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公开(公告)号：CN111653460A
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN202010477577.7
申请日：2020-05-29
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明提出了一种带内部负载的无线通讯断路器，包括：本体和驱动模块，本体与电能表串联在主回路上，驱动模块与本体连接，驱动模块与电能表无线连接，本体用于控制主回路的断开和导通，驱动模块内部设置有负载，通过启动驱动模块内部设置的负载，以产生一个位于主回路内的突变信号，当位于主回路内的电能表检测到突变信号后，则判断与驱动模块连接的本体与电能表位于同一主回路内，电能表与驱动模块进行自动配对连接。本发明不仅能够通过上述无线通讯断路器实现初次上电的电能表和断路器的自动配对连接，并且上述无线通讯断路器安装时只需要接好主回路电气连接，不需要带电安装，后续上电时也不需要再去进行蓝牙配对，有较好的安全性和经济性。
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公开(公告)号：CN111381206A
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201911205757.3
申请日：2019-11-29
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网福建省电力有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种计量箱电能异常确定方法及系统，属于电力计量技术领域。本发明方法，包括：获取计量箱物理特征量，确定计量箱物理特征量是否符合预设条件；采集计量箱当日及当日前连续多日日用电量：确定当日用电量相对预估值变化量，当变化量超出预设值A时，确定当日用电量是否异常；当确定当日用电量异常后，获取当日预设时间范围的计量箱的平均功率及当日前连续多日预设时间范围的平均功率的变化量，若超出预设值B时，确定计量箱电能异常并预警。本发明通过监测计量箱磁场强度、箱内温湿度、柜门位置和电压电流，依靠就地电量、电功率数据，实现计量箱窃漏电的就地自判定和预警，提高窃漏电判断的自动化水平和预警的及时性。
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公开(公告)号：CN109522517A
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201811184028.X
申请日：2018-10-11
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种电表失效率计算方法和系统。所述方法包括：根据威布尔分布模型，建立每个子体的概率密度函数；根据预设的混合权数和所述每个子体的概率密度函数，计算总体的概率密度函数；根据所述总体的概率密度函数，计算总体的可靠度；根据所述总体的可靠度和总体的概率密度函数，计算总体的失效率函数。采用本方法能够结合多种应力来计算电表失效率。
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公开(公告)号：CN109190749A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201810662231.7
申请日：2018-06-25
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网重庆市电力公司电力科学研究院
CPC classification number: G06N3/0481 , G06N3/084 , G07F15/06
Abstract: 本发明公开了一种用于预测智能电表使用寿命的方法，包括：获取多个影响因素与智能电表使用寿命的统计数据，将多个影响因素作为输入参数，智能电表使用寿命作为输出参数，建立基于BP神经网络的智能电表使用寿命的预测模型，将所述统计数据作为所述预测模型的训练数据，根据所述输出参数，确定所述输入参数所占的比重，以对预测模型进行修正，根据接收到的影响因素数据并通过所述经过修正的预测模型，获取在所述影响因素条件下智能电表的使用寿命。解决了根据智能电表的使用环境下得出智能电表使用寿命的问题。
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公开(公告)号：CN118586456A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410721856.1
申请日：2024-06-05
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网北京市电力公司
IPC: G06N3/0475 , G06N3/0895 , G06Q10/063 , G06Q50/06
Abstract: 本发明公开了一种半监督窃电检测方法，并公开了具有半监督窃电检测方法的系统、终端及存储介质，其中半监督窃电检测方法提出一种半监督窃电检测方法，能够其基于联合训练生成对抗网络的半监督窃电检测模型，能够解决现有技术对电网公司面临获取有标签的数据成本高、难度大，而实际采集到的数据包含大量未标记的数据难以训练有效窃电检测模型的问题，有效标记出疑似窃电的目标，降低了运营成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118379046A
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410575199.4
申请日：2024-05-10
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网河北省电力有限公司营销服务中心 , 国家电网有限公司
IPC: G06Q10/20 , G06Q10/0635 , G06Q10/0639 , G06Q50/06 , G06F17/16 , G06N7/02
Abstract: 本发明公开了一种低压用户用电故障维护决策的确定方法及装置。其中，方法包括：构建用户用电安全指标评价体系，其中评价体系分为目标层、状态层以及指标层；采用熵权法和层次分析法确定评价体系中所有指标的指标权重；根据评价体系中所有指标的指标权重，确定每个二级指标的重要度；获取当前故障指标集，并获取预定历史时间段内的历史故障信息；根据当前故障指标集中各二级指标的重要度以及对应的历史故障信息中各二级指标的故障次数，确定当前故障指标集中每个二级指标的风险程度得分；对当前故障指标集中个二级指标的风险程度得分进行降序排序，并按照排序后的二级指标确定低压用户用电的故障维护决策。
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公开(公告)号：CN116258606A
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202211366008.0
申请日：2022-10-31
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网河北省电力有限公司营销服务中心 , 国家电网有限公司
IPC: G06Q50/06 , G06N3/0464 , G06N3/098
Abstract: 本发明公开了一种基于联邦学习算法的低压用户用电安全预警方法及装置。其中，方法包括：采集用户的实时用电数据；利用预先训练的基于联邦学习算法的用电安全检测模型对实时用电数据进行分布式低电压用电安全处理，输出用电安全隐患数据；将用电安全隐患数据以及历史隐患数据特征向量进行比对以及马氏距离计算，确定预警值，其中预警值用于对低压用户的用电安全进行预警。
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公开(公告)号：CN111653460B
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202010477577.7
申请日：2020-05-29
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明提出了一种带内部负载的无线通讯断路器，包括：本体和驱动模块，本体与电能表串联在主回路上，驱动模块与本体连接，驱动模块与电能表无线连接，本体用于控制主回路的断开和导通，驱动模块内部设置有负载，通过启动驱动模块内部设置的负载，以产生一个位于主回路内的突变信号，当位于主回路内的电能表检测到突变信号后，则判断与驱动模块连接的本体与电能表位于同一主回路内，电能表与驱动模块进行自动配对连接。本发明不仅能够通过上述无线通讯断路器实现初次上电的电能表和断路器的自动配对连接，并且上述无线通讯断路器安装时只需要接好主回路电气连接，不需要带电安装，后续上电时也不需要再去进行蓝牙配对，有较好的安全性和经济性。
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公开(公告)号：CN113721123A
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN202110184191.1
申请日：2021-02-08
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网山东省电力公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种用于对电源芯片进行静电放电测试的方法及系统，将环境温度设置成25℃，湿度设置成55％RH，所有引脚对地打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑)，所有的引脚对Vcc打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑)，所有I/O引脚对I/O引脚打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑)，其中每个步骤执行3次打压，时间间隔为1分钟；3次打压结束后，通过判断电源芯片IV曲线变化是否超过1μA+/‑30％以及电性测试来判断电源芯片是否符合设计标准；本发明的静电放电测试方法可以节约测试时间，提升电源芯片静电放电电压测试的准确率。
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公开(公告)号：CN112735505A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011609332.1
申请日：2020-12-30
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法，包括：包括：上位机，通过数字通道与测试平台系统相连接，用于根据测试需求产生与所述测试需求对应的波形激励样式和波形激励样式的调用顺序命令；用于获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态；测试平台系统，与被测存储器芯片相连接，用于根据所述波形激励样式的调用顺序命令和波形激励样式产生激励波形以驱动所述被测存储器芯片。本发明能够提供多个通道，通过更换测量夹具设计不同的测试子板，实现多种存储器芯片的测试。
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