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公开(公告)号：CN109831290B
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN201910069790.1
申请日：2019-01-24
申请人： 上海交通大学 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： H04L9/00
摘要： 一种针对基于CAVE算法认证协议的侧信道分析方法，通过采集cdmaOne的认证协议在移动设备上运行时产生的包含CAVE算法执行信息的功耗曲线，从功耗曲线中解析出CAVE算法执行参数，从而恢复出cdmaOne的认证协议所使用的密钥。本发明利用简单功耗分析和相关性功耗分析作为基础攻击工具，根据CAVE算法结构，构造综合攻击方法，通过该方法恢复cdmaOne认证协议中使用的密钥A‑key。本方法适用于任何使用基于CAVE算法认证协议的密码系统。
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公开(公告)号：CN112834890A
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN202011598468.7
申请日：2020-12-29
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京大学
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明提供一种检测PMOS器件NBTI退化的电路，包括：第一D触发器、第二D触发器以及包含多个被测PMOS器件的反相器链，反相器链中的每个反相器包括至少一个被测PMOS器件；反相器链的输出端与第一D触发器的时钟输入端相连接；除反相器链的输出端以外的任一反相器的输出端与第二D触发器的时钟输入端相连接；第一D触发器的Q信号输出端和第二D触发器的Q信号输出端通过至少一个异或门与反相器链的输入端相连接。本发明提供的电路是将占空比的测量转化为环形振荡器振荡周期的测量电路，通过得到的环形振荡周期可以直接计算得到反相器链的占空比的方法，从而能直观评估PMOS器件的NBTI退化效应，检测的时效性高且方便快捷。
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公开(公告)号：CN112231695B
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202011484779.0
申请日：2020-12-16
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 武汉大学 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G06F21/52
摘要： 本发明涉及信息安全技术领域，提供一种基于分支预测机制的攻击方法及系统、存储介质。所述方法包括：基于分支预测机制构建针对目标程序的分支预测信息矩阵；对符合所述目标程序的输入数据规则的明文数据进行选择；将选择后的明文数据作为所述目标程序的输入数据或部分输入数据，采集所述目标程序运行的时间样本数据；根据所述分支预测信息矩阵确定与所述时间样本数据相对应的秘密信息。本发明在攻击过程中利用了目标程序运行的整体时间数据，对采集时间点位要求低，能够对泄露信息（秘密信息）进行整体刻画，减少对目标程序的控制要求，并且通过统计分析的方式进行攻击，对泄露的刻画更精确，提升时间攻击检测的精准性。
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公开(公告)号：CN112000584B
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202011160052.7
申请日：2020-10-27
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明涉及程序调试技术领域，提供一种基于IDE调试框架的用于CPU程序的调试方法、调试系统以及存储介质。所述调试方法包括：根据CPU程序的调试状态创建与所述调试状态相对应的启动程序；判断所述启动程序的类型，根据所述启动程序的类型确定是否创建调试程序。本发明基于IDE调试框架改进用于CPU程序的调试方法，对调试的启动程序进行分类，根据启动程序的类型确定是否创建调试程序。在CPU程序处于调试状态时，在用户错误操作或多次点击Debug按钮情况下能够对已创建的调试程序进行保护，使IDE开发环境容错性更好，保证IDE开发环境处于健康状态，大大提升研发效率。
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公开(公告)号：CN109444547B
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN201811400959.9
申请日：2018-11-22
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G01R27/02
摘要： 本发明公开了一种基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置，RFID芯片阻抗测量方法包括如下步骤：制作二端口微带线电路板，其中，二端口微带线电路板包括直通微带线电路板以及与直通微带线电路板等长度的带被测物的微带线电路板；校准矢量网络分析仪；测试直通微带线电路板的S参数；测试带被测物的微带线电路板的S参数；基于直通微带线电路板的S参数得到针对直通微带线电路板的第一传输矩阵；基于带被测物的微带线电路板的S参数得到针对带被测物的微带线电路板的第二传输矩阵；基于第一传输矩阵以及第二传输矩阵，计算T矩阵；以及基于T矩阵，计算RFID芯片阻抗。本发明的RFID芯片阻抗测量方法的测量结果更精准，且算法相对简单。
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公开(公告)号：CN112000584A
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN202011160052.7
申请日：2020-10-27
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明涉及程序调试技术领域，提供一种基于IDE调试框架的用于CPU程序的调试方法、调试系统以及存储介质。所述调试方法包括：根据CPU程序的调试状态创建与所述调试状态相对应的启动程序；判断所述启动程序的类型，根据所述启动程序的类型确定是否创建调试程序。本发明基于IDE调试框架改进用于CPU程序的调试方法，对调试的启动程序进行分类，根据启动程序的类型确定是否创建调试程序。在CPU程序处于调试状态时，在用户错误操作或多次点击Debug按钮情况下能够对已创建的调试程序进行保护，使IDE开发环境容错性更好，保证IDE开发环境处于健康状态，大大提升研发效率。
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公开(公告)号：CN108959980B
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN201810826635.5
申请日：2018-07-25
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
IPC分类号： G06F21/75
摘要： 本发明公开了一种安全芯片的公钥防护方法及公钥防护系统。该公钥防护方法包括以下内容：在公钥运算启动前，计算并存储所述安全芯片的配置寄存器中的所有初值的校验值；在公钥运算启动后，实时对所述安全芯片的配置寄存器中的值进行校验，若校验失败，则终止运算并报错。所述安全芯片的公钥防护方法，能够在不增加公钥算法的运算时间的前提下，实时对公钥算法模块的整个流程进行故障攻击的检测。
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公开(公告)号：CN111355225A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN202010244294.8
申请日：2020-03-31
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
摘要： 本发明提供一种电源钳位电路，属于集成电路芯片静电释放保护技术领域。所述电源钳位电路包括检测模块、启动模块以及泄放模块，还包括：反馈模块；所述检测模块包括电阻以及电容；所述反馈模块串联于所述电阻与所述电容之间；所述反馈模块包括第一二极管以及第二PMOS晶体管；所述第二PMOS晶体管的源极与所述电阻的第一端以及所述第一二极管的正极相连，所述第二PMOS晶体管的漏极与所述第一二极管的负极相连，所述第二PMOS晶体管的栅极与所述启动模块以及所述泄放模块相连。本发明通过增加反馈模块，在电源钳位电路导通时增加检测模块的阻抗，增大RC时间常数，延长泄放模块的导通时间，将静电荷彻底释放；在电源钳位电路不导通时，降低漏电流。
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公开(公告)号：CN110636030A
公开(公告)日：2019-12-31
申请号：CN201810645786.0
申请日：2018-06-21
申请人： 全球能源互联网研究院有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司 , 国网冀北电力有限公司 , 国家电网有限公司
IPC分类号： H04L29/06
摘要： 本发明提供了一种电力移动终端的层次化安全管控方法及系统，所述方法包括：判断电力移动终端接收的安全策略是否符合完整性要求，同时判断所述安全策略是否与已执行的安全策略存在冲突，最后根据所述安全策略与所述已执行的安全策略的优先级选择需要执行的安全策略并监测反馈策略的执行状态；在下发所述安全策略之前，还包括通过定义策略的类型，违规响应动作和优先级生成所述安全策略。本发明可以应用于目前营销、运检等不同专业的电力移动作业终端中，确保终端依据制定的安全管控策略工作合规，实时阻断各类异常，解决电力移动作业终端面临的集中安全管理难题，确保电力移动作业终端安全稳定运行。
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公开(公告)号：CN110504185A
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201910798587.8
申请日：2019-08-27
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： H01L21/66
摘要： 本发明公开了一种ESD保护单元的测试及加固方法，ESD保护单元设置在待测试芯片中，包括：对待测试芯片施加ESD放电应力；对待测试芯片的管脚进行监测，根据监测结果判断是否为ESD失效；若判断结果为ESD失效，则对待测试芯片进行开封，通过结构分析确定待测试芯片的ESD保护单元中的失效点；对ESD保护单元中的失效点进行加固仿真测试；在测试结果满足要求时，对待测试芯片进行加固；对加固后的芯片重新施加ESD放电应力，并进行监测，直至结果判断为ESD有效为止。本实施例提供的ESD保护单元的测试及加固方法，通过EDA软件对ESD保护单元进行仿真测试，保证芯片通过ESD设计要求并在正常工作状态下具备较高的鲁棒性。
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