-
公开(公告)号：CN100336063C
公开(公告)日：2007-09-05
申请号：CN00817357.5
申请日：2000-11-17
申请人： PDF全解公司
发明人： 布赖恩·E.·斯泰恩 , 约翰·基巴里安 , 基蒙·米歇尔斯 , 乔·戴维斯 , P·K.·摩祖姆德 , 谢丽·李 , 克里斯托弗·赫斯 , 拉格·威兰德 , 丹尼斯·J.·西普里卡斯 , 大卫·M.·斯塔绍尔
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/5081 , G05B15/02 , H01L22/20 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 一种用于预测集成电路产量的系统和方法包括至少一种类型的特征化载体，它包括用于表示包括于集成电路最后产品中的至少一种类型特征的至少一个特征。该特征化载体经受至少一个组成将要用于制造集成电路产品制造周期的操作过程以便产生一个产量模型。该产量模型包含一个由该特征化载体所定义的布局，并且优选地包括有助于采集电气测试数据和以操作速度测试原型段的各特征。一个提取引擎从一个建议的产品布局中提取预定布局属性。该提取引擎在产量模型上操作而产生作为布局属性的函数的产量预测，并且被分解为制造过程中的各层或各步骤。这些产量预测然后被用于确定制造过程中哪些区域最需要改进。
-
公开(公告)号：CN1839389A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN03827080.3
申请日：2003-09-16
申请人： PDF全解公司
发明人： 卡尔罗·瓜尔迪亚尼 , 尼可拉·达拉格恩 , 约翰·卡巴里安 , 恩里科·马拉维斯 , 拉蒂博尔·拉多杰西科 , 安杰伊·斯特罗伊瓦斯
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/5045 , G06F2217/12 , Y02P90/265
摘要： 分析库设计元件(102)的可制造性，将用于设计使用特定制造工艺制造的IC芯片。获得来自库的库设计元件。对于特定制造工艺确定库设计元件的可制造性属性(104)，其中，可制造性属性包括成品率相关属性。然后，对于库设计元件生成具有可制造性属性的库视图(106)，由电子设计自动化(EDA)工具使用。
-
公开(公告)号：CN1723544A
公开(公告)日：2006-01-18
申请号：CN200380105680.3
申请日：2003-12-11
申请人： PDF全解公司
CPC分类号： H01L22/20 , G01R31/2884 , G01R31/2894 , G01R31/307 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , H01L2924/3011 , H01L2924/00
摘要： 快速定位集成电路电气测量的缺陷包括提供信息以用于制造有为并行电气测试而配置的测试结构的测试芯片。采用并行电气测试器来电气测试所述测试芯片上的测试结构。分析电气测试的结果以定位在测试芯片中的缺陷。
-
公开(公告)号：CN1535436A
公开(公告)日：2004-10-06
申请号：CN00817357.5
申请日：2000-11-17
申请人： PDF全解公司
发明人： 布赖恩·E.·斯泰恩 , 约翰·基巴里安 , 基蒙·米歇尔斯 , 乔·戴维斯 , P·K.·摩祖姆德 , 谢丽·李 , 克里斯托弗·赫斯 , 拉格·威兰德 , 丹尼斯·J.·西普里卡斯 , 大卫·M.·斯塔绍尔
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/5081 , G05B15/02 , H01L22/20 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 一种用于预测集成电路产量的系统和方法包括至少一种类型的特征化载体，它包括用于表示包括于集成电路最后产品中的至少一种类型特征的至少一个特征。该特征化载体经受至少一个组成将要用于制造集成电路产品制造周期的操作过程以便产生一个产量模型。该产量模型包含一个由该特征化载体所定义的布局，并且优选地包括有助于采集电气测试数据和以操作速度测试原型段的各特征。一个提取引擎从一个建议的产品布局中提取预定布局属性。该提取引擎在产量模型上操作而产生作为布局属性的函数的产量预测，并且被分解为制造过程中的各层或各步骤。这些产量预测然后被用于确定制造过程中哪些区域最需要改进。
-
公开(公告)号：CN101268541A
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN200580051313.9
申请日：2005-06-16
申请人： PDF全解公司
CPC分类号： G11C29/025 , G01R31/2884 , G11C17/14 , G11C29/006 , G11C29/24 , G11C2029/0403 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 一种用于定位缺陷的测试单元(100)，包括第一有源区(110)、基本上平行于第一有源区的第二有源区(120)、基本上平行于第一和第二有源区的第三有源区(130)、在第一和第二有源区之间形成的第四有源区(115)，以及在第二和第三有源区之间形成的第五有源区(125)。第四和第五有源区是在第二有源区的相对的端部分的附近形成的。第四和第五有源区还基本上垂直于第二有源区。
-
公开(公告)号：CN100474311C
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN03827080.3
申请日：2003-09-16
申请人： PDF全解公司
发明人： 卡尔罗·瓜尔迪亚尼 , 尼可拉·达拉格恩 , 约翰·卡巴里安 , 恩里科·马拉维斯 , 拉蒂博尔·拉多杰西科 , 安杰伊·斯特罗伊瓦斯
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/5045 , G06F2217/12 , Y02P90/265
摘要： 分析库设计元件(102)的可制造性，将用于设计使用特定制造工艺制造的IC芯片。获得来自库的库设计元件。对于特定制造工艺确定库设计元件的可制造性属性(104)，其中，可制造性属性包括成品率相关属性。然后，对于库设计元件生成具有可制造性属性的库视图(106)，由电子设计自动化(EDA)工具使用。
-
公开(公告)号：CN1976022A
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN200610172887.8
申请日：2006-10-08
申请人： PDF全解公司
IPC分类号： H01L23/544 , H01L21/00
CPC分类号： H01L22/34 , G01R31/2884 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 用于晶片测试的形成在半导体晶片上的被测装置的布局包括被测装置的第一阵列和形成在第一阵列附近的第一焊盘装置。第一焊盘装置包括栅极驱动焊盘、源极焊盘和漏极焊盘。第一阵列中的每个被测装置连接到第一焊盘装置中的栅极焊盘。第一阵列中的每个被测装置连接到第一焊盘装置中的源极焊盘。第一阵列中的每个被测装置连接到第一焊盘装置中的漏极焊盘。
-
公开(公告)号：CN1975741A
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN200610094131.6
申请日：2000-11-17
申请人： PDF全解公司
发明人： 布赖恩·E.·斯泰恩 , 约翰·基巴里安 , 基蒙·米歇尔斯 , 乔·戴维斯 , P.K.·摩祖姆德 , 谢丽·李 , 克里斯托弗·赫斯 , 拉格·威兰德 , 丹尼斯·J.·西普里卡斯 , 大卫·M.·斯塔绍尔
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F17/5081 , G05B15/02 , H01L22/20 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 一种用于预测集成电路产量的系统和方法包括至少一种类型的特征化载体，它包括用于表示包括于集成电路最后产品中的至少一种类型特征的至少一个特征。该特征化载体经受至少一个组成将要用于制造集成电路产品制造周期的操作过程以便产生一个产量模型。该产量模型包含一个由该特征化载体所定义的布局，并且优选地包括有助于采集电气测试数据和以操作速度测试原型段的各特征。一个提取引擎从一个建议的产品布局中提取预定布局属性。该提取引擎在产量模型上操作而产生作为布局属性的函数的产量预测，并且被分解为制造过程中的各层或各步骤。这些产量预测然后被用于确定制造过程中哪些区域最需要改进。
-
公开(公告)号：CN1762053A
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN200480006836.7
申请日：2004-03-12
申请人： PDF全解公司
发明人： 埃坦·卡杜里
IPC分类号： H01L23/544
CPC分类号： H01L27/0207 , H01L21/78 , H01L23/544 , H01L2223/54453 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 一种具有形成于晶片上的多个单元片的半导体晶片。该多个单元片具有非矩形的形状，有至少一个切口隅角。在多个单元片之间限定了多条切锯通道。在多条切锯通道中两个的交叉点上，两个相邻单元片的隅角之间限定的距离大于该两个相邻单元片之间的最小距离。
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
9 条记录 (耗时 0.018 秒)
