基板处理系统和基板处理方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116529026A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202180077965.9

    申请日:2021-11-15

    Abstract: 是对第一基板与第二基板接合而成的重合基板进行处理的基板处理系统,所述基板处理系统具备:加工装置,其对所述第一基板进行磨削;第一厚度测定装置,其测定由所述加工装置进行磨削前的所述第一基板的厚度和包括该第一基板的所述重合基板的整体厚度;以及第二厚度测定装置,其测定由所述加工装置进行磨削后的所述第一基板的厚度。

    基板处理装置和基板处理方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118284954A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202280076635.2

    申请日:2022-11-08

    Abstract: 本公开的一个方式的基板处理装置具备处理单元(40)、测定单元(60)以及控制部(31)。处理单元(40)一边保持在一对基板彼此之间形成有能量吸收层(E)的重叠基板(T)中的一个基板,一边对能量吸收层(E)施加热能和光能中的至少一方来剥离另一个基板。测定单元(60)测定处理单元(40)中的另一个基板的位移。控制部(31)控制各部。另外,控制部(31)基于另一个基板的位移来判定另一个基板是否被剥离了。

    剥离系统和剥离方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116215053A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202211452062.7

    申请日:2022-11-21

    Abstract: 本公开涉及一种剥离系统和剥离方法,实现一系列的剥离处理的高效化。基于本公开的一个方式的剥离系统具备载置部、去除装置以及搬送装置。载置部用于载置能够收容第一基板与第二基板隔着分离层接合而成的重合基板的第一盒、能够收容第一基板的第二盒以及能够收容第二基板的第三盒。去除装置用于对重合基板照射激光来去除分离层。搬送装置进行将重合基板搬送到去除装置的处理、以及将从重合基板分离出的第一基板及第二基板搬送到载置部的处理。

    厚度测定装置和厚度测定方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116018497A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202180054442.2

    申请日:2021-08-27

    Abstract: 一种测定基板的厚度的厚度测定装置,具备:基板保持部,其保持所述基板的中央部;测定部,其测定被所述基板保持部保持的所述基板的厚度;以及移动机构,其使所述基板保持部和所述测定部相对地沿水平方向移动,其中,在所述基板保持部形成有切口部,所述切口部从该基板保持部的中心部沿径向延伸到外端部,以供所述测定部自如地相对进退。

    基板处理方法和基板处理装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118471881A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410386348.2

    申请日:2018-08-02

    Abstract: 本发明提供一种基板处理方法和基板处理装置。该基板处理方法具有:加工工序,自基板的与粘贴有保护带的第1主表面相反的一侧的第2主表面侧对所述基板进行加工;输送工序,将能够利用吸附力进行吸附的支承件安装于在所述加工工序中进行了加工的所述基板并进行输送;装配工序,借助粘接带将所述基板自所述第2主表面侧安装于框架;以及保护带剥离工序,从在所述装配工序中安装于所述框架的所述基板剥离所述保护带,该基板处理方法具有紫外线照射工序,在所述保护带剥离工序之前,对在所述基板的所述第1主表面粘贴的所述保护带照射紫外线,在所述紫外线照射工序中,利用在所述基板的所述第2主表面安装的所述支承件支承所述基板。

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