半导体装置
    2.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115810653A

    公开(公告)日:2023-03-17

    申请号:CN202211087396.9

    申请日:2022-09-07

    Abstract: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:第一有源图案,在第一方向上延伸;第二有源图案,在第一方向上延伸,第一有源图案设置在第二有源图案与基底之间;栅极结构,在第二方向上延伸,第一有源图案和第二有源图案穿过栅极结构,并且第二方向与第一方向交叉;第一源/漏区,与第一有源图案连接并且设置在栅极结构的侧面上;第二源/漏区,与第二有源图案连接并且设置在第一源/漏区上;第一绝缘结构,设置在基底与第一源/漏区之间,第一绝缘结构不设置在基底与栅极结构之间;以及第二绝缘结构,设置在第一源/漏区与第二源/漏区之间。

    半导体装置
    4.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115706154A

    公开(公告)日:2023-02-17

    申请号:CN202210484588.7

    申请日:2022-05-06

    Abstract: 公开了半导体装置。所述半导体装置包括:有源图案,在基底上沿第一方向延伸;第一下部源极/漏极图案和第二下部源极/漏极图案,设置在有源图案上并且在第一方向上彼此间隔开;第一上部源极/漏极图案,设置在第一下部源极/漏极图案上;第二上部源极/漏极图案,设置在第二下部源极/漏极图案上;以及栅电极,与有源图案交叉,并且在与第一方向交叉的第二方向上延伸。栅电极包括在第三方向上与有源图案重叠的重叠部分,第三方向垂直于第一方向和第二方向。所述重叠部分在第二方向上的长度小于第一下部源极/漏极图案在第二方向上的长度。

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