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公开(公告)号:CN108257893A
公开(公告)日:2018-07-06
申请号:CN201711470648.5
申请日:2017-12-29
IPC: H01L21/67
CPC classification number: H01L21/02101 , B08B3/08 , B08B7/0021 , B08B2203/007 , H01L21/67017 , H01L21/67034 , H01L21/67103 , H01L21/6719 , H01L21/67248 , H01L21/67253 , H01L21/68742 , H01L21/6875 , H01L21/67207
Abstract: 一种基板处理装置,包括:腔室,提供处理基板的空间;第一基板支撑件,在腔室内并且构造为当基板装载到腔室中时支撑基板;第二基板支撑件,在腔室内并且构造为以比第一基板支撑件支撑基板的高度更大的高度支撑基板;第一供应端口,超临界流体通过第一供应端口被供应到腔室空间的在基板下方的第一空间;第二供应端口,超临界流体通过第二供应端口被供应到腔室空间的在基板上方的第二空间;以及排放端口,超临界流体通过排放端口从腔室排出。
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公开(公告)号:CN110060942B
公开(公告)日:2023-06-27
申请号:CN201811608953.0
申请日:2014-03-12
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/67 , H01L21/677 , H01L21/687
Abstract: 本公开提供了基板处理装置、基板处理系统以及处理基板的方法。该基板处理系统可以包括构造为用超临界流体处理基板的处理装置以及构造为提供超临界流体到处理装置的供给装置。处理装置可以包括超临界工艺区和预超临界工艺区,在该超临界工艺区中基板用超临界流体处理,在预超临界工艺区中超临界流体膨胀然后被提供到超临界工艺区中以在超临界工艺区中产生超临界状态。
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公开(公告)号:CN104051299A
公开(公告)日:2014-09-17
申请号:CN201410090605.4
申请日:2014-03-12
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/67
CPC classification number: H01L21/67126 , H01L21/67751 , H01L21/68785
Abstract: 本发明提供了基板处理装置、基板处理系统以及处理基板的方法。该基板处理系统可以包括构造为用超临界流体处理基板的处理装置以及构造为提供超临界流体到处理装置的供给装置。处理装置可以包括超临界工艺区和预超临界工艺区,在该超临界工艺区中基板用超临界流体处理,在预超临界工艺区中超临界流体膨胀然后被提供到超临界工艺区中以在超临界工艺区中产生超临界状态。
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公开(公告)号:CN108257893B
公开(公告)日:2022-10-21
申请号:CN201711470648.5
申请日:2017-12-29
IPC: H01L21/67
Abstract: 一种基板处理装置,包括:腔室,提供处理基板的空间;第一基板支撑件,在腔室内并且构造为当基板装载到腔室中时支撑基板;第二基板支撑件,在腔室内并且构造为以比第一基板支撑件支撑基板的高度更大的高度支撑基板;第一供应端口,超临界流体通过第一供应端口被供应到腔室空间的在基板下方的第一空间;第二供应端口,超临界流体通过第二供应端口被供应到腔室空间的在基板上方的第二空间;以及排放端口,超临界流体通过排放端口从腔室排出。
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公开(公告)号:CN110060942A
公开(公告)日:2019-07-26
申请号:CN201811608953.0
申请日:2014-03-12
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/67 , H01L21/677 , H01L21/687
Abstract: 本公开提供了基板处理装置、基板处理系统以及处理基板的方法。该基板处理系统可以包括构造为用超临界流体处理基板的处理装置以及构造为提供超临界流体到处理装置的供给装置。处理装置可以包括超临界工艺区和预超临界工艺区,在该超临界工艺区中基板用超临界流体处理,在预超临界工艺区中超临界流体膨胀然后被提供到超临界工艺区中以在超临界工艺区中产生超临界状态。
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