模拟设备、模拟方法、以及存储程序的记录介质

    公开(公告)号:CN102224501A

    公开(公告)日:2011-10-19

    申请号:CN200980146550.1

    申请日:2009-09-17

    Inventor: 田能村昌宏

    CPC classification number: G06F17/5036

    Abstract: 本发明提供计算元件中的局部温度增加的器件模型、存储程序的记录介质、模拟电路、设备以及方法。根据本发明的器件模型用于半导体电路模拟并且具有至少两个模型参数。模型参数包括描述温度特性的电气模型和描述热特性并且与电气模型相对应的热模型。

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