半导体器件
    21.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111952276B

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202010086446.6

    申请日:2020-02-11

    Abstract: 本公开提供了一种半导体器件,所述半导体器件包括:具有第一表面和与所述第一表面相反的第二表面的半导体层;在第一表面上的有源图案,所述有源图案包括源极/漏极区域;电连接到所述源极/漏极区域的电力轨;以及在所述第二表面上的电力输送网络,所述电力输送网络电连接到所述电力轨。所述半导体层包括蚀刻停止掺杂剂,并且所述蚀刻停止掺杂剂在所述第二表面处具有最大浓度。

    包括硅通孔的集成电路半导体器件

    公开(公告)号:CN113451256A

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN202011555509.4

    申请日:2020-12-24

    Abstract: 公开了一种集成电路半导体器件,包括:衬底,包括第一表面和与第一表面相对的第二表面;沟槽,在衬底中,沟槽从衬底的第一表面朝向衬底的第二表面延伸;硅通孔(TSV)着陆部,在沟槽中,TSV着陆部具有与衬底的第一表面间隔开的第一部分,以及第一部分与衬底的第一表面之间的第二部分,第一部分比第二部分宽;TSV孔,在衬底中,TSV孔从衬底的第二表面延伸并且与TSV着陆部的底表面对齐;以及TSV,在TSV孔中并且与TSV着陆部的底表面接触。

    集成电路器件及其制造方法
    23.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111968969A

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN202010176255.9

    申请日:2020-03-13

    Abstract: 提供了一种集成电路器件及其制造方法。所述集成电路器件包括:嵌入绝缘层;半导体层,位于所述嵌入绝缘层上,所述半导体层具有主表面和从所述主表面突出以在第一水平方向上延伸且彼此平行的多个鳍型有源区;分隔绝缘层,将所述半导体层分隔成在与所述第一水平方向相交的第二水平方向上彼此相邻的至少两个元件区域;位于所述多个鳍型有源区上的源极/漏极区;第一导电插塞,位于所述源极/漏极区上并电连接到所述源极/漏极区;掩埋轨道,穿过所述分隔绝缘层和所述半导体层同时电连接到所述第一导电插塞;以及电力输送结构,布置在所述嵌入绝缘层中,所述电力输送结构与所述掩埋轨道接触并电连接到所述掩埋轨道。

    具有TSV结构的多重堆叠器件

    公开(公告)号:CN106992162B

    公开(公告)日:2019-12-13

    申请号:CN201710037091.X

    申请日:2017-01-18

    Abstract: 本公开提供一种具有TSV结构的多重堆叠器件。该多重堆叠器件包括:下部器件,具有下基板、在下基板上的第一绝缘层以及在第一绝缘层上的硅通孔(TSV)焊盘;中间器件,具有中间基板、在中间基板上的第二绝缘层以及在第二绝缘层上的第一TSV凸块;上部器件,具有上基板、在上基板上的第三绝缘层以及在第三绝缘层上的第二TSV凸块;以及TSV结构,穿过上基板、第三绝缘层、第二绝缘层以及中间基板以连接到第一TSV凸块、第二TSV凸块和TSV焊盘。在中间基板与TSV结构之间的绝缘的第一TSV间隔物和在上基板与TSV结构之间的绝缘的第二TSV间隔物沿堆叠方向间隔开。

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