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公开(公告)号:CN111952276B
公开(公告)日:2025-02-28
申请号:CN202010086446.6
申请日:2020-02-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/498 , H01L23/538 , H10D62/10 , H10D84/83
Abstract: 本公开提供了一种半导体器件,所述半导体器件包括:具有第一表面和与所述第一表面相反的第二表面的半导体层;在第一表面上的有源图案,所述有源图案包括源极/漏极区域;电连接到所述源极/漏极区域的电力轨;以及在所述第二表面上的电力输送网络,所述电力输送网络电连接到所述电力轨。所述半导体层包括蚀刻停止掺杂剂,并且所述蚀刻停止掺杂剂在所述第二表面处具有最大浓度。
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公开(公告)号:CN113451256A
公开(公告)日:2021-09-28
申请号:CN202011555509.4
申请日:2020-12-24
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/498 , H01L21/768
Abstract: 公开了一种集成电路半导体器件,包括:衬底,包括第一表面和与第一表面相对的第二表面;沟槽,在衬底中,沟槽从衬底的第一表面朝向衬底的第二表面延伸;硅通孔(TSV)着陆部,在沟槽中,TSV着陆部具有与衬底的第一表面间隔开的第一部分,以及第一部分与衬底的第一表面之间的第二部分,第一部分比第二部分宽;TSV孔,在衬底中,TSV孔从衬底的第二表面延伸并且与TSV着陆部的底表面对齐;以及TSV,在TSV孔中并且与TSV着陆部的底表面接触。
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公开(公告)号:CN111968969A
公开(公告)日:2020-11-20
申请号:CN202010176255.9
申请日:2020-03-13
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/02 , H01L27/088 , H01L23/48 , H01L23/535 , H01L21/762
Abstract: 提供了一种集成电路器件及其制造方法。所述集成电路器件包括:嵌入绝缘层;半导体层,位于所述嵌入绝缘层上,所述半导体层具有主表面和从所述主表面突出以在第一水平方向上延伸且彼此平行的多个鳍型有源区;分隔绝缘层,将所述半导体层分隔成在与所述第一水平方向相交的第二水平方向上彼此相邻的至少两个元件区域;位于所述多个鳍型有源区上的源极/漏极区;第一导电插塞,位于所述源极/漏极区上并电连接到所述源极/漏极区;掩埋轨道,穿过所述分隔绝缘层和所述半导体层同时电连接到所述第一导电插塞;以及电力输送结构,布置在所述嵌入绝缘层中,所述电力输送结构与所述掩埋轨道接触并电连接到所述掩埋轨道。
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公开(公告)号:CN106992162B
公开(公告)日:2019-12-13
申请号:CN201710037091.X
申请日:2017-01-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/48 , H01L25/065
Abstract: 本公开提供一种具有TSV结构的多重堆叠器件。该多重堆叠器件包括:下部器件,具有下基板、在下基板上的第一绝缘层以及在第一绝缘层上的硅通孔(TSV)焊盘;中间器件,具有中间基板、在中间基板上的第二绝缘层以及在第二绝缘层上的第一TSV凸块;上部器件,具有上基板、在上基板上的第三绝缘层以及在第三绝缘层上的第二TSV凸块;以及TSV结构,穿过上基板、第三绝缘层、第二绝缘层以及中间基板以连接到第一TSV凸块、第二TSV凸块和TSV焊盘。在中间基板与TSV结构之间的绝缘的第一TSV间隔物和在上基板与TSV结构之间的绝缘的第二TSV间隔物沿堆叠方向间隔开。
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公开(公告)号:CN103247600B
公开(公告)日:2018-06-05
申请号:CN201310042094.4
申请日:2013-02-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/528 , H01L21/768
CPC classification number: H01L23/481 , H01L21/76898 , H01L23/525 , H01L24/05 , H01L24/13 , H01L24/16 , H01L2224/02372 , H01L2224/0401 , H01L2224/05 , H01L2224/05024 , H01L2224/05027 , H01L2224/05568 , H01L2224/06181 , H01L2224/13111 , H01L2224/13139 , H01L2224/13147 , H01L2224/16145 , H01L2924/00014 , H01L2924/13091 , H01L2924/00 , H01L2224/05552
Abstract: 本发明提供了通孔连接结构、具有该结构的半导体器件及其制造方法。所述半导体器件包括:下层;在所述下层的第一侧上的绝缘层;在所述绝缘层中的互连结构;在所述下层中的通孔结构。该通孔结构突出至所述绝缘层和所述互连结构内。
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公开(公告)号:CN103258787B
公开(公告)日:2017-06-23
申请号:CN201310052685.X
申请日:2013-02-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/768
CPC classification number: H01L21/768 , H01L21/02271 , H01L21/6836 , H01L21/76898 , H01L23/3192 , H01L23/481 , H01L24/03 , H01L24/05 , H01L24/06 , H01L24/13 , H01L25/0657 , H01L2221/68372 , H01L2224/02372 , H01L2224/0401 , H01L2224/05009 , H01L2224/05027 , H01L2224/05548 , H01L2224/05567 , H01L2224/05568 , H01L2224/0557 , H01L2224/05571 , H01L2224/06181 , H01L2224/13006 , H01L2224/13009 , H01L2224/13022 , H01L2224/13023 , H01L2224/13025 , H01L2224/13076 , H01L2224/13082 , H01L2224/131 , H01L2224/14181 , H01L2224/16146 , H01L2224/16225 , H01L2224/16227 , H01L2225/06513 , H01L2225/06517 , H01L2225/06541 , H01L2225/06548 , H01L2225/06565 , H01L2924/00014 , H01L2924/181 , H01L2924/351 , H01L2924/00012 , H01L2924/014 , H01L2224/05552 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供了一种制造半导体装置的方法。在一个实施例中,所述方法包括在基层中形成导电孔结构。所述基层具有第一表面和第二表面,第二表面与第一表面相对。所述方法还包括:去除所述基层的第二表面,以暴露导电孔结构,从而导电孔结构从第二表面突出;在第二表面上方形成第一下绝缘层,使得导电孔结构的端部表面保持为被第一下绝缘层暴露。
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公开(公告)号:CN102141650A
公开(公告)日:2011-08-03
申请号:CN201010578730.1
申请日:2010-12-03
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G02B6/124 , G02B6/122 , G02B6/30 , G02B6/34 , G02B6/4214 , G02B2006/12104
Abstract: 本发明涉及光学器件及其制造方法。光波导和光耦合器件包括形成在体半导体衬底例如体硅衬底中的沟槽。底包层形成在沟槽中,芯区形成在底包层上。反射元件诸如分布式布拉格反射器能形成在耦合器件和/或波导器件下面。因为光学器件集成在体衬底中,所以根据硅光电子技术,光学器件能容易地在芯片或管芯上与其它器件集成。具体地,例如,光学器件能集成在DRAM存储器电路芯片管芯中。
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