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公开(公告)号：CN108732192A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810436690.3
申请日：2018-05-09
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/203 , G01N23/20 , G01N23/20025 , G01N23/20066 , G01N23/04
摘要： 本发明涉及安全检查技术领域，特别涉及一种安全检查系统。本发明所提供的安全检查系统，其包括背散射扫描装置和支撑装置，支撑装置形成允许被检物通过的检查通道，背散射扫描装置设置在支撑装置的上部并包括背散射射线源装置和背散射探测装置，且支撑装置调节背散射扫描装置的高度。在本发明中，安全检查系统的支撑装置可以调节安装在支撑装置上的背散射扫描装置的高度，由于便于在扫描过程中根据被检物的高度来调节背散射的飞点光斑投影大小和张角大小，因此，能够有效提升背散射图像的成像质量。
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公开(公告)号：CN109142404B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201811291946.2
申请日：2018-11-01
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC分类号： G01N23/203
摘要： 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
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公开(公告)号：CN117761790A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311774575.4
申请日：2023-12-21
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种定位透射检测设备的接收探测射线的探测器的系统和方法，该系统包括：射线位置检测显示部，被配置成检测和显示透射检测设备的射线源发射的射线束面的位置，射线束面在与射线源的射线发射方向相对的第一平面内的投影为直线；可见光发射部件，被配置成发射在第一平面内的投影为直线的可见光束面；调节装置，与可见光发射部件连接，并被配置成调节可见光发射部件的可见光发射方向或沿垂直于可见光束面的位置，以将可见光束面调整至射线位置检测显示部显示的射线束面的位置，以便于将可见光束面作为基准面布置或调整探测器，以使探测器可接收射线源发射的射线。
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公开(公告)号：CN117607175A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311810500.7
申请日：2023-12-26
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明公开一种辐射检查装置，包括：辐射源，用于发出射线对被检物进行辐射扫描检查；探测装置，包括在辐射检查工作时由承载物承载的第一探测器臂架和设于所述第一探测器臂架上的探测器，所述探测器用于接收所述辐射源发出的对被检物进行扫描后的射线，所述第一探测器臂架在辐射检查工作时柔性地承载于所述承载物的承载表面上。本发明的辐射检查装置能够更好地适应不平整承载表面。
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公开(公告)号：CN115855990A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202310112882.X
申请日：2023-02-15
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/203
摘要： 本发明提供了一种用于检测m层结构被检物的背散射检查装置，应用于探测技术领域，m层结构被检物至少包括外层结构体和内层结构体，m为大于等于2的整数，背散射检查装置包括射线发生器、n个探测器和屏蔽组件，射线发生器设于外层结构体的上方，被构造为向m层结构被检物发射入射射线；n个探测器设于外层结构体的上方，且位于入射射线的周向方向上，以接收入射射线射在内层结构体上散射的内层散射射线，n为大于等于1的整数；屏蔽组件被构造为至少部分包围探测器，以遮挡部分入射射线射至探测器，和遮挡入射射线射在外层结构体上散射的外层散射射线射至探测器。背散射检查装置具有防干扰能力强，可以实现精准检查的优点。
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公开(公告)号：CN108227027A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711466746.1
申请日：2017-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/203
摘要： 本发明公开了一种车载背散射检查系统。车载背散射检查系统包括车厢和背散射成像装置，背散射成像装置具有车载工作状态和地面工作状态，在车载工作状态，背散射成像装置在车厢内进行检查作业；在地面工作状态，背散射成像装置在车厢外的地面上进行检查作业；背散射成像装置相对于车厢可分离地设置且能够在车厢和地面之间移动以在车载工作状态和地面工作状态之间切换。本发明的车载背散射检查系统的背散射成像装置相对于车厢可分离地设置且能够在车厢和地面之间移动，在遇到车辆无法驶入的场所时，背散射成像装置可以从车厢移动至地面以切换至地面工作状态以进行检查作业，从而扩展了车载背散射检查系统的适用范围。
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公开(公告)号：CN108008458A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201711467939.9
申请日：2017-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/203
摘要： 本发明公开了一种车载背散射检查系统。车载背散射检查系统包括车厢和背散射成像装置，背散射成像装置的扫描范围可改变。本发明的背散射成像装置的扫描范围可改变地设置从而可以扩大背散射成像装置的检查范围。
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公开(公告)号：CN117784265A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311835696.5
申请日：2023-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
摘要： 本公开涉及一种辐射检查系统，用于对被检对象(101)进行扫描检查，辐射检查系统包括：第一光源(1)，包括沿高度方向(z)间隔设置的多个子光源(11)，多个子光源(11)被配置为独立发出射线束；透射探测器组件(2)，与第一光源(1)沿第一方向(x)相对间隔设置形成检查通道(3)，检查通道(3)用于供被检对象(101)通过且沿第二方向(y)延伸，透射探测器组件(2)被配置为接收第一光源(1)的透射光束；和准直器(4)，位于第一光源(1)和透射探测器组件(2)之间且靠近第一光源(1)所在侧，准直器(4)设有沿高度方向(z)设置的多个准直口(41)，多个准直口(41)被配置为限制多个子光源(11)发出光束的形状。
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公开(公告)号：CN117783165A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311837342.4
申请日：2023-12-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/203 , G01N23/20008 , G01V5/222 , G01V5/226
摘要： 本公开涉及一种辐射检查系统，具有转场状态和检查状态，且辐射检查系统包括：两个可移动载体(1)，每个可移动载体(1)上均设有射线源(2)；和承载装置(3)，其上设有透射探测组件(4)；其中，在转场状态下，承载装置(3)随可移动载体(1)移动；在检查状态下，承载装置(3)与可移动载体(1)脱离，且承载装置(3)沿第一方向(x)位于两个可移动载体(1)之间，以使承载装置(3)与两侧的可移动载体(1)之间均形成供被检对象(5)通过的检查通道(G)，检查通道(G)沿第二方向(y)延伸，第二方向(y)在水平面内垂直于第一方向(x)，透射探测组件(4)用于独立接收两侧射线源(2)发出的射线。
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公开(公告)号：CN113077391B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202010711447.5
申请日：2020-07-22
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提出一种校正扫描图像的方法和装置以及图像扫描系统，涉及图像扫描领域。该方法包括：获取被扫描对象的扫描图像；从所述扫描图像中检测一个或多个参照物；根据预设的参照物的标准参数，确定每个参照物的变形参数；根据所述一个或多个参照物的变形参数，对所述扫描图像进行校正。通过从扫描图像中检测参照物，根据参照物的变形参数，对扫描图像进行校正，以改善扫描图像变形的问题，提高检测效果。
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