310417017.6
申请日:2023-04-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H04N17/00
Abstract: 本申请涉及一种摄像头测试暗箱和摄像头测试系统。所述摄像头测试暗箱包括摄像头测试暗箱中包括用于固定待测摄像头的固定组件、与固定组件相对设置的显示屏,摄像头测试暗箱内设置有多条灯带;多条灯带,用于向待测摄像头提供不同的光线场景,以在不同的光线场景下对待测摄像头的性能进行测试。采用本方法能够提高车载摄像头的性能测试结果准确度。
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公开(公告)号:CN116359708A
公开(公告)日:2023-06-30
申请号:CN202310344389.0
申请日:2023-03-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种芯片安全测试电路、方法及设备。该芯片安全测试电路包括:电压毛刺激发模块,用于向芯片测试板电路输出携带电压毛刺的电源电压信号;芯片测试板电路,用于根据所述电源电压信号和接收的测试输入数据,输出测试输出数据;数据采集与处理模块,用于采集所述测试输入数据、所述测试输出数据以及所述电源电压信号,并根据所述测试输入数据、所述测试输出数据以及所述电源电压信号,检测所述芯片测试板电路中芯片的安全性。该芯片安全测试电路可以实现以自动进行硬件注入故障的方式测试芯片的安全性,保证测试环境与真实环境基本一致,因此可以提升芯片安全测试的准确度。
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公开(公告)号:CN116346692A
公开(公告)日:2023-06-27
申请号:CN202310128622.1
申请日:2023-02-17
Applicant: 浙江大学 , 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种基于状态变量推断的物联网可信执行环境内核模糊测试方法和系统,属于物联网可信执行环境内核测试领域。方法包括:基于文档分析构建测试样例模板文件辅助模糊测试进行;基于硬件仿真器的模糊测试执行反馈信息收集;采用主动测试方法的物联网可信执行环境内核状态变量结构体成员推断;综合测试样例代码覆盖信息与系统状态信息对模糊测试种子进行评分,优选高分数种子进行模糊测试。本发明设计的基于状态变量推断的物联网可信执行环境内核模糊测试方法和系统能够对物联网可信执行环境内核进行高效率的测试。
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公开(公告)号:CN116338544A
公开(公告)日:2023-06-27
申请号:CN202211286803.9
申请日:2022-10-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R35/00
Abstract: 本申请涉及一种三维互连结构传输参数校准方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:获取参数测量装置测量得到的三维互连结构的待校准传输参数以及各校准结构的各测量参数;参数测量装置的各测试点分别通过延伸预设长度的传输线与三维互连结构以及各校准结构的各测试连接点进行连接;各校准结构包括直通校准结构、传输线校准结构以及反射校准结构;根据待校准传输参数与各测量参数,调用参数校准模型对待校准传输参数进行校准操作,得到校准后的目标传输参数,参数校准模型基于TRL去嵌校准算法预先生成。采用本方法能够有效降低了校准后的目标传输参数的误差,提高了目标传输参数的精准性。
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公开(公告)号:CN116305135A
公开(公告)日:2023-06-23
申请号:CN202211533570.8
申请日:2022-12-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F21/57
Abstract: 本发明的目的在于提供一种面向工业机器人的安全检测方法和系统,实现固件自动化提取、代码预处理、处理器识别、代码还原、结构分析、验证、文件扫描、数据预处理、交叉引用分析、协议帧重构、语义提取、格式化处理、机器人专用协议分析等任务。本发明能够实现对集成系统和机器人本体拆解,分析各部分安全脆弱性,构建漏洞理论模型,形成机器人特有的漏洞挖掘方法,研发针对工业机器人的漏洞挖掘工具集,监测系统安全威胁并分析态势和进行感知预测。
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公开(公告)号:CN116298639A
公开(公告)日:2023-06-23
申请号:CN202310375693.1
申请日:2023-04-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种电磁干扰注入装置、系统以及方法。该电磁干扰注入装置包括:电磁干扰注入探头,包括滤波组件、第一连接器、第二连接器和第三连接器,滤波组件的第一端与第一连接器连接,滤波组件的第二端分别与第二连接器、第三连接器连接,第一连接器用于与脉冲信号发生器连接,第二连接器用于与示波器连接,第三连接器用于与待测器件连接;处理组件,用于获取脉冲信号发生器的第一阻抗、脉冲信号发生器输出的初始脉冲信号的第一参数信息以及示波器接收的目标脉冲信号的第二参数信息,根据第一阻抗、第一参数信息和第二参数信息确定滤波组件的目标参数信息。因此,采用上述电磁干扰注入装置可以确定滤波组件的应采用参数信息。
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