一种保证碳化硅生长温场稳定性的保温筒

    公开(公告)号:CN219547154U

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN202223594430.X

    申请日:2022-12-30

    IPC分类号: C30B29/36 C30B35/00

    摘要: 本实用新型公开了一种保证碳化硅生长温场稳定性的保温筒,包括:筒体和筒盖;所述筒体包括:第一导热环、发热筒和卷筒固态石墨毡;所述第一石墨环设置于所述发热筒的顶部,所述卷筒固态石墨毡包裹所述小导热环和所述发热筒;所述筒盖扣合于所述第一石墨环和所述卷筒固态石墨毡的顶部。本方案对原保温筒结构进行改进,以降低固态石墨毡及发热筒的损耗,延长使用次数,降低材料成本。将原来放在发热筒上的环毡用同样厚度的第一导热环代替,原上层φ360/0实心毡分成实心毡、第二导热环、环毡三部分,利用石墨环导热效率高的特点,抑制碳化硅在固态石墨毡上结晶,保护发热筒上部固态石墨毡。

    打磨设备
    67.
    实用新型

    公开(公告)号:CN214980279U

    公开(公告)日:2021-12-03

    申请号:CN202023173344.2

    申请日:2020-12-24

    IPC分类号: B24B53/017 B24B37/07

    摘要: 本实用新型公开了一种打磨设备,所述打磨设备包括:第一转动设备,所述第一转动设备用于安装砂轮,且能够带动所述砂轮转动,或所述第一转动设备用于支撑载体盘,且能够带动所述支撑载体盘转动;所述支撑载体盘用于安装碳化硅晶片;第二转动设备,所述第二转动设备用于放置打磨盘,能够带动所述打磨盘沿其圆心轴线转动。应用本实用新型提供的技术方案,通过在打磨盘表面增加非规律性几何纹理,使碳化硅晶片表面在机械研磨或抛光时,在碳化硅晶片表面达到均匀研磨,减弱特定位置出现的特定浅而宽的沟槽,提升碳化硅晶片表面品质,提高产成率。

    一种碳化硅晶片清洗卡塞装置

    公开(公告)号:CN219597490U

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202223590920.2

    申请日:2022-12-30

    IPC分类号: B08B3/04 B08B13/00

    摘要: 本实用新型公开了一种碳化硅晶片清洗卡塞装置,包括:清洗卡塞底座、卡塞支撑横梁、卡塞前连接件和卡塞后连接件;所述卡塞支撑横梁用于支撑晶片,所述清洗卡塞底座和若干根所述卡塞支撑横梁分别连接于所述卡塞前连接件和卡塞后连接件之间,所述清洗卡塞底座位于所述所述卡塞支撑横梁的下方。本方案减少晶片与卡塞的接触面积,将晶片更多的暴露在槽体中,清洗更充分,降低药液的残留率,横梁处改进可使干燥过程避免沟槽处水珠残留,减少水痕缺陷产生;该工装改进不仅可节省原材料,通过减少晶片与卡塞接触面积,大大提高了晶片清洗良率。

    一种用于晶片打磨设备的加工垫组件

    公开(公告)号:CN217914427U

    公开(公告)日:2022-11-29

    申请号:CN202221807864.0

    申请日:2022-07-13

    摘要: 本申请技术方案公开了一种用于晶片打磨设备的加工垫组件,所述加工垫组件包括第一加工垫、第二加工垫以及离型粘结层,第一加工垫和第二加工垫通过离型粘结层粘结固定,其中,对晶片进行打磨时,第一加工垫用于与上打磨盘粘结固定,第二加工垫用于与下打磨盘粘结固定,去除离型粘结层后,将晶片置于第一加工垫和第二加工垫之间进行打磨,在第一加工垫和上打磨盘粘结固定时以及第二加工垫和下打磨盘粘结固定时均采用正面下压式的粘贴方法,通过使用这种加工垫可以极大的降低加工垫在粘贴过程中的气泡和褶皱的发生率,从而可有效降低晶片表面损伤,降低晶片双面加工破损率,提高双面加工良率。