剥镍组合物及其应用
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117660968A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202211142068.4

    申请日:2022-09-20

    发明人: 许景翔 胡家豪

    IPC分类号: C23F1/28 C22B7/00 C22B23/00

    摘要: 本发明提供一种剥镍组合物,其包含10至40重量百分比的亚硫酸钠、10至40重量百分比的硫酸氢钠、10至40重量百分比的硫代硫酸钠,以及10至40重量百分比的柠檬酸三钠。上述重量百分比是以剥镍组合物的总重量为基础。本发明还提供含上述剥镍组合物的镍金属剥除液,以及使用此镍金属剥除液回收镍金属的方法。本发明的剥镍组合物、镍金属剥除液能有效回收镍金属,并针对镍金属具有高度选择性。

    一种非碳钢金刚线二次利用的方法

    公开(公告)号:CN117646219A

    公开(公告)日:2024-03-05

    申请号:CN202311586502.2

    申请日:2023-11-24

    摘要: 本发明公开了一种非碳钢金刚线二次利用的方法,包括:回收非碳钢金刚旧线并对其复绕,排除非碳钢金刚旧线的母线损伤;对复绕完成的非碳钢金刚旧线退镀处理,得到丝材母线;检测丝材母线表面,让丝材母线表面的自身材料含量99%以上;对丝材母线二次电镀处理,得到金刚新线。本发明通过采用复绕工序排除母线损伤,采用化学退镀方法对非碳钢金刚旧线退镀处理得到丝材母线,将丝材母线二次电镀得到金刚新线,有效解决了非碳钢金刚线成本居高不下的问题,进而通过丝材母线的二次回收利用实现了非碳钢金刚线成本降低。

    一种镍铬合金蚀刻液及其在预制线路板中的应用

    公开(公告)号:CN117230450A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202311192096.1

    申请日:2023-09-15

    IPC分类号: C23F1/28 H05K3/06

    摘要: 本发明属于线路板蚀刻领域,具体公开一种镍铬合金蚀刻液及其在预制线路板中的应用,包含镍铬合金活化剂和镍铬合金蚀刻剂,所述镍铬合金活化剂,以镍铬合金活化剂总重量计,包括以下重量百分数组分:浓盐酸2%‑15%、阴离子表面活性剂0.1%‑1%、去离子水补齐余量;所述镍铬合金蚀刻剂,以镍铬合金蚀刻剂的总重量计,包括以下重量百分数组分:浓硝酸1%‑10%、浓硫酸1%‑5%、硝酸铈铵1%‑3%、铜缓蚀剂0.1%‑5%、非离子表面活性剂0.1%‑0.5%、离子水补齐余量。本发明提供的镍铬合金蚀刻液可以快速润湿精细线路,与镍铬合金层发生反应,蚀刻镍铬合金层速度快,抑制铜线蚀刻,而不产生侧蚀或微小侧蚀,对于含有镍铬合金层的精细线路线路板特别适用,且可适配连续蚀刻生产线使用。

    低碳压力容器用钢的原奥氏体晶界显示的腐蚀剂及其使用方法

    公开(公告)号:CN115044907B

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202210382394.6

    申请日:2022-04-13

    申请人: 东南大学

    发明人: 陈锋 许朝阳

    摘要: 本发明公开了一种低碳压力容器用钢的原奥氏体晶界显示的腐蚀剂,包括腐蚀溶液Ⅰ和腐蚀溶液Ⅱ,所述腐蚀溶液Ⅰ包括冰醋酸、草酸、氯化铁、十二烷基苯磺酸钠和水;所述腐蚀液Ⅱ为含硝酸的乙醇溶液;所述腐蚀剂的使用方法包括以下步骤:(1)将金相试样先奥氏体化,再水淬,最后磨抛;(2)将金相试样抛光面朝上浸入50~70℃的腐蚀液Ⅰ中,热腐蚀30~50秒,然后冲洗、干燥;(3)用腐蚀溶液Ⅱ轻轻擦拭金相试样的抛光面,直至表面呈银灰色,然后冲洗、干燥;(4)通过金相显微镜观察待检测样品的原奥氏体晶界的显示情况;该腐蚀剂不含有苦味酸,能清晰显示低碳压力容器用钢的原奥氏体晶界,操作简单、高效且具有较好的重现性。

    一种碳化硅芯片表层的去层的方法

    公开(公告)号:CN117080066A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202311323947.1

    申请日:2023-10-13

    发明人: 喻双柏 陈新 张婷

    摘要: 本申请提供了一种碳化硅芯片表层的去层的方法,包括步骤:通过乙醇胺溶液去除碳化硅芯片的钝化层;通过硝酸去除所述碳化硅芯片的铜箔层、银烧结层和镍钯金层;对所述碳化硅芯片进行电性测试;通过王水对所述碳化硅芯片的铝铜层进行去除,得到表层去层后的碳化硅芯片。通过分步去除碳化硅芯片的不同金属层,解决了一次去除所有层而导致存在大量脏污影响去除效率,在去除过程中不损伤碳化硅芯片本体;同时,在去除中间进行电性测试,可明确哪一金属层对芯片电性参数造成影响,不同的芯片去层程度可满足特定失效分析需求,如电性能测试或热点定位分析。

    一种提升二次腐蚀压纹版压纹效果的腐蚀处理工艺

    公开(公告)号:CN113832465B

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202111018144.6

    申请日:2021-09-01

    IPC分类号: C23F1/02 C23F1/28 B44C1/24

    摘要: 本发明公开了一种提升二次腐蚀压纹版压纹效果的腐蚀处理工艺,涉及印刷工艺技术领域,包括对金属材料版的腐蚀处理和后道加工处理,所述金属材料版的腐蚀处理包括:a)金属材料版进行浅腐蚀处理;b)涂上防腐蚀胶;c)进行深腐蚀处理;所述后道加工处理包括:d)配制处理液并涂刷在半成品压纹版表面;e)采用KH550对纳米三氧化二铝进行修饰;f)配制树脂混合物并涂刷在预处理压纹版表面。本发明中,通过在压纹版的表面形成复合膜层以及树脂层,利用复合膜层致密均一的结构,提高压纹版的棱角圆滑,减少对纸张结构的破坏,而树脂层优异的耐冲击性能使其可以对复合膜层起到保护作用,使得压纹版可以满足长期正常使用的效果。