叉臂托举式牵引车
    31.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108100058B

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN201711443720.5

    申请日:2017-12-27

    IPC分类号: B62D49/00 B60S13/00 B60S5/00

    摘要: 本发明提出一种叉臂托举式牵引车。本发明的叉臂托举式牵引车包括车体、托板、升降装置、前叉臂组件、后叉臂组件、前叉臂驱动组件和后叉臂驱动组件。车体活动地设于一通道。托板设于车体上方。升降装置能驱动托板升/降。前叉臂组件包括设于托板且能水平转动的两个前叉臂。后前叉臂组件包括设于托板且能水平转动的两个后叉臂,两个前叉臂和两个后叉臂均分居通道的中心线两侧且均能从托板两侧伸出或缩回。前叉臂驱动组件包括设于托板的前传动件和前动力装置,前动力装置能驱动前传动件水平直线移动,使两个前叉臂转动。后叉臂驱动组件包括设于托板的后传动件和后动力装置,后动力装置能驱动后传动件水平直线移动,使两个后叉臂转动。

    辐射检查系统和辐射检查方法
    32.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108398444A

    公开(公告)日:2018-08-14

    申请号:CN201810437641.1

    申请日:2018-05-09

    IPC分类号: G01N23/04

    摘要: 本发明公开了一种辐射检查系统和应用该辐射检查系统的辐射检查方法。该辐射检查系统具有标准检查模式和快速检查模式,包括固定检查设备,包括垂直视角检查装置,垂直视角检查装置在标准检查模式输出第一辐射扫描射线,在快速检查模式输出第二辐射扫描射线;和移动检查设备,相对于固定检查设备可移动,包括水平视角检查装置,水平视角检查装置在标准检查模式随移动检查设备沿被检车辆的长度方向移动并输出第三辐射扫描射线,在快速检查模式固定并输出第四辐射扫描射线;其中第三辐射扫描射线的输出能量和/或剂量高于第四辐射扫描射线。本发明可以兼顾对不同车辆进行辐射检查的穿透能力以及车辆的通过率要求。

    CT检查系统和CT成像方法
    33.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108226195A

    公开(公告)日:2018-06-29

    申请号:CN201711451934.7

    申请日:2017-12-28

    IPC分类号: G01N23/04

    摘要: 本发明涉及CT检测技术领域,特别涉及一种CT检查系统和CT成像方法。本发明所提供的CT检查系统,包括扫描装置和成像装置,其中:扫描装置具有放射源装置和探测装置并在对待检物进行扫描的至少部分过程中进行非匀速转动;成像装置基于有效探测数据生成CT图像,有效探测数据为探测装置在每转动预设角度时的数据。在本发明中,CT检查系统的成像装置基于探测装置在每转动预设角度时的数据生成CT图像,相对于传统的图像采集方案,可以有效减少图像形变,提高检测结果的准确性。

    集装箱CT检查系统
    37.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105784737A

    公开(公告)日:2016-07-20

    申请号:CN201610186955.X

    申请日:2016-03-29

    IPC分类号: G01N23/04

    摘要: 本发明公开了一种集装箱CT检查系统,包括扫描装置,所述扫描装置包括放射源装置和探测器阵列,所述扫描装置还包括内外双层设置的第一轨道和第二轨道,其中,所述放射源装置设置于所述第一轨道上,所述探测器阵列设置于所述第二轨道上。本发明实现了放射源装置和探测器阵列分别由不同的轨道支撑,改善圆环形旋转架需要承载的负荷很大的现状,对于第一轨道和第二轨道中每个轨道来说,强度要求相对于圆环形旋转架都大大降低,因此与现有技术的集装箱CT检查系统相比有效地降低了加工难度。

    一种半导体探测器

    公开(公告)号:CN105676264A

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201610187826.2

    申请日:2013-04-26

    IPC分类号: G01T1/36

    CPC分类号: G01T1/366

    摘要: 本发明提供一种半导体探测器,该半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极;所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面;所述阴极、所述阳极和所述阶梯电极都为沉积于所述半导体晶体表面的导电薄膜;所述阴极设于所述半导体晶体的所述底面上,所述阳极设于所述半导体晶体的所述顶面上,所述阶梯电极设于所述半导体晶体的至少一个侧面上;所述阶梯电极包括多个子电极。与现有技术相比,所述半导体探测器能够提高能量分辨率。